廣州儀云科技有限公司
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| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號SparkCCD 7000
品 牌
廠(chǎng)商性質(zhì)其他
所 在 地廣州市
紡織服裝機械網(wǎng)采購部電話(huà)：0571-88918531
QQ:2568841715
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更新時(shí)間：2023-12-29 14:51:39瀏覽次數：105次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)SparkCCD 7000 全譜火花直讀光譜儀采用高分辨率線(xiàn)陣CCD（Charge-coupled Device）作為檢測器，實(shí)現全譜掃描?？蓮V泛應用于冶金、鑄造、機械、鋼鐵和有色金屬等行業(yè)，在汽車(chē)制造、航空航天、船舶、機電設備、工程機械、電子電工、教育、科研等領(lǐng)域的原材料、零件、產(chǎn)品工藝研發(fā)方面都有廣泛的應用?？捎糜?Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、 Sn、Mn 等金屬及其
SparkCCD 7000 全譜火花直讀光譜儀采用高分辨率 線(xiàn) 陣 CCD（Charge-coupled Device） 作 為 檢 測 器， 實(shí)現全譜掃描。采用智能控制光室充氣系統，儀器性能更穩定，服務(wù)期限更長(cháng)久。海量的譜線(xiàn)使分析不再受限，曲線(xiàn)分段跳轉同一元素不同譜線(xiàn)間實(shí)現無(wú)縫銜接，拓展分析范圍，第三元素干擾校正使元素分析更加準確，可在用戶(hù)現場(chǎng)任意增加分析基體和分析元素而無(wú)需增加硬件，維護保養簡(jiǎn)單方便。能量、頻率連續可調全數字固態(tài)光源，適用于各種不同材料；網(wǎng)口采集傳輸，速度快，通用性更強。
SparkCCD 7000 可廣泛應用于冶金、鑄造、機械、鋼鐵和有色金屬等行業(yè)，在汽車(chē)制造、航空航天、船舶、機電設備、工程機械、電子電工、教育、科研等領(lǐng)域的原材料、零件、產(chǎn)品工藝研發(fā)方面都有廣泛的應用?？捎糜?Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、 Sn、Mn 等金屬及其合金的樣品分析。
儀器特點(diǎn)：
全固態(tài)數字火花光源
? 全固態(tài)數字火花光源（國家技術(shù) 號 ZL 2010 1 0118150.4）
? 能量、頻率連續可調 頻率可達 1000Hz
? MTBF（平均間相隔時(shí)間）＞ 5000 小時(shí)
同軸自旋式氣路激發(fā)臺
? 自旋氣路
? 增壓式自吹掃 激發(fā)充分
? 千次激發(fā)無(wú)需清理
恒溫系統
? 硅膠加熱片，加熱均勻、穩定
? 高精度溫控系統，溫度控制精度 ±0.1℃ 多重保溫措施，隔絕環(huán)境溫度影響，保證光學(xué)系統穩定
采集系統
? 網(wǎng)口傳輸方式，數據傳輸穩定、可靠
? 多線(xiàn)程數據采集，采集速度快、頻率高
自保護透鏡隔離閥
? 便于維護 消除誤操作引起的光學(xué)系統污染
高速智能校正
? 單次激發(fā)即可校正全譜
? 自動(dòng)校準像素漂移，保證光學(xué)系統穩定性
第三元素干擾
? 自動(dòng)扣除元素間加合、倍增干擾，分析結果更加精準
曲線(xiàn)分段跳轉
? 元素含量高低曲線(xiàn)分段，自動(dòng)匹配，分析范圍廣
? 未知樣品自動(dòng)匹配分析程序
分析軟件
? 簡(jiǎn)潔清新、功能強大 多語(yǔ)言版本（中、英、俄、德） 智能冶煉配料計算
? 牌號識別
? 支持碳當量等自動(dòng)計算功能
儀器參數：
檢測器靈敏度行業(yè)
? 高分辨率 CCD 檢測器
? 像素數：3648+46 全行業(yè) 像素尺寸： 8μm 全行業(yè)最小
? 精薄鍍膜，紫外波段檢出限更低，可做低含量 N
萬(wàn)級超凈環(huán)境下打造光學(xué)系統
? 帕邢 - 龍格結構羅蘭光學(xué)系統，無(wú)像差，分辨率均勻
? 高發(fā)光全息光柵，光柵焦距 500mm, 刻線(xiàn)為 2700 條 /mm，全行業(yè) 線(xiàn)分辨率 0.7407nm/mm
? 像素分辨率 0.005926nm
? 譜線(xiàn)范圍：130-800nm（可分析 N、Li、 Na、K 等元素）
智能控制系統，再啟動(dòng)耗時(shí)行業(yè)
? 潮汐式?jīng)_洗方式，冷機啟動(dòng)只需 30min，熱機啟動(dòng)時(shí)間 5min
? 智能判斷分析間隔時(shí)間，合理補充氬氣，降低氬氣消耗
? 60ml/min 超低待機流量，一瓶氬氣 24 小時(shí)待機 70 天
分片式曝光，痕量元素識別強度大幅提高，檢出限更低
? 一次激發(fā)，分片曝光，同時(shí)采集，同時(shí)回數
? 獨立控制不同 CCD 的積分曝光時(shí)間 提升痕量元素的強度，降低儀器的 檢出限
? 隨波段調節積分時(shí)間，提升儀器的 穩定性
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