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更新時(shí)間:2024-09-19 09:55:49瀏覽次數:85次
聯(lián)系我時(shí),請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)日立高新掃描電子顯微鏡FlexSEM1000日立公司于2016年4月15日在發(fā)布了新型掃描電子顯微鏡——FlexSEM1000
日立公司于2016年4月15日在發(fā)布了新型掃描電子顯微鏡——FlexSEM 1000。該產(chǎn)品結構緊湊,占地面積小,但分辨率不輸大型電鏡,同時(shí)操作極其簡(jiǎn)便,幾乎不用培訓就可操作。緊湊型設計,分辨率為4 nm。
掃描電子顯微鏡可對材料的表面進(jìn)行高倍率觀(guān)察及高精度元素分析,在納米技術(shù)、生命科學(xué)、產(chǎn)品設計研發(fā)及失效分析等領(lǐng)域有著(zhù)廣泛的應用。 近年來(lái),掃描電鏡觀(guān)察表面精細結構及元素分析的需求日趨增加,而越來(lái)越多的用戶(hù)希望能在生產(chǎn)線(xiàn)、品保檢驗線(xiàn)和辦公區等有限的空間里使用掃描電子顯微鏡。因此,體積小、操作簡(jiǎn)便、分辨率高的掃描電子顯微鏡備受關(guān)注。FlexSEM 1000主機寬450mm、長(cháng)640mm,相比SU1510型號體積減小52%,重量減輕45%,功耗減小50%,且配備標準化的電源接口。主機與供電單元可分離,安裝非常靈活。
FlexSEM 1000采用設計的電子光學(xué)系統和高可靠性、高靈敏度的探測器,分辨率高達4nm。FlexSEM 1000有多種自動(dòng)化功能,操作簡(jiǎn)便,即便是初次操作者也能快速拍出高質(zhì)量圖像。另外,新開(kāi)發(fā)的導航功能「SEM MAP」可使用各種光學(xué)圖片或電鏡照片進(jìn)行導航,一鍵就快速精準地切換至感興趣的高倍率視野。
特點(diǎn):
a. 通過(guò)高靈敏度二次電子探測器,背散射探測器,低真空探測器(UVD*2),實(shí)現低加速電壓/低真空下高質(zhì)量圖像觀(guān)察
b. 操作簡(jiǎn)捷,即使新手也能拍出高質(zhì)量的圖片
c. 新開(kāi)發(fā)的導航功能「SEM MAP」,便于快速鎖定視野
d. 大窗口(30 mm2)SDD能譜系統,便于快速分析元素成分*2
*1 設置在桌面時(shí),分離主機和電源箱
*2 選配
項目 | 內容 |
分解能*3 | 4.0 nm @ 20 kV (SE:高真空模式) |
加速電壓 | 0.3 kV ~ 20 kV |
放大倍率 | 6× ~ 300,000× (底片倍率) |
低真空模式 | 真空范圍:6 ~ 100 Pa |
電子槍 | 預對中鎢燈絲 |
樣品臺 | 3-軸自動(dòng)馬達臺 |
樣品尺寸 | 直徑80 mm |
樣品高度 | 40 mm |
尺寸 | 主機:450(W) x 640(D) x 670(H) mm |
探測器選配 | · 高靈敏度低真空二次電子探測器(UVD) · 能量分散型X線(xiàn)探測器(EDS) |
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