無(wú)錫凱派克斯科技有限公司
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更新時(shí)間：2024-04-24 11:06:04瀏覽次數：163次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)Quanta™250FEG真正的高分辨、多用途掃描電鏡研究各種各樣的材料，并進(jìn)行結構和成份表征，是目前對掃描電鏡的主流應用要求
Quanta™ 250 FEG
真正的高分辨、多用途掃描電鏡
研究各種各樣的材料，并進(jìn)行結構和成份表征，是目前對掃描電鏡的主流應用要求。 FEI Quanta™ FEG系列靈活、通用，足以應對當今人們廣博的研究方向這一挑戰。“分析任何樣品，得到所有數據"，在Quanta FEG上可得到表面像和成份像，并可輔以多種附件來(lái)確定材料的性質(zhì)和元素組成。
當今人們利用掃描電鏡研究的材料早已超出單純的金屬和經(jīng)導電處理過(guò)的樣品。 Quanta 50 FEG系列對任何樣品都可得到高質(zhì)量的圖像和分析結果。無(wú)論是對現今的或是將來(lái)的應用領(lǐng)域， FEI的Quanta 50FEG系列都是一個(gè)的、靈活的解決方案。其特點(diǎn)是，具有高真空、低真空和ESEM環(huán)境真空三種真空模式，適合分析泛的樣品范圍，從傳統的金屬材料、斷口和拋光斷面，到不導電的軟物質(zhì)。
Quanta 50 FEG系列是基于前兩代成功的肖特基場(chǎng)發(fā)射環(huán)境掃描技術(shù)開(kāi)發(fā)的第三代Quanta系列產(chǎn)品。這一系列產(chǎn)品用戶(hù)界面使用起來(lái)十分方便、靈活，有多種功能****程度地發(fā)揮其使用效率，并且允許采集所有需要的數據。它是電鏡專(zhuān)家設計來(lái)給電鏡專(zhuān)家使用的儀器，性能遠不止“簡(jiǎn)便易用"。這些功能有：的圖像導航功能包括蒙太奇圖像導航、鼠標雙擊樣品臺移動(dòng)、鼠標拖曳放大居中功能以及其它標準的特色技術(shù)； SmartSCAN™，一種智能掃描技術(shù)，能降低信號噪音，提供更好的數據；電子束減速模式，一個(gè)新的選項，將鎢燈絲掃描電鏡的低加速電壓性能提高到一個(gè)全新的水平；Nav-Cam™彩色圖像導航器及新開(kāi)發(fā)的探測器也大大增加了其靈
主要優(yōu)點(diǎn)
? 世界上****具有環(huán)境掃描技術(shù)的高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
? 在各種操作模式下分析導電和不導電樣品，得到二次電子像和背散射電子像
? ****程度降低樣品制備要求:低真空/環(huán)境真空技術(shù)使得不導電樣品和/或含水樣品不經(jīng)導電處理即可直接成像和分析，樣品表面無(wú)電荷累積現象
? 的“穿過(guò)透鏡"的壓差真空系統，對導電和不導電樣品都可進(jìn)行EDS/EBSD分析，不管是在高真空模式或在低真空模式。穩定的大束流(**** 200 nA)確保能譜及EBSD分析工作的快速、準確
? 電鏡可作為一個(gè)微觀(guān)實(shí)驗室。安裝特殊的原位樣品臺后，在從- 165 °C到1500 °C溫度范圍內，對多種樣品保持其原始狀態(tài)下進(jìn)行動(dòng)態(tài)原位分析
? 對導電樣品，可選用減速模式得到表面和成份信息
? 直觀(guān)、簡(jiǎn)便易用的軟件，即使電鏡新手也能
典型應用:
納米表征
? 金屬及合金, 氧化/腐蝕, 斷口, 焊點(diǎn), 拋光斷面, 磁性及超導材料
? 陶瓷, 復合材料, 塑料
? 薄膜/涂層地質(zhì)樣品斷面, 礦物
? 軟物質(zhì): 聚合物, 藥品, 過(guò)濾膜, 凝膠, 生物組織, 木材
? 顆粒, 多孔材料, 纖維
原位過(guò)程分析
? 增濕/去濕
? 浸潤行為/接觸角分析
? 氧化/腐蝕
? 拉伸 (伴隨加熱或冷卻)
? 結晶/相變
納米原型制備
? 電子束曝光 (EBL)
