北京中瑞先創(chuàng )科技有限公司
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更新時(shí)間：2023-12-16 16:07:50瀏覽次數：71次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)MicroTEQ-A1顯微光譜測量系統，集成熒光、共焦拉曼測量功能*
MicroTEQ-A1顯微光譜測量系統，集成熒光、共焦拉曼測量功能*。通過(guò)把光譜測量模塊集成到正置或倒置顯微鏡上，實(shí)現顯微熒光、共焦拉曼和其他光譜信息的測量。系統由光譜儀、激光器、顯微鏡、光譜測試模塊等部分構成。
*注：使用光纖代替共聚焦系統內的小孔（Pinhole）。
應用范圍
法學(xué)：筆跡鑒定、檢測等
定制顯微鏡
MicroTEQ-A1 系統可以適配不同品牌和種類(lèi)的顯微鏡，客戶(hù)可根據需求自行挑選。同時(shí)，由于應用領(lǐng)域的多樣性，客戶(hù)對系統性能的側重點(diǎn)各不相同，該系統對此提供定制服務(wù)，滿(mǎn)足客戶(hù)的不同需求。
系統參數
型號 | MicroTEQ-A1 | ||
光譜儀配置 | 拉曼 | 拉曼 | 熒光 |
光譜儀 | QEPRO@532 nm | QEPRO@785 nm | QEPRO-FL |
光譜范圍 | 150-4200 cm-1@532 nm | 150-2000 cm-1@785 nm | 300-1050 nm |
分辨率 | ~10 cm-1@5 um狹縫 | ~6 cm-1@5 um狹縫 | 1.5 nm@5 um狹縫 |
探測器 | 背照減薄型面陣CCD | ||
激光器 | 單縱模激光，可選用光纖外接其他激光器 | ||
功率 | 50 mW | ||
波長(cháng) | 532 nm | ||
光束發(fā)散 | 1.3 mrad | ||
顯微光譜測量模塊 | 400-1100 nm | ||
模塊輸出能量 | 25 mW | ||
手動(dòng)衰減切換 | 50%, 10%, 1%, 0.1% | ||
光斑尺寸 | 10x NA0.25 物鏡下 <=10> | ||
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