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    行業(yè)產(chǎn)品

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    蘇州胤煌精密儀器科技有限公司


    美國MAS粒度Zeta電位分析儀

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    廠(chǎng)商性質(zhì)其他

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    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    產(chǎn)品參數美國MAS粒度Zeta電位分析儀
    可以測試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導等

    詳細介紹

    產(chǎn)品參數

    美國MAS粒度Zeta電位分析儀
    可以測試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導等。
    對于高達60%(體積)濃度的樣品,也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品前處理,即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進(jìn)行測量。
    屬性
    產(chǎn)品名稱(chēng)
    型號
    廠(chǎng)商性質(zhì)
    訪(fǎng)問(wèn)量
    更新時(shí)間
    詳情
    美國MAS粒度Zeta電位分析儀
    ZetaAPS
    美國進(jìn)口
    5次
    2023-02-21

    產(chǎn)品詳情

    美國MAS粒度Zeta電位分析儀

    Zeta電位測量方法有哪些?

      Zeta電位又叫電動(dòng)電位或電動(dòng)電勢(ζ-電位或ζ-電勢),是指剪切面(Shear Plane)的電位,是表征膠體分散系穩定性的重要指標。


      由于分散粒子表面帶有電荷而吸引周?chē)姆刺栯x子,這些反號離子在兩相界面呈擴散狀態(tài)分布而形成擴散雙電層。根據Stern雙電層理論可將雙電層分為兩部分,即Stern層和擴散層。當分散粒子在外電場(chǎng)的作用下,穩定層與擴散層發(fā)生相對移動(dòng)時(shí)的滑動(dòng)面即是剪切面,該處對遠離界面的流體中的某點(diǎn)的電位稱(chēng)為Zeta電位或電動(dòng)電位(ζ-電位)。即Zeta電位是連續相與附著(zhù)在分散粒子上的流體穩定層之間的電勢差。它可以通過(guò)電動(dòng)現象直接測定。


    測量Zeta電位的方法主要有:

     

    電泳法-當電場(chǎng)施加于電解質(zhì)時(shí),懸浮在電解質(zhì)中的帶電粒子被吸引向相反電荷的電極,作用于粒子的粘性力傾向于對抗這種運動(dòng)。當這兩種對抗力達到平衡時(shí),粒子以恒定的速度運動(dòng),我們一般稱(chēng)這個(gè)速度通為電泳遷移率。

     

    電滲法-單位場(chǎng)強下的液體移動(dòng)速度稱(chēng)為電滲速度。液體的電滲速度與固液兩相間的ξ電勢成簡(jiǎn)單的正比關(guān)系,所以可以利用電滲來(lái)測量ξ電勢,但此法只限于能形成毛細管或多孔介質(zhì)的材料。

     

    流動(dòng)電位法-流動(dòng)電勢是指當電解質(zhì)溶液在一個(gè)帶電荷的絕緣表面流動(dòng)時(shí),表面的雙電層的自由帶電荷粒子將沿著(zhù)溶液流動(dòng)方向運動(dòng),這些帶電荷粒子的運動(dòng)導致下游積累電荷,在上下游之間產(chǎn)生電位差就是流動(dòng)電勢。

     

    超聲電聲法-在膠體溶液兩側施以電壓,帶點(diǎn)粒子運動(dòng)會(huì )產(chǎn)生聲波,測量所產(chǎn)生的聲波,就可以計算顆粒的動(dòng)態(tài)遷移率,后通過(guò)計算得到Zeta電位

     

    美國MAS粒度Zeta電位分析儀

    典型應用:

    綜合穩定水泥漿,陶瓷,化學(xué)機械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環(huán)境保護禪選法礦物富集,食品工業(yè),乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無(wú)水體系,油漆成像材料。

    主要特點(diǎn):

    1)能分析多種分散物的混合體;

    2)無(wú)需依賴(lài)Double Layer模式,精確地判定等電點(diǎn);

    3)可適用于高導電(highly conducting)體系;

    4)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

    5)可精確測量無(wú)水體系;

    6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),無(wú)需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量;

    7)樣品的高濃度可達60%(體積比),被測樣品無(wú)需稀釋?zhuān)瑢饪s膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量;

    8)具有自動(dòng)電位滴定功能;

    優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢:

    1)被測樣品無(wú)需稀釋?zhuān)?/span>

    2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

    3)不需定標;

    4)能分析多種分散物的混合體;

    5)高精度;

    6)所檢側粒徑范圍款從5 nm至1000um

    美國MAS粒度Zeta電位分析儀

    優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢:

    1)無(wú)需定標;

    2)能測更寬的粒徑范圍;

    3)無(wú)需依賴(lài)Double Layer模式

    4)無(wú)需依賴(lài)( electric surface properties)電表面特牲;

    5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

    6)可適用于無(wú)水體系;

    7)可適用于高導電(highly conducting)體系;

    優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢:

    1)無(wú)需稀釋?zhuān)毯狭扛哌_60%;

    2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

    3)高精度(±0.1mv);

    4)低表面電荷(可低至0. 1mv);

    5)electrosmotic flow不影響測量;

    6)對流(convection)不影響測量;

    7)可精確測量無(wú)水體系;

     

    技術(shù)參數:

    1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000µm;

    2)可測量參數:粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導率、PH、溫度、聲衰減;

    3)Zeta電位測量范圍:+/-500 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);

    4)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

    5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分數);

    6)樣品體積:30-230ml;

    7)PH范圍:0~14;

    8)電導率范圍:0~10 s/m

     


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