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    上海禹重實(shí)業(yè)有限公司


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    ESCALAB XI+ X 射線(xiàn)光電子能譜儀

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    更新時(shí)間：2023-11-28 16:23:37瀏覽次數：204次

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    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    Thermo Fisher Scientific ESCALAB Xi+是**研發(fā)出的一款基于ESCALAB 250Xi產(chǎn)品后，具有可擴展功能、多種分析技術(shù)集成化的測試手段。該產(chǎn)品通過(guò)的靈活性、完備的專(zhuān)業(yè)配置選項、直觀(guān)的軟件操作以及硬件配置，帶給用戶(hù)的是*****的的實(shí)驗結果和生產(chǎn)力。強大的Avantage數據系統提供系統控制、數據采集、數據處理與系統運行報告等一站式服務(wù)。

    詳細介紹

    Thermo Fisher Scientific ESCALAB Xi+是**研發(fā)出的一款基于ESCALAB 250Xi產(chǎn)品后，具有可擴展功能、多種分析技術(shù)集成化的測試手段。該產(chǎn)品通過(guò)的靈活性、完備的專(zhuān)業(yè)配置選項、直觀(guān)的軟件操作以及硬件配置，帶給用戶(hù)的是*****的的實(shí)驗結果和生產(chǎn)力。強大的Avantage數據系統提供系統控制、數據采集、數據處理與系統運行報告等一站式服務(wù)。
    入圍**新品獲獎理由：
    ***的成像探測器設計，用于定量XPI成像： 電子倍增器和電阻陽(yáng)極探測器的雙探測器設計，可實(shí)現高性能的XPS采譜和高空間分辨的XPS成像的需求?？臻g連續的電阻陽(yáng)極探測器創(chuàng )新技術(shù)，一方面使得XPI成像分辨率達1um，另一方面使得XPI成像得到數據無(wú)探測器背底特征，無(wú)需背底校正，直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像結果。 可選配的EDS探測器，實(shí)現體相分析技術(shù)和表面分析技術(shù)的結合： 新設計Xi+系統可選配EDS探測器與俄歇電子*結合，可實(shí)現樣品納米尺度的體相微區元素成分分析，EDS可探測微米深度的元素組成，可以用于材料深度剖析前的元素組成預判。體相敏感的EDS技術(shù)和XPS表面分析技術(shù)的結合可更直觀(guān)地用于研究合金等的表面偏析行為。 標配的反射電子能量損失譜REELS分析技術(shù)，用于彌補UPS能帶分析和XPS元素分析： REELS可以探測材料的能級和帶隙結果，并可用于材料中H元素含量的定量。與UPS技術(shù)結合可了解完整的價(jià)帶導帶信息，并彌補XPS、AES等技術(shù)不能檢測H元素含量的缺陷 發(fā)展的系列基于Xi+的成熟準原位樣品處理、制備、反應系統: 基于Xi+，設計的一系列成熟的ALD、MBE樣品制備系統，高溫高壓催化還原反應系統和樣品退火系統，滿(mǎn)足不同的科研項目需求。

    性能特點(diǎn)

    配備為提供** XPS 性能而設計的單色化X射線(xiàn)源，確保ESCALAB Xi+ X 射線(xiàn)光電子能譜儀 (XPS) 微探針有**的樣品測試通量。多技術(shù)能力、一系列靈活的樣品制備室及樣品處理設備，使該儀器在解決任何表面分析問(wèn)題時(shí)都能游刃有余。利用*的 Avantage 數據采集和處理系統，從測試數據中挖掘盡可能多的信息。

    ESCALAB Xi+ X 射線(xiàn)光電子能譜儀 (XPS) 微探針的特點(diǎn)：

    高靈敏度能譜
    小面積 XPS
    深度剖析能力
    角分辨 XPS
    標配離子散射能譜 (ISS)功能
    標配反射電子能量損失譜 (REELS)功能
    標配“樣品預處理"室
    多技術(shù)分析的多功能性
    多個(gè)樣品制備技術(shù)可選
    全自動(dòng)無(wú)人值守式分析
    多樣品分析
    單色化X射線(xiàn)源

    雙晶體微聚焦單色器配備一個(gè) 500 mm 直徑的羅蘭圓，使用鋁陽(yáng)極靶
    樣品 X 射線(xiàn)光斑尺寸可選擇范圍為 200 至 900 μm
    透鏡、分析儀和檢測器

    透鏡/分析器/檢測器一體化使 ESCALAB 250Xi XPS 能譜儀同時(shí)具備成像和小面積 XPS 分析能力的性
    兩種類(lèi)型的檢測器可以確保為每種分析提供**檢測——二維檢測器用于成像，基于通道電子倍增器的檢測器則用于需要檢測高計數率的能譜分析
    透鏡配備了兩種電腦控制的光闌組件，一套視場(chǎng)光闌用于控制低至 <20 μm 的分析區域，適用于小面積分析；另一套光闌則用于控制透鏡的接收角，對于高質(zhì)量角分辨 XPS 至關(guān)重要
    180° 半球型能量分析器
    深度剖析

    數控式 EX06 離子*是一款高性能的離子源，哪怕在使用低能離子源時(shí)也有著(zhù)很好的性能
    提供方位角樣品旋轉
    多技術(shù)能力

    可配備其他分析技術(shù)而不降低 XPS 檢測性能
    使用 EX06 離子*時(shí)透鏡組和能量分析儀的電源可反向（確保離子散射能譜 (ISS) 可用）
    電子*可加壓升至 1000 V，為 REELS 提供優(yōu)異的離子源
    技術(shù)選項

    非單色化 X 射線(xiàn)光源的XPS分析
    AES（俄歇電子能譜）
    UPS（紫外光電子能譜）
    真空系統

    5 mm 厚高導磁?金屬分析室，****提高磁屏蔽效率
    與使用內部或外部屏蔽的方法相比，屏蔽效能更佳
    樣品制備

    系統標配一體化的快速進(jìn)樣室和制備室
    額外的制備室可選
    Avantage 數據系統

    集成了測試分析的所有方面，包括儀器控制、數據采集、數據處理和報告生成
    允許遠程控制，并且可輕松與第三方軟件交互（例如 Microsoft Word）
    管理從樣品載入到報告導出的整個(gè)分析過(guò)程

    應用領(lǐng)域

    催化
    化工
    半導體
    微電子
    薄膜
    太陽(yáng)能
    金屬
    納米材料
    玻璃
    高分子
    生物材料


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