東莞市力高大同自動(dòng)化設備有限公司
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東莞市力高大同自動(dòng)化設備有限公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號LI5660/LI5655/LI5650/LI5645
品 牌
廠(chǎng)商性質(zhì)其他
所 在 地東莞市
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更新時(shí)間：2024-07-30 10:01:23瀏覽次數：71次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)簡(jiǎn) 述： LI5655系列配備功能，如同步 2頻率測量 (不包含 LI5645) 和分數諧波測量等新功能，可支持各種應用領(lǐng)域的高水平測量要求.
| 高速響應和高穩定度 |
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 | 時(shí)間常數 |  時(shí)間常數 |
| 最小時(shí)間常數為1 μs 的LI5660/LI5655 (LI5650/LI5645為5 μs). | ||
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| | 同步濾波 | |
| 這是一個(gè)整數周期移動(dòng)平均濾波器。由檢測引起的紋波大大降低，并且輸出幾乎是在平均間隔（整數周期），所以時(shí)間常數可以減少（以獲得更快的響應） | ||
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| | 即使低頻也可高速鎖定 | |
| 即使在低頻率，它只需要大約兩個(gè)周期，便可鎖定參考信號。此外，一個(gè)移動(dòng)的平均濾波器與信號周期同步獲得一個(gè)小的紋波的高速響應 . | ||
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| | 的動(dòng)態(tài)儲備 | |
| 相位檢測和隨后的數字處理。在高增益的輸出零點(diǎn)漂移少于模擬系統，可以得到高達100 dB的動(dòng)態(tài)儲備（測試可以執行多于靈敏度的100000次噪音，即滿(mǎn)量程信號）. | ||
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| 電壓測量可由單端完成（A）或差分（A-B）輸入，LI5660終端既有10 Vrms輸入（C）也有高頻（HF）輸入。HF輸入端可用于高達11MHz的測量. |
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| 測量可以在基礎波型因數的頻率因數（1至63）/（1至63）進(jìn)行. 提供基本波型次數倍頻率的測量。在LI5660/LI5655/LI5645雙頻測量模式，可設置PSD和第二次PSD的個(gè)體頻率。例如，PSD設置為N / M與參考信號的頻率，和二次PSD設置為N次類(lèi)似參考信號的頻率或設置為與主要頻率不同的頻率. |  分次諧波 |
| 諧波測量是由兩個(gè)測量頻率之間的整數倍 (f2 = (f1 x n) ). 在這種情況下, 在f1 端信號結果在一個(gè)積分多頻 (諧波)失真, 不能區分于f2信號. 如果是分數諧波測試, 測試可以以f2 = f1 x n/m 的關(guān)系式進(jìn)行, 這意味著(zhù)即使失真的諧波產(chǎn)生于f1, 頻率也可被設定以便不影響f2. f2 高靈敏度諧波測量是可行的，且不受 f1諧波影響. | |
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| LI5660/LI5655/LI5650 搭配2相位敏感檢波器 (PSD), 允許包括在一個(gè)單一輸入信號中的兩個(gè)頻率分量的同時(shí)測量. 以往需要使用兩臺鎖相放大器，使用雙子束方法只需一臺鎖相放大器. 可求出測定量與基準值之比的比例運算，以及主檢波器進(jìn)行與副檢波器的聯(lián)級，可在主檢波器對信號進(jìn)行檢波后，再用副檢波器進(jìn)行檢波. |  檢測模式 (Dual 1) | |||||||||||||||||||||
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| * LI5645的檢測模式僅為 "單一"模式. | ||||||||||||||||||||||
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| 使LI5600系列按通用的10 MHz頻率源于信號發(fā)生器等其他設備同步運行 (可設置) 無(wú)需使用外部參考信號(REF IN). |  外部10 MHz 參考信號輸入設置 |
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| | LI5660 |
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| : 請參閱規格. |
SPM (掃描探針顯微鏡)的信號處理
以 STM (掃描隧道顯微鏡) 和 AFM (原子力顯微鏡)為代表的掃描探針顯微鏡使用納米級的探針在樣本表面上掃描，檢測探針與樣本之間的信號.觀(guān)察樣本表面的電子狀態(tài)和結構，物理及化學(xué)性質(zhì)。
鎖相放大器用于控制樣本與探針的距離等.
如采用 LI5600系列，不僅支持 MHz 量程的高諧波頻率, 還可通過(guò)縮小時(shí)間常數 (從 1 μs)實(shí)現高速掃描，并可短時(shí)間內形成圖像.
另外，通過(guò)同步濾波器，大幅降低相位檢波輸出的波動(dòng)，不僅提高速度，還有助于實(shí)現高畫(huà)質(zhì).
除STM和ATM，鎖相放大器還應用于 KFM (表面電位顯微鏡)的調制信號解調等信號處理.
透光量的測量 (光源波動(dòng)的消除)
如并用雙頻同時(shí)測量和分數諧波測量的功能，則1臺 LI5660/ LI5655/LI5650就可進(jìn)行雙光束法(比例測量)的光源等的波動(dòng)校正.
通過(guò)基準單元的信號施加負反饋，還可實(shí)現光源強度的穩定化.
可設定參照信號的整數倍(n x), 整數分之一 (1/m x)，分數比 (n/m x) ，因此可靈活對應光調制的頻率比。另外，在整數比的情況下，與信號失真引起的諧波分量無(wú)法區別，而采用分數比就不受到諧波的影響.
并采用10 MHz同步功能與外部的信號發(fā)生器保持同步后，還可進(jìn)行采用任意2個(gè)頻率的檢測.
霍爾系數的測量 (差頻的測量)
霍爾電壓與2種信號(電流與磁場(chǎng))之積成正比,其頻率為2種信號之差 (或和)頻率.使產(chǎn)生電流和磁場(chǎng)的外部信號源 LI5600系列在外部 10 MHz下同步，針對任意不同的兩個(gè)頻率，即使沒(méi)有外部參照信號 (差頻)，也可進(jìn)行差頻信號的測量 (如使用雙通道輸出和頻率基準輸出的信號發(fā)生器等)
如果原有的頻率為整數*比,則還可利用分數諧波測量功能進(jìn)行差頻信號的測量。并且，都可以避免由于外部參照信號而造成的串擾.
其它應用
光譜（材料科學(xué)使用俄歇電子能譜，光聲光譜，拉曼光譜等）
測量光學(xué)性能（強度，吸收，散射，傳輸等）
光學(xué)應用測量（光學(xué)陀螺，距離檢測，速度，振動(dòng)等）
磁測量（評價(jià)磁性材料，振動(dòng)式磁力計，利用SQUID的磁檢測）
評價(jià)各種傳感器（測量的物理量的光學(xué)，磁，和壓電元件，化學(xué)變化等）
阻抗電橋的零點(diǎn)檢測
阻抗測量（分鐘阻抗，分鐘容量，化學(xué)阻抗）
薄膜材料的熱擴散系數測量
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