原子力顯微鏡FM-Nainoview 6800AFM
一、功能特點(diǎn)
1. 光機電一體化設計，外形結構簡(jiǎn)單； 2. 掃描探頭和樣品臺集成一體，抗干擾能力強； 3. 精密激光檢測及探針定位裝置，光斑調節簡(jiǎn)單，操作方便； 4. 采用樣品趨近探針?lè )绞?，使針尖垂直于樣品掃描?/p> 5. 伺服馬達手動(dòng)或自動(dòng)脈沖控制，驅動(dòng)樣品垂直接近探針，實(shí)現掃描區域精確定位； 6. 高精度大范圍的樣品移動(dòng)裝置，可自由移動(dòng)感興趣的樣品掃描區域； 7. 高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據不同精度和掃描范圍要求選擇； 8. 采用伺服馬達控制CCD對焦和光學(xué)放大； 9. 模塊化的電子控制系統設計，便于電路的持續改進(jìn)與維護； 10. 集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統使用。
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二、友好的軟件
1. 可觀(guān)測樣品掃描時(shí)的表面形貌像、振幅像和相位像
2. 具備接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式
3. 多通道圖像同步采集顯示，實(shí)時(shí)查看剖面圖
4. 多種曲線(xiàn)力-間距（F-Z）、頻率-RMS（f-RMS)、RMS-間隙（RMS-Z)測量功能
5. 可進(jìn)行掃描區域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區域
6. 激光光斑檢測系統的實(shí)時(shí)調整功能
7. 針尖共振峰自動(dòng)和手動(dòng)搜索功能
8. 可任意定義掃描圖像的色板功能
9. 支持樣品傾斜線(xiàn)平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能
10. 支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動(dòng)校正
11. 支持樣品圖片離線(xiàn)分析與處理功能
三、技術(shù)規格
| 名 稱(chēng) | 參 數 | 名 稱(chēng) | 參 數 |
| 工作模式 | 接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力 | 掃描角度 | 任意 |
| 樣品尺寸 | Φ≤90mm，H≤20mm | 樣品移動(dòng)范圍 | 0～20mm |
| *大掃描范圍 | 橫向50um，縱向5um | 光學(xué)放大倍數 | 10X |
| 掃描分辨率 | 橫向0.2nm，縱向0.05nm | 光學(xué)分辨率 | 1um |
| 掃描速率 | 0.6Hz~4.34Hz | 圖像采樣點(diǎn) | 256×256，512×512 |
| 掃描控制 | XY采用18-bit D/A
Z采用16-bit D/A | 反饋方式 | DSP數字反饋 |
| 數據采樣 | 14-bit A/D、雙16-bit A/D
多路同步采樣 | 反饋采樣速率 | 64.0KHz |
| 儀器重量體積 | 40KG，700′480′450mm | 計算機接口 | USB2.0 |
| 運行環(huán)境 | 運行于WindowsXP/7/8操作系統
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