性能優(yōu)勢
科研級CMOS檢測器,全元素分析,開(kāi)創(chuàng )PPM級元素分析新紀元
噪聲低 科研級感光元件噪聲小,抗干擾強,具備防光暈技術(shù)
抗干擾 CMOS探測器集成度高,可避免外部電路引入噪聲
讀取速度快 采用OEO(Optimal Element-Oriented)技術(shù),像素信號單獨讀取,實(shí)現參數優(yōu)化設計
紫外響應高 超高紫外響應靈敏度,無(wú)需鍍膜,實(shí)現非金屬元素(N,C,S,P)分析,效果更優(yōu)
經(jīng)典雙光室設計,光譜范圍寬,元素分辨率有保證
獨立設計的紫外光學(xué)系統,激發(fā)臺直接采光,專(zhuān)為N,C,S,P等紫外元素測量設計,刻線(xiàn)數多,分辨率高,兼顧高分辨和譜線(xiàn)范圍優(yōu)勢,譜線(xiàn)范圍寬,分析元素多,性能好
單獨設計的紫外光學(xué)系統,體積小,結構簡(jiǎn)單,,采用多孔吹掃技術(shù),可將空氣迅速吹掃干凈,確保元素分析效果

穩定性升級,重新定義光學(xué)產(chǎn)品穩定性
壓鑄鋁合金整體光室,4級消除應力處理
光室恒溫設計,保證光譜位置長(cháng)期穩定,不漂移
氣流路的精確設計,一切為了結果更穩定
RTMC光譜優(yōu)化技術(shù),帶來(lái)更穩定的體驗
全數字脈沖光源,自動(dòng)選擇能量保證分析的準確性與重復性
易用性升級,給用戶(hù)更簡(jiǎn)單、高效的使用體驗
優(yōu)質(zhì)硬件與特定算法的結合,多重穩定保障,更好地監控儀器運行狀態(tài),提升分析效果,減少校準頻率
支持全譜分析檢測,拓展性更高。增加分析基體和元素無(wú)需增加硬件,通過(guò)軟件即可擴展分析范圍,使用更靈活
智能曲線(xiàn)功能可滿(mǎn)足對所有材料的分析需求,真正實(shí)現未知樣品分析,無(wú)需糾結模型選擇,操作更加簡(jiǎn)便
友好的人機交互設計,軟件主界面簡(jiǎn)潔清晰,圖形化顯示,短時(shí)間即可學(xué)會(huì )并熟練操作軟件
新增遠程維護功能,可遠程升級固件程序,遠程檢查儀器狀態(tài),對儀器生命周期健康負責
應用領(lǐng)域
應用于冶金、鑄造、機械加工、鑄造、金屬材料科研、航空航天、造船、汽車(chē)、海關(guān)檢驗、第三方檢測等諸多領(lǐng)域。