上海禹重實(shí)業(yè)有限公司
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Dimension FastScan原子力顯微鏡
為滿(mǎn)足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求,Bruker開(kāi)發(fā)了這套快速掃描系統,不降低分辨力,不增加設備復雜性,不影響儀器操作成本的前提下,幫助用戶(hù)實(shí)現了利Dimension快速掃描系統,即時(shí)快速得到**辨高質(zhì)量AFM圖像的愿望。當您對樣品進(jìn)行掃描時(shí),無(wú)論設置實(shí)驗參數為掃描速度> 125Hz,還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像,都能得到優(yōu)異的**辨圖像??焖賿呙柽@一變革性的技術(shù)創(chuàng )新重新定義了AFM儀器的操作和功能。
性能特點(diǎn)
AFM**性能
Dimension FastScan AFM **的分辨率,與Bruker的電子掃描計算方法相結合,提供給用戶(hù)**提升的測量速度與質(zhì)量。Dimension Icon是我們工業(yè)**的針尖掃描技術(shù)的**革新,配置了溫度補償位置傳感器,展現出Z軸亞埃級范圍和XY軸埃級范圍的噪音水平,這個(gè)驚人的性能出現在大樣品臺,34微米和90微米的掃描范圍的系統上,尤勝**辨率原子力顯微鏡的開(kāi)環(huán)噪音水平。XYZ閉環(huán)掃描頭的新設計也能展現較高掃描速度,而不損壞圖像質(zhì)量,實(shí)現更大的數據采集輸出量。Icon 掃描管比當今市場(chǎng)上任何一款大樣品臺AFM具有更低的噪音水平和更高的精確度。這種革新與新的掃描和下針算法相結合,即使是在難測量的樣品上也能得到更高的圖像保真效果。
杰出的生產(chǎn)力
使用Dimension系列原子力顯微鏡發(fā)表的文章遠比其他大樣品臺原子力顯微鏡要多。在科研和工業(yè)生產(chǎn)的過(guò)程研究中已成為一個(gè)標志性的符號。FastScan把此平臺引入了更**的新水平,展現出更高的性能和更快地獲得測量結果。其軟件的直觀(guān)工作流程,使其操作過(guò)程比以往***的AFM技術(shù)更加簡(jiǎn)便??梢允钩鯇W(xué)者在操作中,同樣得到專(zhuān)家級的圖像。Dimension FastScan用戶(hù)可以立即獲得高質(zhì)量的結果,而無(wú)需像以前一樣通常需要幾小時(shí)的專(zhuān)業(yè)調整。Dimension FastScan的每個(gè)方面—從開(kāi)放式針尖樣品空間,到預存軟件參數設置—都經(jīng)過(guò)特殊設計以求達到無(wú)障礙操作和驚人的AFM操作簡(jiǎn)易性。每分鐘低于200pm的熱漂移速率,全新的直觀(guān)用戶(hù)界面,世界聞名的Dimension AFM平臺,三者結合提供了的AFM儀器性能,保證您在*短時(shí)間內得到測試結果并發(fā)表出版。
世界上*靈活的平臺
Dimension FastScan 展現出的的性能,堅固性和靈活度,使得這臺儀器實(shí)現了以前只有在特制的系統中才能完成的所有測量。利用開(kāi)放式平臺,大型多元樣品支架和許多簡(jiǎn)單易用的性能,將AFM強大的功能展現在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前,為高質(zhì)量AFM 成像和納米研究設定了新的標準。Dimension 系列原子力顯微鏡在不斷演變提升,以迎合您不斷增長(cháng)的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力學(xué)、電學(xué)和電化學(xué)附件。
