北京金三航科技發(fā)展有限公司
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北京金三航科技發(fā)展有限公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號英國ABI
品 牌
廠(chǎng)商性質(zhì)其他
所 在 地北京市
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更新時(shí)間：2024-09-02 10:11:02瀏覽次數：138次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)英國ABI-BM8200電路板故障檢測儀
ABI-8200包含2個(gè)重要測試模塊：ABI-6400+ABI-2400
模塊一：ABI-6400的技術(shù)參數
6400單獨成為測量設備的外形
離線(xiàn)測試盒
電路板故障檢測儀主要測試功能：
1)64通道數字集成電路在線(xiàn)、離線(xiàn)功能測試
2)64通道V-I曲線(xiàn)模擬通道測試(可測模擬器件)
3)強大的元器件和整板仿真測試功能
4)閾值電平零界點(diǎn)掃描測試
5)短路追蹤測試(低電阻測試)
6)實(shí)時(shí)顯示輸出邏輯電平值
7)存儲器功能測試
8)數字時(shí)序編輯功能
9)未知器件型號查詢(xún)
10)程控電源供電,可設定輸出的延遲時(shí)間
產(chǎn)品特征描述
1)中英文測試軟件，產(chǎn)品體積小，重量輕，USB接口，適合攜帶
2)數字測試通道:64路(可擴充到256通道).
3)模擬測試通道64路，即64路V-I曲線(xiàn)測試(可擴充到256通道). 1路v-i探棒測試
4)隔離通道:4路.總線(xiàn)競爭信號隔離功能:用于解除總線(xiàn)競爭，確保正確測試掛在總線(xiàn)上的三態(tài)器件(如74LS373,74LS245,等)，可提供4路總線(xiàn)競爭隔離信號。
5)能夠對多種邏輯電平數字邏輯器件進(jìn)行在線(xiàn)/離線(xiàn)功能測試；可以通過(guò)圖像化的編輯器自定義測試庫，可以快速擴充測試庫
6)配有離線(xiàn)測試盒，快速測試批量元器件。離線(xiàn)測試和在線(xiàn)測試功能一至。
7)IC型號識別：標識不清或被擦除型號的器件，可“在線(xiàn)”或“離線(xiàn)”進(jìn)行型號識別測試。
8)讀寫(xiě)存儲器功能測試:可針對記憶容量在2k×8到256k×8的EPROM進(jìn)行讀取,對比及將資料存入電腦中,可進(jìn)行在線(xiàn)或離線(xiàn)測試.可采取在線(xiàn)(離線(xiàn))學(xué)習/比較的測試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來(lái)，保存到計算機上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測試；測試結果定位到存儲單元地址上，并打印出該地址正確和錯誤的代碼
9)5V/5A的直流電源程控自動(dòng)輸出,具有過(guò)電壓及過(guò)電流保護功能.由系統自動(dòng)控制輸出,并可設定輸出的延遲時(shí)間.方便各種類(lèi)型電路板的測試。
10)數字集成電路測試中集電極開(kāi)路，自動(dòng)上加上拉電阻。
11)V-I曲線(xiàn)測試具有單通道探筆測試功能，方便分立器件的V-I曲線(xiàn)測試
12)LSI大規模集成電路在線(xiàn)功能及狀態(tài)分析測試：可采取學(xué)習、比較的方式對一些常見(jiàn)的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測試。
測試準確-源自的測試技術(shù)
1.同一器件同一時(shí)間完成多種測試：功能測試，V-I曲線(xiàn)測試，曲線(xiàn)拐點(diǎn)溫度變化系數，各個(gè)管腳電壓值測量,管腳連接狀態(tài)測量顯示,
2.圖形化元件測試庫的編輯,輸入輸出各個(gè)測試通道的邏輯時(shí)序可以由測試者圖形化自定義編輯測試完成，方便快捷的建立起測試庫中沒(méi)有的元件庫
3.整板測試非常簡(jiǎn)單，通過(guò)圖形化的測試庫編輯器，根據電路板原理，定義輸入激勵信號及測試輸出的標準響應信號，快速建立板測試庫，快速批量檢測電路板的功能。
4.邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統邏輯電平閾值零界值,設定循環(huán)測試來(lái)發(fā)現不穩定的錯誤結果.
