
512通道
器件測試圖例:

集成電路測試截圖:


可以放大觀(guān)看單個(gè)管腳PIN
測試通道:
二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測試通道:512路
二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測試通道:512路
三維V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測試通道:512路
設備可以64通道為步進(jìn)擴充到2048組測試通道
功能用途:
1)集成電路的來(lái)料質(zhì)量控制檢測與篩選、一致性檢測;
2)可用于集成電路、元器件研發(fā)測試;三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測試;
2)快速篩選、仿制集成電路及元器件;
3)對不良器件進(jìn)行三維動(dòng)態(tài)阻抗失效分析;
4)非加電條件下對集成電路、電路板進(jìn)行全面的端口動(dòng)態(tài)阻抗測試分析;
5)快速準確定位失效集成電路故障管腳,高效查找故障電路板的失效I/O管腳;
6)測試安全可靠,全面解決器件工藝、電路板工藝問(wèn)題,快速解決集成電路及電路板故障點(diǎn)定位問(wèn)題;
7)進(jìn)行集成電路和電路板阻抗一致性檢測;
8)專(zhuān)業(yè)操作管理平臺:可根據需求編輯測試流程程序,完成自定義化測試,軟件管理平臺兼容其他廠(chǎng)商設備。測試流程的制定貫穿整個(gè)測試過(guò)程,使集成電路、電路測試的過(guò)程形成標準的測試流程(維修流程、生產(chǎn)流程)。保證了測試工藝的一致性,排除人為因素的干擾。使測試簡(jiǎn)單、容易、標準化。
技術(shù)規格:
二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測試通道:512路
二維V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口矩陣測試通道:512路
三維V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測試通道:512路
設備可以64通道為步進(jìn)擴充到2048組測試通道
實(shí)時(shí)探筆對比測試通道:4路
同步脈沖信號:4路
測試電壓范圍:2 V ~ 50 Vp-p;
顯示圖形模式:V-I、V-T、V-I-F、V-T-F;
信號電流范圍: 1 μA to 150 mA
測試阻抗范圍 : 100Ω ~ 1MΩ;
三維立體V-I-F測量方式:掃頻;
同步脈沖輸出模式:?jiǎn)蚊}沖、雙脈沖、三脈沖、四脈沖;
同步信號振幅:可調式由 +10 V ~- 10V;
主要優(yōu)勢:
1)提供軟件開(kāi)發(fā)平臺,兼容其他廠(chǎng)商測試設備;
2)的V-T模式可測量器件的開(kāi)關(guān)時(shí)間特性(配合同步脈沖);可設定同步脈沖信號的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試??蓽y試三段期間開(kāi)關(guān)時(shí)間特性。
3)動(dòng)態(tài)阻抗分析功能,可以對三維圖形進(jìn)行參數的測量;
4)變頻或掃頻三維立體V-I-F測量方式,三維立體顯示器件的端口特性曲線(xiàn),可以查找與器件頻率有關(guān)的故障。檢查與頻率特性有關(guān)的器件或集成電路。
5)非加電條件下靜態(tài)診斷集成電路, 不必外加電源即可進(jìn)行測試。測試更安全:矩陣式掃頻測試,脈沖輸出進(jìn)行的動(dòng)態(tài)V/T測試。