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    上海禹重實(shí)業(yè)有限公司


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    JXA-8530F Plus 場(chǎng)發(fā)射EPMA

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    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    2003年日本電子推出了世界商業(yè)化場(chǎng)發(fā)射電子探針（FE-EPMA），此后被**地應用于金屬、材料、地質(zhì)等各個(gè)領(lǐng)域，并獲得了的贊譽(yù)。**研發(fā)的第三代場(chǎng)發(fā)射電子探針JXA-8530F Plus，電子光學(xué)系統有了很大的改進(jìn)，新的軟件能提供更高的通量，并保持著(zhù)的穩定性，能實(shí)現更**的EPMA應用。

    詳細介紹

    2003年日本電子推出了世界商業(yè)化場(chǎng)發(fā)射電子探針（FE-EPMA），此后被**地應用于金屬、材料、地質(zhì)等各個(gè)領(lǐng)域，并獲得了的贊譽(yù)。**研發(fā)的第三代場(chǎng)發(fā)射電子探針JXA-8530F Plus，電子光學(xué)系統有了很大的改進(jìn)，新的軟件能提供更高的通量，并保持著(zhù)的穩定性，能實(shí)現更**的EPMA應用。

    性能特點(diǎn)

    肖特基場(chǎng)發(fā)射電子探針Plus

    JXA-8530F Plus采用浸沒(méi)式肖特基場(chǎng)發(fā)射電子*,優(yōu)化了角電流密度，能利用2 μA以上的大探針電流進(jìn)行分析，還提高了分析條件下的二次電子像的分辨率。
    高級軟件

    新開(kāi)發(fā)了多種基于Windows操作系統的軟件，其中包括：能使痕量元素分析更加簡(jiǎn)便的“痕量元素分析程序"、能自動(dòng)制作相圖的“相圖制作器"以及只需簡(jiǎn)單輸入就能對表面凹凸不平樣品進(jìn)行測試的“不平坦樣品的分析程序"等。
    靈活的WDS配置

    X射線(xiàn)波譜儀可以選擇140 R或100 R羅蘭圓， 羅蘭圓半徑為140 mm的XCE/L型X射線(xiàn)譜儀檢測范圍寬，波長(cháng)分辨率高和P/ B比優(yōu)異，100 mm的H型X射線(xiàn)譜儀具有X射線(xiàn)衍射強度高的特點(diǎn)，可以根據需要選擇使用。
    WDS/EDS組合系統

    JXA-8530FPlus標配了JEOL制造的30平方毫米 SD檢測器（以下簡(jiǎn)稱(chēng)SD檢測器），憑借高計數率的SD檢測器，在與WDS相同的分析條件下可以進(jìn)行EDS分析，通過(guò)簡(jiǎn)單的操作就能采集EDS譜圖。
    強力、清潔的真空系統

    **力真空系統包括兩臺磁懸浮渦輪分子泵， 鏡筒內還采用兩個(gè)中間室，通過(guò)差動(dòng)抽氣保持電子*室的高真空。
    軟X射線(xiàn)分析譜儀 (SXES)

    SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer)軟X射線(xiàn)分析譜儀是日本東北大學(xué)多元物質(zhì)科學(xué)研究所（寺內正己教授）和日本電子株式會(huì )社共同開(kāi)發(fā)的的高分辨率軟X射線(xiàn)分析譜儀。 新開(kāi)發(fā)的變柵距衍射光柵(VLS）和高靈敏度的CCD相機組合，同時(shí)檢測Li-K系譜線(xiàn)和B-K系譜線(xiàn)，該譜儀實(shí)現了的能量分辨率，因而能進(jìn)行化學(xué)結合狀態(tài)分析等。
    miXcroscopy （關(guān)聯(lián)顯微鏡)

    miXcroscopy 光學(xué)顯微鏡/掃描電子顯微鏡關(guān)聯(lián)系統能批量登錄光學(xué)顯微鏡的坐標數據作為EPMA的分析點(diǎn)，該系統*適合于需要用光學(xué)顯微鏡決定分析位置的樣品。
    多功能樣品室

    樣品室的可擴展性強，配備了樣品交換室，可以安裝各種附件。
    可以安裝的附件：

    電子背散射衍射系統（EBSD）
    陰極熒光檢測系統
    軟X射線(xiàn)分析譜儀
    不暴露在大氣環(huán)境下的轉移艙
    高蝕刻速率的離子源

    應用領(lǐng)域

    電子探針可以對試樣中微小區域（微米級）的化學(xué)組成進(jìn)行定性或定量分析，可以進(jìn)行點(diǎn)、線(xiàn)掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。還能全自動(dòng)進(jìn)行批量定量分析。由于電子探針技術(shù)具有操作迅速簡(jiǎn)便、實(shí)驗結果的解釋直截了當、分析過(guò)程不損壞樣品、測量準確度較高等優(yōu)點(diǎn)，在冶金、地質(zhì)、電子材料、生物、醫學(xué)、考古以及其它領(lǐng)域中得到日益**地應用，是礦物測試分析和樣品成分分析的重要工具。


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