IONTOF 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜TOFSIMS M6型 返回列表頁(yè)

產(chǎn)品介紹

全新 M6 — — 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）科技

M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基礎上開(kāi)發(fā)的新一代飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）儀器，對一次離子源（LMIG）和質(zhì)量分析器（TOF Analyser）進(jìn)行了突破性的改進(jìn)。

此外，在硬件方面還增加了 MS/MS 功能選項，重新設計了加熱和冷卻系統；在軟件方面新增了多元統計分析（MVSA）軟件包。其設計保證了 SIMS 應用在所有領(lǐng)域的性能。

新的突破性離子束和質(zhì)量分析器技術(shù)使 M6 成為二次離子質(zhì)譜（SIMS）儀器中的耀眼光芒、工業(yè)和學(xué)術(shù)研究的理想工具。

全新 M6 具有以下突出優(yōu)勢：

1      新型 Nanoprobe 50 具有高橫向分辨率 (< 50="">

2      質(zhì)量分辨率 > 30,000

3      的延遲提取模式可同時(shí)實(shí)現高傳輸，高橫向質(zhì)量

4      廣域的動(dòng)態(tài)范圍和檢測限

5      用于闡明分子結構具有 CID 片段功能的 TOF MS/MS

6      智能的 SurfaceLab 7 軟件，包括集成的多元統計分析 (MVSA) 軟件包

7      新型靈活按鈕式閉環(huán)樣品加熱和冷卻系統，可長(cháng)期無(wú)人值守運行