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    顯微光譜測量系統MicroTeq-R1

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    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    MicroTEQ-R1顯微光譜測量系統，采用高精度微區光路平臺，通過(guò)加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊，實(shí)現了共焦拉曼*測量功能

    詳細介紹

    MicroTEQ-R1 顯微光譜測量系統，采用高精度微區光路平臺，通過(guò)加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊，實(shí)現了共焦拉曼*測量功能。幫助用戶(hù)快速的對樣品微觀(guān)結構，光譜信息進(jìn)行測試和分析，大大的降低了微觀(guān)測試的復雜程度。系統使用制冷型高性能光纖光譜儀QEPro，在提供高質(zhì)量信號質(zhì)量的同時(shí)，保證了測試效率。精密光路設計能夠實(shí)現1um*級別的聚焦光斑和探測區域，系統可增配低波數模塊，實(shí)現75cm-1的探測范圍。


    *注: 使用光纖代替共聚焦系統內的小孔(Pinhole)；1um光斑需加配100X物鏡。


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