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    行業(yè)產(chǎn)品

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    無(wú)錫泰瑞達儀器科技有限公司


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    EDXRF能量色散X射線(xiàn)熒光光譜分析儀

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    產(chǎn)品型號

    品       牌

    廠(chǎng)商性質(zhì)其他

    所  在  地無(wú)錫市

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    更新時(shí)間：2023-12-29 14:14:47瀏覽次數：133次

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    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    產(chǎn)品概述能量色散X熒光光譜分析儀體積小、穩定性好、分析快速準確、運行成本低、操作維護方便、是控制產(chǎn)品質(zhì)量的理想選擇

    詳細介紹



    產(chǎn)品概述

    能量色散X熒光光譜分析儀體積小、穩定性好、分析快速準確、運行成本低、操作維護方便、是控制產(chǎn)品質(zhì)量的理想選擇?？蓽y定鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、鉻Cr、溴Br等元素。硅半導體探測器，通過(guò)智能激發(fā)和檢測設計實(shí)現高靈敏度，用戶(hù)可自定義多曲線(xiàn)多光譜擬和分析方法，適用于不同的應用場(chǎng)合。

    Item

    內容描述

    儀器型號

    EDXRF

    分析原理

    能量色散X射線(xiàn)熒光分析法

    分析元素范圍

    Na(11)-U(92)任意元素

    檢出下限

    Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm

    樣品形狀

    大小不限，不規則形狀

    樣品類(lèi)型

    塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等

    X射線(xiàn)管

    靶材

    鉬（Mo）靶

    管電壓

    5─50KV

    管電流

    1─1000ｕA

    樣品照射直徑

    2、5、8mm

    探測器

    美國進(jìn)口Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統

    高壓發(fā)生器

    美國SPELLMAN高壓發(fā)生器

    前置放大器

    美國進(jìn)口前置放大器，與美國進(jìn)口探測器兼容性好

    主放大器

    美國進(jìn)口主放大器，與美國進(jìn)口探測器兼容性好

    AD轉換模塊

    美國進(jìn)口A(yíng)D轉換模塊，與美國進(jìn)口探測器兼容性好

    ADC

    2048道

    濾光片

    6種濾光片自動(dòng)選擇并自動(dòng)轉換

    樣品觀(guān)察

    130萬(wàn)彩色CCD攝像機

    分析軟件

    軟件產(chǎn)品 BX-V26版本，升級

    分析方法

    理論alpha系數法、基本參數法、經(jīng)驗系數法

    操作系統軟件

    WINDOWS XP（正版）

    數據處理系統

    主機

    PC商務(wù)機型

    CPU

    P4 3.0

    內存

    512MB

    光驅

    8xDVD

    硬盤(pán)

    80G

    顯示器

    17寸液晶顯示器

    工作環(huán)境

    溫度10－35С，濕度30－70％RH

    重量

    60Kg（主機部分）

    外形尺寸

    550（W）×450(D)×450(H)mm

    外部供電電源要求

    AC220±10%、50/60Hz

    測定條件

    大氣環(huán)境

    測試樣品時(shí)間

    100－300秒可調

    環(huán)境溫度

    10℃-28℃

    環(huán)境濕度

    ≤70 ％RH(25℃室溫)

    應用領(lǐng)域

    EDXRF能量色散X射線(xiàn)熒光光譜分析儀應用于石化產(chǎn)品，塑料和聚合物，食品和化妝品，環(huán)境，礦石，醫藥，建筑材料，中心實(shí)驗室成品檢驗，金屬材料等。

    工作原理

    采用的是X射線(xiàn)熒光分析原理，受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì )放射出二次X射線(xiàn)，并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(cháng)特性。探測系統測量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。

    儀器結構

    融合經(jīng)驗系數法、基本參數法（FP法）等分析方法，測試數據的準確性能得到全面保證。

    經(jīng)驗系數法：儀器依據對標準樣品的測定，確定影響系數。對標準樣品要求高，需和待測樣品類(lèi)型相近，校正模型簡(jiǎn)單。

    基本參數法（FP法）：儀器根據實(shí)際檢測物質(zhì)，通過(guò)對多種物理量建模計算確定參數。對標準樣品要求不高，計算較復雜，適合缺少對應標樣的物質(zhì)檢測。

    軟件功能

    1

    元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%

    2

    采用BG內標校正，提高非定性式樣測量精度

    3

    用戶(hù)自定義多曲線(xiàn)多光譜擬和分析方法

    4

    全自動(dòng)定量分析報告 簡(jiǎn)捷準確

    5

    自適應初試化校正

    6

    光譜的自動(dòng)獲取和顯示。

    7

    具有自動(dòng)檢測儀器工作狀態(tài)的功能。

    8

    自動(dòng)判別樣品及自動(dòng)分析。提供擴展接口，進(jìn)一步作其他元素分析，從鈣到鈾元素。

    進(jìn)口硬件 

    1

    美國進(jìn)口Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統

    2

    美國SPELLMAN高壓發(fā)生器

    3

    美國進(jìn)口前置放大器，與美國進(jìn)口探測器兼容性好

    4

    美國進(jìn)口主放大器，與美國進(jìn)口探測器兼容性好

    5

    美國進(jìn)口A(yíng)D轉換模塊，與美國進(jìn)口探測器兼容性好

     



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