X熒光光譜分析儀iEDX-150WT（鍍層測厚儀）
詳情介紹
一、產(chǎn)品概述
產(chǎn)品類(lèi)型： X熒光光譜儀
產(chǎn)品名稱(chēng)： 鍍層測厚儀 (可選配鍍液檢測，RoHS檢測，合金分析功能）
型 號： iEDX-150WT
生 產(chǎn) 商： 韓國ISP公司
二、產(chǎn)品優(yōu)勢
1. 鍍層檢測，最多鍍層檢測可達5層。
2. 對于薄鍍層分析精確，可以精確的分析小于1uin(0.025um）的鍍層，可以準確分析0.2-0.5uin的金層。
3. 可同時(shí)進(jìn)行選配RoHS檢測功能，精確的測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測試無(wú)鹵素指令中的溴、氯等有害元素。
4. 可同時(shí)進(jìn)行選配鍍液藥水分析功能，一分鐘即可分析出藥水內金，鎳，銅等藥水含量，分析精度為0.01ppm，
5. 可同時(shí)進(jìn)行選配合金成分分析功能。
6. 開(kāi)槽式超大可移動(dòng)全自動(dòng)樣品平臺610*525 (長(cháng)*寬)，樣品移動(dòng)距離可達112*2X5mm(長(cháng)*寬*高) ；專(zhuān)為線(xiàn)路板行業(yè)研制。
7. 激光定位，可以連續自動(dòng)多點(diǎn)程控測量；
8. 可以選配多準直器系統，單準直器/6個(gè)準直器/7個(gè)準直器。
9. 可檢測固體、液體、粉末狀態(tài)材料；
10. 運行及維護成本低、無(wú)易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低；
11. 可進(jìn)行未知標樣掃描、無(wú)標樣定性，半定量分析；
12. 操作簡(jiǎn)單、易學(xué)易懂、高品質(zhì)、高性能、高穩定性，快速出檢測結果（20-40秒）；
13. 標配德國AmptekSI-Pin 探測器，選配高精度硅漂移SDD探測器，保證測試精度。
14. 軟件支持無(wú)標樣分析。
15. 相對于傳統鍍層，開(kāi)機不需要預熱，可以可以測量，測量后可以直接關(guān)機，節約用電，減少關(guān)鍵部件（X射線(xiàn)管，高壓等）消耗，并減少了等待時(shí)間。
三、產(chǎn)品配置及技術(shù)指標說(shuō)明
| | 標配 | 選配 |
| X射線(xiàn)管 | 高穩定性X光管，使用壽命長(cháng)（工作時(shí)間>15,000小時(shí)）。 MO (鉬)靶，鈹窗口， 光斑尺寸75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。 50kV，1mA，高壓和電流設定為應用程序提供性能。 | 高穩定性微焦點(diǎn)X光管，使用壽命（工作時(shí)間>15,000小時(shí)）。 MO (鉬)靶，鈹窗口， 光斑尺寸50um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。 50kV，1mA，高壓和電流設定為應用程序提供性能。 |
| 平臺 | 固定平臺 | 軟件程序控制步進(jìn)式電機驅動(dòng)X(jué)-Y軸移動(dòng)大樣品平臺。激光定位、簡(jiǎn)易荷載負載量為5公斤，控制程序進(jìn)行持續性自動(dòng)測量。 平臺尺寸：610*525mm (長(cháng)*寬*高) 樣品移動(dòng)距離：112*2 X5 mm(X*Y*Z) |
| 準直器 | 單準直器系統 0.2/0.3MM選1個(gè) | 0.05/0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm共7種準直器規格可選,客戶(hù)可最多選7種準直器尺寸，可定制特殊尺寸準直器。 |