? 電子束誘導沉積(EBID)
主要參數
電子光學(xué)
? 高分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍
? 優(yōu)化的高亮度、大束流鏡筒
? 45°錐度物鏡極靴，及“穿過(guò)透鏡"的壓差真空系統，加熱式
物鏡光闌
? 加速電壓: 200 V - 30 kV
? 束流: ****200 nA并連續可調
? 放大倍數: 14 x – 1,000,000 x (四幅圖像顯示)
分辨率
? 高真空
– 30 kV下0.8 nm (STEM)*
– 30 kV下1.0 nm (SE)
– 30 kV下2.5 nm (BSE)*
– 1 kV下3.0 nm (SE)
? 高真空下減速模式*
– 1 kV下3.0 nm (BSE)*
– 1 kV下2.3 nm (ICD)*
– 200 V下3.1 nm (ICD)*
? 低真空
– 30 kV下1.4 nm (SE)
– 30 kV下 2.5 nm (BSE)
– 3 kV下3.0 nm (SE)
? 環(huán)境真空 (ESEM)
– 30 kV下1.4 nm (SE)
檢測器
? E-T二次電子探頭
? 大視場(chǎng)低真空氣體二次電子探頭 (LFD)
? 氣體二次電子探頭 (GSED)
? 樣品室紅外CCD相機
? 高靈敏度、低電壓固體背散射探頭*
? 氣體背散射探頭*
? 四分固體背散射探頭*
? 閃爍體型背散射探頭/CLD*
? vCD (低電壓、高襯度探頭)*
? 鏡筒內探頭(ICD)，用于減速模式下二次電子檢測*
? 電子束流檢測器*
? 分析型氣體背散射探頭 (GAD)*
? STEM探頭*
? Nav-Cam™– 光學(xué)相機彩色成像，用于樣品導航*
? 陰極熒光探測器*
? 能譜*
? 波譜*
? EBSD*
真空系統
? 1個(gè) 250 l/s 渦輪分子泵, 2個(gè)機械泵
? 的“穿過(guò)透鏡"的壓差真空系統
? 電子束在氣體區域的行程： 10 mm或2 mm
? 可升級成無(wú)油機械泵
? 2個(gè)離子泵
? 樣品室真空度 (高真空模式) <>6e-4 Pa
? 樣品室真空度(低真空模式) <>10 to 130 Pa
? 樣品室真空度(環(huán)境真空模式) <>10 to 4000 Pa
? 典型換樣時(shí)間: 高真空模式≤ 150秒；低真空及環(huán)境真空模式≤ 270秒 (FEI標準測試程序)
樣品室
? 左右內徑284 mm
? 10 mm分析工作距離
? 8個(gè)探測器 / 附件接口
? EDS采集角: 35°
樣品臺
? X/Y = 50 mm
? Z = 50 mm (其中馬達驅動(dòng)25 mm)
? 手動(dòng)傾斜： - 15° to + 75°
? 連續旋轉360°
? 重復精度: 2 μm (X/Y方向)
?
樣品座
? 多樣品座
? 單樣品座
? 通用樣品座套件*
? 適用于硅片或其它特殊要求的樣品座*
圖像處理器
? ****6144 x 4096像素
? 圖像文件格式： TIFF(8,16 or 24 bit), BMP or JPEG
? 單窗口或四窗口圖像顯示
? 四活動(dòng)窗口
? 實(shí)時(shí)或靜態(tài)按彩色或按灰度等級信號混合
? 256 幀平均或積分
? 數字動(dòng)畫(huà)記錄 (.avi格式)
? 直方圖及圖像測量軟件
支持軟件
? SmartSCAN™ 智能掃描技術(shù)
? 蒙太奇圖像導航
? 軟件溫度控制
? FEI動(dòng)畫(huà)生成工具
系統選項
? 減速模式
? 多功能控制板
? 支持計算機 (包括第二個(gè)24寸液晶顯示器)
? 軟件控制的Peltier冷臺
? 軟件控制的WetTSTEM™
? 軟件控制的1000 °C熱臺
? 軟件控制的1500 °C熱臺
? 游戲操縱桿
? 樣品電流探測
? 遠程控制
? 視頻打印機
? 樣品座套件
? 機械泵隔音罩
? 7針或52針電氣接口
? 靜電電子束束閘
? 波譜儀接口
? 更換成無(wú)油機械泵套件
通用第三方附件
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