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    行業(yè)產(chǎn)品

    • 行業(yè)產(chǎn)品

    東莞市力高大同自動(dòng)化設備有限公司


    NEW 阻抗分析儀ZA57630

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    參  考  價(jià)面議
    具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準

    產(chǎn)品型號ZA57630

    品       牌

    廠(chǎng)商性質(zhì)其他

    所  在  地東莞市

    紡織服裝機械網(wǎng)采購部電話(huà):0571-88918531QQ:2568841715

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    更新時(shí)間:2024-07-30 09:50:02瀏覽次數:43次

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    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    簡(jiǎn)  述: 從電子零件、半導體器件到材料的特性評價(jià),應對多樣的阻抗測量需求 ● 基本精度 ±0.08% ● 頻率范圍 10 µHz~36 MHz ● 阻抗范圍 10 µΩ~100 GΩ (模式: IMPD-EXT)

    詳細介紹

      特點(diǎn)

      結合用途配備豐富的功能!
      以DUT特性的設定,支持高重現性且準確的測量。
      準確的評價(jià)基于實(shí)際使用的操作條件。

      電子零件、電子材料可能因測量頻率及施加的信號級別而表現出不同的特性。電容器和電感器存在因寄生成分引發(fā)的頻率依賴(lài)性,二極管等半導體器件由于 DC 偏置疊加而產(chǎn)生特性變化。
      要評價(jià)真實(shí)的特性,重要的是頻率、AC 振幅和 DC 偏置的掃頻,在實(shí)際的操作條件下進(jìn)行測量。


      特點(diǎn)
      • 掃頻
      • 延遲功能
      • 標記操作
      • 測量條件等的設定
      • 自動(dòng)高密度掃頻
      • 順序測量
      • 量程
      • 誤差校正
      • 圖表顯示

      豐富的功能

      • 共振點(diǎn)跟蹤測量
      • 相對介電常數測量
      • 外部基準時(shí)鐘
      • 等效電路估算
      • 相對導磁率測量
      • 存儲器操作
      • 壓電常數計算
      • 比較器 / 處理器接口




      掃頻 頻率、AC 振幅、DC 偏置、零頻寬


      AC 振幅掃描
      AC amplitude sweep


      掃頻
      Frequency sweep


      DC 偏置掃頻
      DC bias sweep


      零頻寬

      不變更頻率、AC 振幅和 DC 偏置的參數,按恒定的條件進(jìn)行測量,觀(guān)察不同時(shí)間的特性變化(橫軸:時(shí)間)


      也能應對點(diǎn)測

      按恒定的頻率 /AC 振幅 /DC偏置進(jìn)行測量,以數值顯示測量結果。最多可以設定 6 個(gè)項目。
      與比較器功能組合,可以進(jìn)行篩選及判定是否合格。

      Also capable of spot measurements
      生產(chǎn)線(xiàn)內的測量






      測量條件等的設定

      在 1 個(gè)界面內直觀(guān)地進(jìn)行詳細設定


      設定項目(SETTING VIEW)
      Setting items (SETTING VIEW)


      設定圖表軸
      Graph axis setting


      設定頻率
      Frequency settings






      量程


      自動(dòng)量程

      監視測量結果,同時(shí)自動(dòng)設定最合適的量程進(jìn)行測量。
      檢測到超過(guò)量程的外部噪聲或直流分量時(shí),重新設定為更大的量程并重新測量。測量數據的變化大時(shí)啟用。


      固定量程

      量程固定,因此不會(huì )產(chǎn)生因量程變化引發(fā)的測量值不連續(段差)。





      延遲功能

      如果在掃描過(guò)程中變更了頻率、AC 振幅等掃描參數,則瞬態(tài)響應將導致測量結果出現誤差。參數變更后,可以延遲開(kāi)始測量的時(shí)間。延遲包括“延遲開(kāi)始測量"和“延遲測量",前者在開(kāi)始測量時(shí)延遲,后者在掃描過(guò)程中每次變更參數時(shí)延遲。






      自動(dòng)高密度掃頻

      在掃頻測量中,本功能限定在測量數據突變的區間自動(dòng)提高頻率密度進(jìn)行測量。
      在壓電振蕩器、晶體振蕩器等的共振特性測量中,本功能在相位急劇變化的共振附近的測量中啟用。






      誤差校正

      為進(jìn)行準確的評價(jià),需根據測量誤差因子進(jìn)行校正。


      為進(jìn)行準確的測量,需適當校正殘余阻抗、電纜長(cháng)度等各種測量誤差因子。


      開(kāi)路校正

      減少因殘余導納引起的誤差


      短路校正

      減少因殘余阻抗引起的誤差


      負載校正

      以具有已知值的試樣作為標準阻抗,校正與真值的偏差


      端口延長(cháng)

      使用長(cháng)電纜時(shí),校正因傳輸延遲時(shí)間而產(chǎn)生的相位誤差


      電位梯度消除

      消除測量信號所含的電位波動(dòng)波形的影響。在由于電池等的充放電會(huì )引起電位變化的試樣的測量中啟用


      補償

      預先測量連接到外部的傳感器、電纜等測量系統的頻率特性,校正測量系統的誤差成分


      輸入加權碼

      校正探頭的衰減量及前置放大器的增益


      自行校準

      校正自身誤差





      標記操作

      本功能用于讀取所顯示的圖表中 X、Y1、Y2 的測量值。
      最多可使用 8 個(gè)標記。


      Δ標記 顯示與基準標記(標記 1)的差異


      ΔTRKG 標記

      與Δ標記同樣顯示差異,移動(dòng)到標記 1 時(shí),保持恒定的掃描值差異,同時(shí)進(jìn)行移動(dòng)


      標記搜索功能

      可自動(dòng)搜索與設定條件一致的點(diǎn)

      Marker search function






      順序測量

      本功能預先設定多項所需的測量條件,按照該條件依次進(jìn)行測量。最多可將掃描范圍分割成 32 部分,各范圍內按照不同的測量條件進(jìn)行測量。
      可高效地測量因電壓值而使特性發(fā)生變化的多層陶瓷電容器(MLCC)、電感器及變壓器等器件。






      圖表顯示


      SINGLE 顯示 /SPLIT 顯示

      外觀(guān)尺寸

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