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    TP200 / TP200B測頭本體

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    TP200采用微應變片傳感器，實(shí)現優(yōu)異的重復性和精確的三維形狀測量，即使配用長(cháng)測針時(shí)也不例外

    詳細介紹

    TP200采用微應變片傳感器，實(shí)現優(yōu)異的重復性和精確的三維形狀測量，即使配用長(cháng)測針時(shí)也不例外。

    傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問(wèn)題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。

    TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長(cháng)測針所引發(fā)的誤觸發(fā)問(wèn)題。

    請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。

    規格摘要

    		TP200TP200B

    主要應用

    用于要求高精度的數控坐標測量機。

    與TP200一樣，但當出現誤觸發(fā)事件時(shí)使用。

    感應方向

    六軸：±X、±Y、±Z

    六軸：±X、±Y、±Z

    單向重復精度 (2σ µm)

    電平觸發(fā)1：0.40 µm

    電平觸發(fā)2：0.50 µm

    電平觸發(fā)1：0.40 µm

    電平觸發(fā)2：0.50 µm

    XY (2D) 形狀測量偏差

    電平觸發(fā)1：±0.80 µm

    電平觸發(fā)2：±0.90 µm

    電平觸發(fā)1：±1 µm

    電平觸發(fā)2：±1.2 µm

    XYZ (3D) 形狀測量偏差

    電平觸發(fā)1：±1 µm

    電平觸發(fā)2：±1.40 µm

    電平觸發(fā)1：±2.50 µm

    電平觸發(fā)2：±4 µm

    測針交換的重復精度

    SCR200：±0.50 µm（）

    手動(dòng)：±1 µm（）

    SCR200：±0.50 µm（）

    手動(dòng)：±1 µm（）

    測力（測尖）

    XY平面（所有模塊）：0.02 N

    Z軸（所有模塊）：0.07 N

    XY平面（所有模塊）：0.02 N

    Z軸（所有模塊）：0.07 N

    過(guò)行程測力（位移為0.50 mm時(shí)）

    XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N

    XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N

    Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N

    Z軸（LF模塊）：1.60 N

    XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N

    XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N

    Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N

    Z軸（LF模塊）：1.60 N

    重量（測頭傳感器和模塊）

    22 g

    22 g

    最長(cháng)加長(cháng)桿（如配在PH10 PLUS系列測座上）

    300 mm

    300 mm

    推薦的測針長(cháng)度（M2測針系列）

    SF / EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF

    LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF

    SF / EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF

    LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF

    安裝方式

    M8螺紋

    M8螺紋

    適合的接口

    PI 200-3、UCC

    PI 200-3、UCC

    測針模塊交換架

    自動(dòng)：SCR200

    手動(dòng)：MSR1

    自動(dòng)：SCR200

    手動(dòng)：MSR1

    測針系列

    M2

    M2

    TP200測針模塊

    測針模塊通過(guò)高重復性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭過(guò)行程保護功能。

    有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的過(guò)行程測力。

    模塊

    		SF（標準測力）LF（低測力）EO（長(cháng)過(guò)行程）

    應用

    一般用途。

    小直徑測球或必須使用最小測力的場(chǎng)合。

    額外過(guò)行程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。

    說(shuō)明

    測針最長(cháng)可達100 mm，測球直徑 > 1 mm。

    測球直徑小于1 mm。

    與SF的過(guò)行程測力相同。

    測頭Z軸的額外過(guò)行程為8 mm。



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