北京培科創(chuàng )新技術(shù)有限公司
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更新時(shí)間：2024-02-20 20:08:05瀏覽次數：180次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)-300nm-1050nm范圍內具有單分子級檢測能力。-寬范圍時(shí)間壽命測量能力：標準100ps-100ms，頻域技術(shù)可低至10皮秒-熒光強度和壽命成像可同時(shí)獲得（空間分辨率可達衍射極限低至250nm）
特點(diǎn)
-300nm-1050nm范圍內具有單分子級檢測能力。
-寬范圍時(shí)間壽命測量能力：標準100ps-100ms，頻域技術(shù)可低至10皮秒
-熒光強度和壽命成像可同時(shí)獲得（空間分辨率可達衍射極限低至250nm）
-光學(xué)切面3D掃描，分辨率低至50nm
-掃描樣品區域可至100×100mm
-集成軟件（64bit），具有系統控制，數據采集和分析能力
-集成設計，具有靈活定制化能力，滿(mǎn)足客戶(hù)不同研究領(lǐng)域的靈活配置，提升研究效率
應用
-材料科學(xué)研究
-半導體材料表征
-太陽(yáng)能電池材料
-晶體材料
-其他光致發(fā)光材料
PL1創(chuàng )新性設計
PL1是一種操作簡(jiǎn)便高度集成的激光共焦掃描熒光成像設備，能限度的為客戶(hù)提供高效穩定的使用時(shí)間，便捷的測試能力。PL1提供高靈敏度檢測能力，是一種理想的材料科學(xué)單分子測量?jì)x器，易于操作。
常規測量能力
強度和熒光壽命成像
-光致發(fā)光共焦強度成像
-光致發(fā)光共焦壽命成像，XYZ和T多維度，具有掃描和單點(diǎn)模式
FFS熒光變動(dòng)光譜
-熒光相關(guān)光譜（FCS)
-光子計數直方圖（PCH）
-熒光壽命相關(guān)光譜（FLCS）
單分子成像
-Burst分析
-單分子FRET熒光共振能量轉移分析
應用案例
量子點(diǎn)
Figure 1Phasor plots相量圖可獨立區分基體涂層量子點(diǎn)熒光壽命種類(lèi)，直接從原始數據獲得。激發(fā)波長(cháng)470nm，發(fā)射波長(cháng)499-632nm（熒光），475/35nm（反射），掃描區域17.5μm×17.5μm。（Courtesy of Wenjie Liu and Dr.Yaowu Hu;Purdue University;West Lafayette，IN;USA)
鈣鈦礦表征
Figure 2鈣鈦礦高空間分辨率共焦熒光壽命成像及光致發(fā)光（熒光）強度。ISS VistaVisiontion提供最小化數據擬合算法和相矢量圖壽命分析；如，使用多圖相圖常規分析方法，不同鈣鈦礦樣品的熒光壽命可以通過(guò)鑒定原始數據相矢量圖立即獲?。o(wú)需數據擬合），使得熒光壽命分析更簡(jiǎn)便和準確。激發(fā)波長(cháng)488nm；發(fā)射光譜通過(guò)635nm長(cháng)通濾波器；掃描區域：20μm×20μm。
納米粒子熒光上轉換
Figure 3上轉換納米粒子共焦壽命成像，包含高空間分辨率光致發(fā)光強度和壽命。激發(fā)波長(cháng)980nm，發(fā)射波長(cháng)509-552nm。掃描區域20μm×20μm
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