靈柯精密儀器（山東）有限公司
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聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)PalasU-SMPS1700通用掃描遷移率粒度儀
Palas
通用掃描遷移率粒度儀，適合2-400 nm的高濃度應用
? 2至400 nm粒徑分布
? 連續和快速掃描的測量原理
? 高分辨率，最多128個(gè)分類(lèi)器/衰減
? 適用于高達108顆粒/立方厘米的濃度
? 通用連接其他制造商的DMA和納米粒子計數器
? 圖形顯示測量值
? 直觀(guān)操作，使用7英寸觸摸屏和GUI
? 集成數據記錄儀
? 支持多種接口和遠程訪(fǎng)問(wèn)
? 低維護
? 功能可靠
? 減少您的運營(yíng)費用 氣溶膠靜電計的一個(gè)主要優(yōu)點(diǎn)是可以進(jìn)行非?？焖俚臏y量。但是，這種方法需要很高的成本。因此，其適用性被限制于高氣溶膠濃度（例如，燃燒過(guò)程或顆粒發(fā)生器的下游）?？梢酝ㄟ^(guò)物理參數直接追溯每時(shí)間單位（流量）的電荷測量值。其結果是，此方法主要用作凝結粒子計數器（例如UF-CPC）校準期間的參考。 U-SMPS使用觸摸屏圖形用戶(hù)界面進(jìn)行操作?？梢栽诙潭?/span>30秒內執行單粒子分布掃描，或者最多在128個(gè)尺寸通道中執行掃描，在此期間，DEMC分類(lèi)器中的電壓連續變化，從而導致每個(gè)尺寸通道的計數統計效率更高。集成的數據記錄器允許在設備上線(xiàn)性和對數顯示測量值。隨附的評估軟件提供各種數據評估（豐富的統計和平均值計算）和導出功能。 U-SMPS通常作為獨立設備運行，但也可以使用各種接口（USB，LAN，WLAN，RS-232 / 485）連接到計算機或網(wǎng)絡(luò )。 Palas®U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA，CPC和氣溶膠靜電計。 U-SMPS的準確尺寸測定和可靠性能尤其重要，特別是對于校準。所有組件都必須通過(guò)嚴格的質(zhì)量保證測試，并在內部組裝。 圖1展示U-SMPS的工作原理： 圖1：使用氣溶膠靜電計作為濃度測量裝置的通用掃描遷移率粒度儀（U-SMPS）的工作原理 氣溶膠在進(jìn)入分類(lèi)器（DEMC列）之前經(jīng)過(guò)調節?？蛇x的干燥器（例如硅膠，Nafion）可以去除顆粒中的水分。使用雙極中和劑（例如Kr 85）來(lái)確保測定的氣溶膠電荷分布。為了去除大于分類(lèi)器尺寸范圍的顆粒，需要在DEMC的入口處使用撞擊器。 然后，氣溶膠通過(guò)入口導入DEMC色譜柱。沿著(zhù)外部電極的氣溶膠流在此與護套氣流仔細合并。重要的是在此處避免任何湍流，以確保層流。電極的表面在光滑度和公差方面必須具有的質(zhì)量。 鞘空氣是干燥、無(wú)顆粒的載氣（通常是空氣），其體積大于連續在閉環(huán)中循環(huán)的氣溶膠體積。鞘空氣與樣品空氣的體積比決定傳遞函數，因此決定DEMC的分離能力。通過(guò)施加電壓，在內外電極之間會(huì )產(chǎn)生一個(gè)徑向對稱(chēng)的電場(chǎng)。內電極在末端帶有小縫隙，帶正電。通過(guò)平衡每個(gè)粒子上的電場(chǎng)力及其在電場(chǎng)中的空氣動(dòng)力學(xué)阻力，帶負電的粒子被轉移到正電極。根據它們的電遷移率，一些顆粒會(huì )穿過(guò)狹縫并離開(kāi)DEMC。 在工作中，電壓和電場(chǎng)因此而連續變化。結果，具有變化遷移率的顆粒會(huì )離開(kāi)DEMC，并且由納米顆粒計數器 – 在此顯示為氣溶膠靜電計（例如Palas®Charme®）連續測量-。 為了組合數據（電壓、電荷數、電荷分布等）并獲得粒度分布，必須進(jìn)行逆變換。為此，使用的算法是由IfT（德國萊比錫）的Wiedensohler教授開(kāi)發(fā)的算法。 圖2：在觸摸屏顯示Palas®DNP 3000顆粒發(fā)生器產(chǎn)生的氣溶膠粒徑分布 用戶(hù)界面和軟件 基于持續的客戶(hù)反饋，我們設計了良好的用戶(hù)界面和軟件，以實(shí)現直觀(guān)的操作、實(shí)時(shí)控制并顯示測量數據和參數。 此外，軟件還通過(guò)集成的數據記錄器、完善的導出功能和網(wǎng)絡(luò )支持為數據管理提供支持。測量數據可以顯示和評估。 可用系統 圖3顯示Palas®可提供的DEMC和Charme®氣溶膠靜電計的兩種組合。 對于DEMC分類(lèi)器與Palas®冷凝粒子計數器的組合，請閱讀“U-SMPS 1xx0_2xx0_V0011212"規格參數表。 其他制造商提供的大多數DMA、CPC和氣溶膠靜電計都可以用作U-SMPS系統的組件。 圖3：用于高濃度顆粒測量的Palas®U-SMPS系統概述
適用于高氣溶膠濃度的Palas®通用掃描遷移率粒度儀（U-SMPS）有兩種版本。 U-SMPS帶有短分類(lèi)柱（1700型），特別適合2-400 nm范圍內的精度粒度分布測量。Palas®U-SMPS系統包括一個(gè)分類(lèi)器[在ISO 15900中定義稱(chēng)為差動(dòng)遷移率分類(lèi)器（DEMC），也稱(chēng)為差動(dòng)遷移率分析儀（DMA）]，根據氣溶膠顆粒電遷移率選擇氣溶膠顆粒并傳遞到出口。然后，在下游的Charme®氣溶膠靜電計中測量這些粒子攜帶的電荷。 
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