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    電快速瞬變脈沖群抗擾度測試常見(jiàn)問(wèn)題分析及改進(jìn)建議

    閱讀:16發(fā)布時(shí)間:2024-11-18

    電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗概述
    電快速瞬變脈沖群產(chǎn)生的原理如下:
    當電感性負載(如繼電器、接觸器等)在斷開(kāi)時(shí),由于開(kāi)關(guān)觸點(diǎn)間隙的絕緣擊穿或觸點(diǎn)彈跳等原因,在斷開(kāi)處產(chǎn)生的瞬態(tài)騷擾。當電感性負載多次重復開(kāi)關(guān),則脈沖群又會(huì )以相應的時(shí)間間隙多次重復出現。這種瞬態(tài)騷擾能量較小,一般不會(huì )引起設備的損壞,但由于其頻譜分布較寬,所以會(huì )對機的可靠工作產(chǎn)生影響。
    該試驗是一種將由許多快速瞬變脈沖組成的脈沖群耦合到機的電源端口的試驗。
    試驗脈沖的特點(diǎn)是:
    瞬變脈沖上升時(shí)間短、重復出現、能量低。該試驗的目的就是為了檢驗手機在遭受這類(lèi)暫態(tài)騷擾影響時(shí)的性能。一般認為電快速瞬變脈沖群之所以會(huì )造成手機的誤動(dòng)作,是因為脈沖群對線(xiàn)路中半導體結電容充電,當結電容上的能量累積到一定程度,便會(huì )引起手機的誤操作。具體表現為在測試過(guò)程中機通信中斷、死機、軟件告警、控制及存儲功能喪失等。
    電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗常見(jiàn)問(wèn)題分析
    電快速瞬變脈沖波形通過(guò)充電器直接傳導進(jìn)手機,導致主板電路上有過(guò)大的噪聲電壓。當單獨對火線(xiàn)或零線(xiàn)注入時(shí),盡管是采取的對地的共模方式注入,但在火線(xiàn)和零線(xiàn)之間存在差模干擾,這種差模電壓會(huì )出現在充電器的直流輸出端。當同時(shí)對火線(xiàn)和零線(xiàn)注入時(shí),存在著(zhù)共模干擾,但對充電器的輸出影響并不大。造成手機在測試過(guò)程中出現問(wèn)題的原因是復雜的,具體表現為以下幾方面。
    (1)前期設計時(shí)未考慮電快速瞬變脈沖群抑制功能,沒(méi)有添加相關(guān)的濾波元器件,PCB設計綜合布線(xiàn)時(shí)也沒(méi)有注意線(xiàn)纜的隔離,主板接地設計也不符合規范,另外關(guān)鍵元器件的也沒(méi)有采取屏蔽保護措施等;
    (2)生產(chǎn)廠(chǎng)在元器件供應商的選擇上沒(méi)有選用性能可靠的關(guān)鍵器件,導致測試過(guò)程中器件老化或者器件失效,從而容易受到電快速瞬變脈沖的干擾;在整機生產(chǎn)組裝過(guò)程中,加工工藝及組裝水平出現的問(wèn)題可能會(huì )導致產(chǎn)品一致性不好,個(gè)別送檢手機存在質(zhì)量問(wèn)題; (3)檢測過(guò)程中由于其他測試項出現問(wèn)題導致整改,可能由于整改方案的選擇會(huì )影響到電快速瞬變脈沖群測試不合格。

    電快速瞬變脈沖群發(fā)生器

    電快速瞬變脈沖群發(fā)生器

    電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗相關(guān)問(wèn)題的改進(jìn)建議
    針對電快速脈沖群干擾試驗出現的問(wèn)題,主要可以采取濾波及吸收的辦法來(lái)實(shí)現對電快速瞬變脈沖的抑制。
    (1)在手機設計初期就應重點(diǎn)考慮抑制電快速瞬變脈沖群干擾設計。
    在PCB層電源輸入位置要做好濾波,通常采用的是大小電容組合,根據實(shí)際情況可以酌情再添加一級磁珠來(lái)濾除高頻信號,盡量采用表面封裝;
    盡量減小PCB的地線(xiàn)公共阻抗值;
    PCB布局盡量使干擾源遠離敏感電路;
    PCB的各類(lèi)走線(xiàn)要盡量短;
    減小環(huán)路面積;
    在綜合布線(xiàn)時(shí)要注意強弱電的布線(xiàn)隔離、信號線(xiàn)與功率線(xiàn)的隔離。綜合布線(xiàn)是系統很重要的一個(gè)設計組成部分,一個(gè)糟糕的綜合布線(xiàn)格局很可能斷送一個(gè)設計精良的PCB的穩定性;
    關(guān)鍵敏感芯片需要屏蔽;
    軟件上應正確檢測和處理告警信息,及時(shí)恢復產(chǎn)品的狀態(tài)。
    (2)元器件的選擇上應使用質(zhì)量可靠的芯片,做過(guò)芯片級的電磁兼容仿真試驗,質(zhì)量可靠的充電器、數據線(xiàn)及電池的選用可提升對電快速瞬變脈沖信號的抑制能力;
    (3)廠(chǎng)家在組裝生產(chǎn)環(huán)節中應嚴把質(zhì)量關(guān),做好生產(chǎn)工藝流程控制,盡量保證產(chǎn)品質(zhì)量的一致性,減少因個(gè)別手機質(zhì)量問(wèn)題帶來(lái)的測試不合格現象;
    (4)EFT測試過(guò)程中如出現問(wèn)題,可采用在充電器增加磁環(huán)或者電快速瞬變脈沖群濾波器的方法進(jìn)行整改,選用磁珠的內徑越小、外徑越大、長(cháng)度越長(cháng)越好。采用加TVS管的整改方法作用有限;
    (5)根據GB/T 17626.4-2008標準要求,重復頻率將增加100 kHz選項,將會(huì )比5 kHz更為嚴酷,廠(chǎng)家應及早重視進(jìn)行相關(guān)的電快速瞬變脈沖群測試防護工作。
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