北京博宇訊銘科技有限公司
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更新時(shí)間：2024-08-12 10:42:30瀏覽次數：136次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)Chroma 19036為業(yè)界結合脈沖測試，耐壓、 絕緣電阻與直流電阻量測于單機的繞線(xiàn)元件電氣 安規掃描分析儀，擁有5kVac/6kVdc高壓輸出、 5kV絕緣電阻、6kV層間短路脈沖電壓與四線(xiàn)式直 流電阻量測。符合繞線(xiàn)元件測試需求且提供多通 道掃描測試，單機10通道輸出可達成一次多顆掃 描測試，節省測試時(shí)間及人力成本。
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五合一安規掃描分析儀 (交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻、 層間短路、 直流電阻)
耐壓測試(Hi-pot) - 5kVac / 6kVdc - HSCC 高速接觸檢查
絕緣電阻測試(IR) : 5kV
繞線(xiàn)元件脈沖測試 (IWT)
-脈沖測試高取樣率(200MHz)
直流電阻測試 - 10通道四線(xiàn)直流電阻測試 /-Δ型/Y型馬達繞線(xiàn)電阻計算
支援40通道掃描測試
繁中 / 簡(jiǎn)中 / 英文操作介面
USB波形儲存& 畫(huà)面擷取功能
圖形化彩色顯示
標準LAN, USB, RS232介面
GFI人體保護電路
19036與C h r o m a其他安規測試系列儀器同樣具有 Flashover偵測功能。Flashover是絕緣材料內部或表面因高電界產(chǎn)生電氣放電，待測物失去原有之絕緣特性，形成暫態(tài)或非連續性放電，導致碳化導電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品傷害。若只以漏電流判定則無(wú)法檢出不良，須以測試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測為高壓測試的檢視項目之一。
19036與C h r o m a其他安規測試系列儀器同樣具有 Flashover偵測功能。Flashover是絕緣材料內部或表面因高電界產(chǎn)生電氣放電，待測物失去原有之絕緣特性，形成暫態(tài)或非連續性放電，導致碳化導電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品傷害。若只以漏電流判定則無(wú)法檢出不良，須以測試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測為高壓測試的檢視項目之一。
部分生產(chǎn)廠(chǎng)商常以并聯(lián)進(jìn)行耐壓測試以提升生產(chǎn)檢測速度，但并聯(lián)測試時(shí)，無(wú)法正確設定電流上下限值，導致不良品流出; 以及不良品需至后測站另加進(jìn)行測試，增加站數及成本。
19036系列提供次測項功能(sub-step)。當生產(chǎn)需要并聯(lián)測試時(shí)，經(jīng)由程序的編輯，以不良(Fail)做為次測項啟動(dòng)條件。意指當測試于主測項(并聯(lián))不良時(shí)，才會(huì )進(jìn)行次測項測試(單顆)，即可判斷出不良品為哪一顆待測物，可達到高產(chǎn)速與高檢測品質(zhì)佳化。
例 : Step 1 : AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7
Sub step 1.1 : AC Hipot / pin1 to pin5
Sub step 1.2 : AC Hipot / pin1 to pin6
Sub step 1.3 : AC Hipot / pin1 to pin7
部分生產(chǎn)廠(chǎng)商常以并聯(lián)進(jìn)行耐壓測試以提升生產(chǎn)檢測速度，但并聯(lián)測試時(shí)，無(wú)法正確設定電流上下限值，導致不良品流出; 以及不良品需至后測站另加進(jìn)行測試，增加站數及成本。
19036系列提供次測項功能(sub-step)。當生產(chǎn)需要并聯(lián)測試時(shí)，經(jīng)由程序的編輯，以不良(Fail)做為次測項啟動(dòng)條件。意指當測試于主測項(并聯(lián))不良時(shí)，才會(huì )進(jìn)行次測項測試(單顆)，即可判斷出不良品為哪一顆待測物，可達到高產(chǎn)速與高檢測品質(zhì)佳化。
例 : Step 1 : AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7
Sub step 1.1 : AC Hipot / pin1 to pin5
Sub step 1.2 : AC Hipot / pin1 to pin6
Sub step 1.3 : AC Hipot / pin1 to pin7
所謂的''繞線(xiàn)元件脈沖測試''基本上是以一''非破壞性''、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測物上，再藉由分析／比對待測物良品與不良品之等效波形以達到判定良否之目的。繞線(xiàn)元件脈沖測試主要功能乃在早期發(fā)現繞線(xiàn)元件中各種潛在之缺陷，例如：層間短路、電暈電弧或甚至是不易發(fā)覺(jué)之部分放電等。
四種判定模式
g 波形面積比較 (AREA SIZE)
g 波形差面積比較 (DIFFERENTIAL AREA)
g 波形顫動(dòng)偵測 (FLUTTER DETECTION)
g 波形二階微分偵測 (LAPLACIAN DETECTION)
以二階微分演算，有效偵測出因電氣放電造成之波形不連續現象。
所謂的''繞線(xiàn)元件脈沖測試''基本上是以一''非破壞性''、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測物上，再藉由分析／比對待測物良品與不良品之等效波形以達到判定良否之目的。繞線(xiàn)元件脈沖測試主要功能乃在早期發(fā)現繞線(xiàn)元件中各種潛在之缺陷，例如：層間短路、電暈電弧或甚至是不易發(fā)覺(jué)之部分放電等。
四種判定模式
g 波形面積比較 (AREA SIZE)
g 波形差面積比較 (DIFFERENTIAL AREA)
g 波形顫動(dòng)偵測 (FLUTTER DETECTION)
g 波形二階微分偵測 (LAPLACIAN DETECTION)
以二階微分演算，有效偵測出因電氣放電造成之波形不連續現象。
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