北京培科創(chuàng )新技術(shù)有限公司
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產(chǎn)品型號
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廠(chǎng)商性質(zhì)其他
所 在 地北京市
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更新時(shí)間：2024-02-20 19:15:51瀏覽次數：112次
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小型輕量及高密度封裝測試利器
面對電子產(chǎn)品越來(lái)越小型輕量及高密度封裝，因結露吸濕等因素造成的絕緣不良現象暨離子遷移現象日益突出，絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統配之以高溫高濕試驗箱聯(lián)動(dòng)，可高精度連續監測，高效簡(jiǎn)便評估因離子遷移現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。
適用標準：JPCA-ET04、IPC-TM-650_2.6.3F 、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A 、IPC-TM-650_2.6.3.6。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
高精準測量
自主開(kāi)發(fā)連續通電掃描繼電器方式，配備國際標準的測量?jì)x表，與環(huán)境試驗箱聯(lián)動(dòng)，操作更簡(jiǎn)便更安全。
應力電壓范圍廣泛
標配100V應力電壓（應力電壓/測量電壓），更有300V、500V高電壓規格備選。
連續通電掃描方式
ESPEC掃描動(dòng)作技術(shù)，切換掃描時(shí)不發(fā)生無(wú)電壓狀態(tài)，測量電壓與偏置電壓均使用同一電壓源控制，可準確控制電壓。
漏電流檢測功能
高速準確捕捉離子遷移現象發(fā)生的細微變化，離子遷移實(shí)時(shí)監測。
專(zhuān)用統計軟件
「E-Graph」可實(shí)時(shí)編輯預覽監測實(shí)時(shí)獲得的數據。
專(zhuān)用連接樣件夾具
選配可使連接樣品及線(xiàn)纜更方便，試驗效率更高。
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