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    布魯克 ContourX-200/白光干涉儀

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    產(chǎn)品型號

    品       牌

    廠(chǎng)商性質(zhì)其他

    所  在  地廈門(mén)市

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    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    型號:ContourX-100、ContourX-200、ContourX-500、Contour GT等

    詳細介紹

    用途:白光干涉儀是一種新型的表面形貌測量設備，主要用于獲得材料表面的粗糙度、波紋度、翹曲度、自相關(guān)函數、承載曲線(xiàn)、輪廓線(xiàn)提取等三維特征參數。以及對材料表面形貌的三維測量，包括:水平尺寸、高度、面積、體積、缺陷深度、曲率半徑、傾斜角、柵線(xiàn)分析等。

    型號:ContourX-100、ContourX-200、

    ContourX-500、Contour GT等

    基本參數:

    ●垂直測量范圍:0.1 nm 至 10 mm

    ●垂直分辨率:<0.1 nm

    ●水平分辨率:0.5 um

    ●XY樣品臺尺寸:150 mm (6in.)

    ●樣品臺移動(dòng)范圍:150 mm (XY軸)/100 mm(Z軸)

    ●物鏡:2.5X、5X、10X、20X、50x、115X

    技術(shù)優(yōu)勢:

    ●設計LED雙光源設計(白光、綠光)

    ●PSI，VSI，USI測試模式，滿(mǎn)足絕大部分樣品測試需求

    ●的圖像拼接功能

    ●多種縫合模式

    ●一格的鏡頭調整水平設計

    ●TTM鏡頭:直接透過(guò)透明介質(zhì)測量介質(zhì)下面的產(chǎn)品形貌


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