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    Thermo Scientific™ ELEMENT™ GD PLUS GD輝光放電質(zhì)譜儀 (GD-MS)

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    ThermoScientific™ELEMENT™GDPLUSGD輝光放電質(zhì)譜儀(GD-MS)存在于固體樣品中的幾乎所有元素都可進(jìn)行常規檢測和定量:許多元素的含量低于十億分率(ppb)水平

    詳細介紹

    Thermo Scientific™ ELEMENT™ GD PLUS GD輝光放電質(zhì)譜儀 (GD-MS)

    存在于固體樣品中的幾乎所有元素都可進(jìn)行常規檢測和定量:許多元素的含量低于十億分率 (ppb) 水平。

    µs 脈沖式高流速輝光放電池

    · 采用脈沖放電模式的高靈敏度離子源

    · 廣泛可調的濺射速率適用于快速進(jìn)行整體分析和高級深度剖析應用

    · 使用二級電極進(jìn)行氧化鋁粉末分析

    雙聚焦質(zhì)譜儀

    · 高離子傳輸率和低背景使得信噪比可達亞 ppb 級檢測限

    · 高質(zhì)量分辨率可提供的選擇性和準確度:是的分析結果的先決條件

    十二數量級的自動(dòng)檢測系統

    · 在一次分析中測定基體和超痕量元素,全自動(dòng)檢測器涵蓋 12 數量級動(dòng)態(tài)線(xiàn)性范圍

    · 直接定量測定基體元素 IBR(離子束比率)

    高效率和簡(jiǎn)單易用的軟件包

    · 所有參數均由計算機控制

    · 全自動(dòng)調諧、分析和數據評估

    · 自動(dòng) LIMS 連接性

    · 遠程控制和診斷

    · Windows 7

    · 樣品周轉時(shí)間通常少于 10 分鐘

    · 能夠在一次分析中測定基體元素到超痕量元素

    · 深度剖析涵蓋數百微米到一納米的層厚度

    · 最小化基體效應,便于進(jìn)行直接定量

    推薦用途:

    航空航天:鎳基高溫合金、復合材料、涂層和擴散層的深度剖析

    微電子學(xué):銅、鋁粉、濺射靶材

    可再生能源:硅塊、晶片、太陽(yáng)能電池

    醫療/制藥/食品:不銹鋼、合金

     

    1.20Thermo Scientific™ ELEMENT XR高分辨ICPMS

     

    在痕量元素定量分析方面,ICP-MS 擁有強大的技術(shù)水平。ICP-MS 最嚴重的限制是對元素信號的多原子干擾。高質(zhì)量數分辨率是消除這些干擾的金標準,可在痕量水平上準確可靠地進(jìn)行多元素定量分析,樣品制備步驟極為簡(jiǎn)便。

    多元素分析

    · 多元素檢測器可處理瞬變信號,包括 HPLC、GC 和激光消融。

    · 元素周期表中的無(wú)干擾測量涵蓋基質(zhì)組分(mg?L-1)和超痕量元素(低于 1 pg?L-1)。

    · 靈敏度 ICP-MS(低分辨率時(shí))。

    靈活性和可用性

    · 高質(zhì)量數分辨率可獲取譜干擾同位素,生成清晰的元素譜

    · 對無(wú)干擾或受干擾同位素進(jìn)行高精度同位素比分析。

    · 熱等離子體和冷等離子體狀態(tài)。

    ELEMENT XR ICP-MS

    寬線(xiàn)性動(dòng)態(tài)檢測范圍對于 ICP-MS 來(lái)說(shuō)至關(guān)重要,因為其允許通過(guò)單次運行分析較寬的濃度范圍。

    集成式法拉第檢測器的特性:

    · 采樣時(shí)間低至 1 ms。

    · 測量高強度峰后無(wú)需衰減時(shí)間

    · SEM 和法拉第之間自動(dòng)切換,延遲時(shí)間為 <1 ms。

    · 不同檢測器模式之間的線(xiàn)性交叉范圍較寬(>2 個(gè)數量級),允許準確進(jìn)行自動(dòng)交叉校正。

    · 動(dòng)態(tài)范圍為 0.2 cps(SEM)到 >1 x 1012 cps(法拉第)。

    質(zhì)譜分析儀器,微生物分析儀,質(zhì)譜儀

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