5.邏輯電平閾值自定義?？梢栽O定非標準的邏輯電平閾值，檢查不穩定的元器件。
6.短路電阻測量功能：三段低電阻測量范圍，可以用圖像及聲音的變化來(lái)表示電阻值大小，并自動(dòng)探棒校正功能。此功能可以用以檢查電路板線(xiàn)路的電阻值，及檢查短路點(diǎn)。
7.輸出邏輯時(shí)序圖形顯示、具體時(shí)序電壓值顯示,方便掌握具體有用測試信息。
8.V-I曲線(xiàn)測試功能:可針對元件直接進(jìn)行測試，曲線(xiàn)電壓掃描范圍：-10v~+10v；測試電壓可由2.5到5V步階式調整, 可調整為非對稱(chēng)電壓掃描信號，正負電壓可以不一至，例如：-2.5v~+10v 限度地保證測試的安全性。其輸出電流由系統自動(dòng)調整設定.掃描信號可達幾十種。
9.V-I曲線(xiàn)溫漂拐點(diǎn)系數測定，可以觀(guān)測曲線(xiàn)拐點(diǎn)溫度變化系數，易于發(fā)現一些器件的非固定性故障。方便找出不穩定器件.
10.系統可以在64路的基礎上以64通道為單位進(jìn)行通道擴充，直至256通道
英國ABI-6400電路板故障檢測儀技術(shù)參數：
| 參數規格 |
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| 測試通道數: | 64通道 |
| 總線(xiàn)隔離信號信道數: | 4通道 |
| 輸出驅動(dòng)電壓: | TTL/CMOS 標準 |
| 輸出驅動(dòng)電流: | 電流依不同的邏輯電平閾值有下列區分 |
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| 一般H-L 80mA @ 0.6V |
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| 一般 L-H 200mA @ 2V |
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| Max. 400mA |
| 驅動(dòng)電壓轉換比: | >100V/µs |
| 電壓范圍: | +/-10V |
| 輸入阻抗: | 10k |
| 邏輯形態(tài): | 三態(tài)或開(kāi)集極開(kāi)路 (內定或由程序設定) |
| 驅動(dòng)邏輯形態(tài): | Low, high, 三態(tài) (tri-state) |
| 過(guò)電壓保護范圍: | <0.5V, >5.5V |
| 最長(cháng)測試時(shí)間: | 根據被測元器件而定 |
| 測試方式: | 在線(xiàn)及離線(xiàn)測試 (需外接離線(xiàn)測試盒) |
| 電源供給規格參數 |
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| 自動(dòng)供給電源輸出: | 1 x 5V @ 5A 固定式 |
| 過(guò)電壓保護: | 7V |
| 過(guò)電流保護: | 7A |
| 測試模式 |
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| 單次(Single): | 單次測試 |
| 循環(huán)(Loop): | 反復測試, 或條件式循環(huán)測試(PASS或FAIL) |
| 自動(dòng)掃描測試: | 可找到較為嚴格的邏輯電平閾值 |
| 邏輯電平閾值設定規格參數 |
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| 最小調整解析: | 100mV |
| 低電平Low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
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| CMOS 0.1V to 1.5V |
| 三態(tài)Switching levels: | TTL 1.0V to 2.3V |
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| CMOS 1.0V to 3.0V |
| 高電平High levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
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| CMOS 1.9V to 4.9V |
| 掃描低邏輯范圍Swept low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
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| CMOS 0.1V to 1.5V |
| 掃描邏輯轉態(tài)范圍Swept switching levels: | TTL 1.2V |
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| CMOS 2.5V |
| 掃描高邏輯范圍Swept high levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
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| CMOS 1.9V to 4.9V |
| 測試功能及參數 |
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| 集成電路功能測試 | 根據測試庫的功能進(jìn)行測試，根據元件的原理和真值表進(jìn)行測試 |
| 元器件連接特性測試 |
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| 短路狀態(tài)偵測 Short circuit detection |
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| 懸?。ǜ〗樱顟B(tài)偵測 Floating input detection |
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| 開(kāi)路狀態(tài)偵測 Open circuit detection |