| 探測器 | 半導體Si-PIN 探測器，分辨率159eV， | 高分辨率硅漂移SDD探測器，分辨率可達到125eV. |
| 濾光片 | 初級濾光片：Al濾光片，自動(dòng)切換 | / |
| 樣品定位 | 顯示樣品鎖定、簡(jiǎn)易荷載、激光定位及拍照功能 | / |
| 視頻系統 | 高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統。 觀(guān)察范圍：3mm x 3mm。 放大倍數：40X。 | / |
| 附件 | 含計算機、顯示器、打印機、鍵盤(pán)、鼠標 | / |
| 軟件 | 標配Multi-Ray鍍層分析軟件 | 1、選配ROHS分析軟件 2、選配合金分析軟件 3、選配藥水分析軟件 |
| 檢測元素范圍 | Al (13) ~ U(92) | / |
| 分析樣品類(lèi)型 | 液體/固體/粉末 | / |
四、iEDX-150WT型號光譜儀軟件功能
1) 軟件應用
- 單鍍層測量
- 線(xiàn)性層測量，如：薄膜測量
- 雙鍍層測量
- 針對合金可同時(shí)進(jìn)行鍍層厚度和元素分析
- 三鍍層測量。
- 無(wú)電鍍鎳測量
- 電鍍溶液測量
- 吸收模式的應用 DIN50987.1/ ISO3497-A2
- 勵磁模式的應用DIN50987.1/ ISO3497-A1
- 基本參數法可以滿(mǎn)足所有應用領(lǐng)域的測量
2) 軟件標定
- 自動(dòng)標定曲線(xiàn)進(jìn)行多層分析
- 使用無(wú)標樣基本參數計算方法
- 使用標樣進(jìn)行多點(diǎn)重復標定
- 標定曲線(xiàn)顯示參數及自動(dòng)調整功能
3) 軟件校正功能：
- 基點(diǎn)校正（基線(xiàn)本底校正）
- 多材料基點(diǎn)校正，如：不銹鋼，黃銅，青銅等
- 密度校正
4) 軟件測量功能：
- 快速開(kāi)始測量
- 快速測量過(guò)程
- 自動(dòng)測量條件設定（光管電流，濾光片，ROI）
5) 自動(dòng)測量功能（軟件平臺）
- 同模式重復功能（可實(shí)現多點(diǎn)自動(dòng)檢測）
- 確認測量位置 (具有圖形顯示功能)
- 測量開(kāi)始點(diǎn)設定功能（每個(gè)文件中存儲原始數據）
- 測量開(kāi)始點(diǎn)存儲功能、打印數據
- 旋轉校正功能
- TSP應用
- 行掃描及格柵功能
6) 光譜測量功能
- 定性分析功能 （KLM 標記方法）
- 每個(gè)能量/通道元素ROI光標
- 光譜文件下載、刪除、保存、比較功能
- 光譜比較顯示功能：兩級顯示/疊加顯示/減法
- 標度擴充、縮小功能（強度、能量）
7） 數據處理功能
- 監測統計值： 平均值、 標準偏差、 值。
- 最小值、測量范圍，N 編號、 Cp、 Cpk，
- 獨立曲線(xiàn)顯示測量結果。
- 自動(dòng)優(yōu)化曲線(xiàn)數值、數據控件
8）其他功能
- 系統自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境
- 獨立操作控制平臺
- 視頻參數調整
- 儀器使用單根USB數據總線(xiàn)與外設連接
- Multi-Ray、Smart-Ray自動(dòng)輸出檢測報告（HTML，Excel）
- 屏幕捕獲顯示監視器、樣本圖片、曲線(xiàn)等.......
- 數據庫檢查程序
- 鍍層厚度測量程序保護。
9） 儀器維修和調整功能
- 自動(dòng)校準功能；
- 優(yōu)化系統取決儀器條件和操作室環(huán)境；
- 自動(dòng)校準過(guò)程中值增加、偏置量、強度、探測器分辨率，迭代法取決于峰位置、 CPS、主X射線(xiàn)強度、輸入電壓、操作環(huán)境。
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