南通菲希爾測試儀器有限公司
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更新時(shí)間:2024-04-28 10:38:36瀏覽次數:93次
聯(lián)系我時(shí),請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)特點(diǎn)根據DINISO3497和ASTMB568標準進(jìn)行金屬和貴金屬分析,鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用X射線(xiàn)熒光光譜儀半導體檢測器(PIN和SDD)確保出色的檢測精度和高分辨率XAN250和252:用于測量鋁,硅或硫之類(lèi)的輕元素
和XUL系列一樣,FISCHERSCOPE®X射線(xiàn)XAN®儀器非常適合分析簡(jiǎn)單形狀的樣品。然而,XAN系列的一大優(yōu)勢在于其高質(zhì)量的半導體探測器。X射線(xiàn)熒光不僅可以測量鍍層的厚度,還可以分析合金(例如銅)的成分。
XAN系列總共包括5款臺式XRF光譜儀,涵蓋廣泛的應用范圍。XAN215具有經(jīng)濟高效的PIN檢測器。非常適合簡(jiǎn)單的鍍層厚度任務(wù),例如鐵上的鋅層或Au/Ni/Cu。對于更復雜的合金或貴金屬應用,我們建議使用帶有硅漂移檢測器SDD的設備(例如XAN220):由于其分辨率更高,可以可靠地區分金和鉑。當您需要檢測痕量重金屬和其他有害物質(zhì)時(shí),XAN250是您的理想選擇。
在 XAN 220, XAN 222, XAN 250和XAN 252上,您現在可以更高精度和更快速度完成測量。與,這些儀器都配備了由Fischer自主研發(fā)的數字脈沖處理器DPP+。通過(guò)將新處理器與同樣新獲得的擁有更大有效面積(50 mm2)的硅漂移探測器相結合,可獲得并處理更多的信號,同時(shí)還能保證的能量分辨率。因此,您的收益是:最多可縮短2/3的測量時(shí)間,或者減少標準偏差達45%。
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