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    HORIBA DUETTA熒光-吸收光譜儀

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    所在地區：四川成都市

    聯(lián)系人：陳經(jīng)理

    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    Duetta可作為熒光光譜儀使用，也可以作為UV-Vis-NIR光譜儀測量吸光度，或用于測量真正的分子指紋，這需要同步獲取熒光和吸光度，同時(shí)進(jìn)行內濾效應校正

    詳細介紹

    Duetta 可作為熒光光譜儀使用，也可以作為UV-Vis-NIR 光譜儀測量吸光度，或用于測量真正的分子指紋，這需要同步獲取熒光和吸光度，同時(shí)進(jìn)行內濾效應校正。同步吸收- 熒光光譜儀Duetta 標配超快******的CCD 技術(shù)，讓它在采集速度的數倍, Duetta 標配超快******的CCD 技術(shù)，讓它在采集速度的數倍優(yōu)于任何使用PMT 的熒光光譜儀。Duetta 是******一款能在100 毫秒內獲得250nm-1100nm 校正光譜信息的一體式熒光光譜儀。這一******的CCD 技術(shù)也將近紅外檢測光譜范圍擴展到1100 nm，遠超過(guò)標準PMT 熒光儀的光譜范圍

    • UV-Vis-NIR 熒光檢測波長(cháng)范圍250 nm-1100 nm
    • 一秒內獲取三維熒光全譜
    • 超高熒光靈敏度，水拉曼RMS 6000:1
    • 自動(dòng)校準主次內濾效應
    • 的A-TEEM TM 指紋熒光技術(shù)，高保真識別分子指紋
    • CCD 檢測器實(shí)現毫秒內完成整個(gè)熒光光譜采集
    Duetta 的兩個(gè)獨立檢測器，可同時(shí)采集熒光和透射光路的吸光度數據                   實(shí)時(shí)內濾效應校正的熒光光譜 技術(shù)指標


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