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| 連接狀態(tài)偵測 Linked pin detection |
| 電壓量測Voltage: | 最小解析 10mV 范圍 +/-10V |
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| 具邏輯狀態(tài)偵測 Logic state detection |
| VI曲線(xiàn)測試: | 測試通道數64 |
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| 電壓設定范圍 -10V to +10V (可自行設定)，可以設置非對稱(chēng)電壓掃描 |
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| 測試電流 1mA |
| 曲線(xiàn)拐點(diǎn)系數: | 管腳的v-i曲線(xiàn)圖中的拐點(diǎn)圖形，隨溫度產(chǎn)生變化的系數，對于判定溫漂的故障元件非常有幫助 |
| 配件 |
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| 標準配件 | 1 x離線(xiàn)測試測試盒 |
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| 1 x 64 way test cable (64通道測試線(xiàn)) |
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| 1 x 64 way split test cable (2X32通道測試線(xiàn)) |
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| 1 x V-I probe assembly (V-I曲線(xiàn)測試探棒) |
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| 1 x BDO cable (隔離通道信號測試線(xiàn)) |
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| 1 x Short locator cable (短路電阻測試探棒) |
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| 1 x Ground clip (接地信號夾) |
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| 1 x PSU lead set (電源輸出線(xiàn)) |
| 通訊及機箱 |
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| 內置通訊接口 | PCI interface (通訊接口) |
| 外置通訊接口及機箱 | MultiLink case |
模塊二：ABI-2400的技術(shù)參數
2400單獨成為測量設備的外形
ABI2400電路板故障檢測儀特點(diǎn)：
1)適合數字及模擬集成電路的測試
2)可進(jìn)行在線(xiàn)或離線(xiàn)測試與分析
3)具有24路測試通道+2路探棒測試
4)安全性高的無(wú)電源測量方式
5)矩陣式V-I曲線(xiàn)測試模式, 可針對管腳間的阻抗曲線(xiàn)進(jìn)行測試
6)在進(jìn)行離線(xiàn)測試時(shí), 可針對芯片內部進(jìn)行阻抗分析
7)自動(dòng)對比及儲存曲線(xiàn),
8)可切換VI,VT及IT三種顯示模式, 可配合不同功能型式的FET元器件測試
9)可設定同步脈沖信號的寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試
10)可進(jìn)行光耦合器及繼電器元器件的速度功能測試
11)具有二組信號源, 可輸出直流信號, 針對光電耦合器及繼電器進(jìn)行穩態(tài)測試.
12)曲線(xiàn)相似度百分比顯示，具有業(yè)界中最多的測試條件設計, 大大提高了故障診斷能力.
13)測試頻率高達到12kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件
14)本系統具備自動(dòng)信號補償功能, 可針對測試環(huán)境及夾具進(jìn)行自校測試, 以防止測量信號失真.
15)可由軟件來(lái)進(jìn)行維修日志的編寫(xiě)
16)可由軟件加入圖片, 用來(lái)清楚的表示量測位置及電路板圖像.
ABI2400測試技術(shù)參數
| V-I 測試參數 | |
| 測量通道 | 24路測試通道 |
| 探筆通道 | 2通道實(shí)時(shí)對比測試 |
| 信號通道 | 2通道同步脈沖信號 |
| 測試電壓范圍 | 2 V to 50 V peak to peak： 2、4、6、8、10、20、30、40、50V |
| 電壓分辨率: | 8 to 12 bits |
| 測試頻率范圍: | 37.5 Hz to 12 kHz： 37.5/60/75/94/120/150/187.5/240/300/375/480/600/750/960/1.2k /1.5k/2.4k/3k/4.8k/6k/12kHz |
| 信號電流范圍: | 1 μA to 150 mA |
| 測試阻抗范圍: | 100Ω to 1MΩ 100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
| 測試信號波形: | 正玄波、三角波、斜波 |
| 顯示圖形模式: | V-I, V-T, I-T |
| 矩陣測試 | 各個(gè)管腳間的VI曲線(xiàn)測試 |
| 測量波形自動(dòng)對比功能: | 可利用實(shí)時(shí)量測雙通道來(lái)自動(dòng)實(shí)時(shí)對比好壞組件的波形, 或是將波形進(jìn)行存儲之后, 再進(jìn)行比對工作. |
| 同步脈沖輸出模式: | 正向(Positive), 負向(negative)或雙向(bipolar)波形，直流模式 |
| 同步信號振幅: | 可調式由 +10 V ~- 10V |
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