相對于便攜式XRF,有更多的元素可以分析。元素氫(H)到鈉(Na)可通過(guò)Z進(jìn)行測量,但不能由便攜式XRF測定。這包括像碳,鋰,鈹,硼,鈉和其他關(guān)鍵元素。相比于便攜式XRF,由于該技術(shù)的光學(xué)性質(zhì),Z在低得多的檢測下限可測量鎂,硅,鋁等元素。
一、特性
1、分析元素周期表中從 H 到 U 的所有元素,內置 SciAps 的高分辨率光譜議。
2、可選氬氣凈化技術(shù): 專(zhuān)用于分析波長(cháng)小于 200nm 的元素,如 C 元素;可降低所有元素的檢測下限。
3、源光源:1532nm 5mJ 激光 激光安全等級:1 級(與投影用激光筆屬同一安全和等級)對眼睛不會(huì )產(chǎn)生危害 .
4、1 秒出測試結果
5、兩維可調節自動(dòng)對焦激光束,激光束直徑 50uM ,自動(dòng)求和并計算平均值
6、內置高清照相機及視頻成像系統,支持圖片文件保存樣品測試結果,選擇與查看精確聚焦激光測試點(diǎn),精確定位特定測試的檢測點(diǎn) ,Google 驅動(dòng)!內置安卓應用平臺,操作簡(jiǎn)單, 一看就會(huì );其無(wú)線(xiàn), 藍牙,GPS 功能可與任何安卓系統設備如手機,平板同步信息,結實(shí)耐用!與手持 XRF 相比,擺脫了對易損的硅 Pin 或硅漂移探測器的依賴(lài)
7、在元素分析及材料類(lèi)型分析領(lǐng)域, 激光誘導擊穿光譜(LIBS)分析儀提供一種能取代手持 X 射線(xiàn)熒光光譜儀及火花直讀光譜儀的技術(shù)。與光學(xué)火花發(fā)射光譜(OES)技術(shù)類(lèi)似,在LIBZ 分析過(guò)程中, 高強度激光光斑(等離子體)在分析材料表面形成。 待離子體冷卻后不同元素的特征光譜被LIBZ 捕捉到。不同長(cháng)度的特征光代表了不同的元素, 特定特征光的強度代表了特定元素的含量。

SciAps 很高興地向大家介紹Z 分析儀。Z 分析儀是一款采用 LIBZ 技術(shù)的手持式分析儀, 其分析元素周期中低原子序號元素的能力可以與便攜式光學(xué)火花發(fā)射光譜儀媲美, 同時(shí)又有手持式X射線(xiàn)分析儀一樣的便攜性。Z分析儀的主要特點(diǎn):
a) 激光源安全等級一級,操作時(shí)無(wú)需佩帶
b) 高分辨率感光元件
c) 極低的檢測下限
總結:
Z分析儀是一款手持LIBS分析儀。Z 分析儀不但擁有手持式 X 射線(xiàn)分析儀分析過(guò)渡元素和重金屬元素的分析性能,而且擁有分析元素周期表中低原子序號元素和鋁合金的性能,且所有Z分析儀都不受X射線(xiàn)裝置的相關(guān)法律管制。