出眾的性能滿(mǎn)足各種應用需求
Dimension FastScan可同時(shí)高速捕捉多個(gè)通道的數據,獲得更多通道的高質(zhì)量數據。結合我們Bruker的很多AFM技術(shù),模式和模式增強功能,Dimension FastScan以其的性能優(yōu)勢,幫助您完成更高水平的納米研究。
材料成像
FastScan在使用ICON的掃描管的情況下支持Bruker的PeakForce QNMTM成像模式,在使用快速掃描掃描
管的情況下可進(jìn)行納米力學(xué)成像。使用FastScan技術(shù),**減少了研究者獲得**辨率形貌和納米力學(xué)圖譜的時(shí)間。
納米操縱
可實(shí)現在納米和分子級別的納米操縱和刻蝕。FastScan的XYZ閉環(huán)掃描器解決了掃描管的蠕變效應,**提高了操縱的精確度。同時(shí)**噪音的精密探針的準確定位,適用于任何納米操作系統。
加熱和冷卻
在以各種AFM 模式掃描的同時(shí)可實(shí)現-35℃到250℃的溫度的精確控制和熱分析。另外還可使用熱探針對低于100nm的局部加熱到500℃。
電學(xué)表征
使用的模式,可以在更高的靈敏度和更大的動(dòng)態(tài)范圍上實(shí)現電學(xué)表征。PeakForce TUNA™和PeakForce SSRM提供了的電學(xué)表征方法,同時(shí)還可以與樣品上的力學(xué)屬性相聯(lián)系。
利用*短時(shí)間獲得高質(zhì)量可發(fā)表數據結果
無(wú)論是作為科研交流還是發(fā)表科學(xué)文章,Dimension FastScan可比以前快幾十倍至上百倍獲得專(zhuān)業(yè)精確的數據測量和高質(zhì)量AFM圖片。真正的快速掃描AFM系統使您能夠運用簡(jiǎn)易方法對大量數據進(jìn)行快速準確的處理分析。
樣品篩選
利用AFM系統獲取大量樣品信,進(jìn)行樣品常規篩選。無(wú)論是材料生產(chǎn)中進(jìn)行失效分析或納米級的質(zhì)量控制,及時(shí)的產(chǎn)品信息反饋是的產(chǎn)品質(zhì)量控制過(guò)程。納米表征面臨提高表征速度的挑戰時(shí),高**度成為條件。在獲取藥物配方的過(guò)程中需要大量的數據對其中的非晶藥物成分進(jìn)行篩選,這可能成為FastScan的一個(gè)新用途。
動(dòng)態(tài)應用范例
另一種常見(jiàn)的應用是觀(guān)察一個(gè)納米級物體在外部條件變化或受刺激的情況下,隨著(zhù)時(shí)間產(chǎn)生變化的過(guò)程。無(wú)論是在空氣中還是在液體中,對納米尺度的動(dòng)態(tài)變化觀(guān)察都是研究?jì)r(jià)值的。Dimesion FastScan為這種實(shí)驗提供了極為便利的條件。
應用領(lǐng)域
AFM可適用于各種的物品,如金屬材料、**子聚合物、生物細胞等,并可以操作在大氣、真空、電性及液相等環(huán)境,進(jìn)行不同物性分析,所以AFM**的特點(diǎn)是其在空氣中或液體環(huán)境中都可以操作,因此,AFM在生物材料、晶體生長(cháng)、作用力的研究等方面有**的應用。
原子力顯微鏡研究對象可以是有機固體、聚合物以及生物大分子等,樣品的載體選擇范圍很大,包括云母片、玻璃片、石墨、拋光硅片、二氧化硅和某些生物膜等。
研究生物醫學(xué)樣品和生物大分子的重要工具之一。AFM應用主要包括三個(gè)方面:生物細胞的表面形態(tài)觀(guān)測;生物大分子的結構及其他性質(zhì)的觀(guān)測研究;生物分子之間力譜曲線(xiàn)的觀(guān)測。
AFM還可對原子和分子進(jìn)行操縱、修飾和加工,并設計和創(chuàng )造出新的結構和物質(zhì)。
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