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哪些原因可能導致XRF快速檢測儀的誤差

閱讀：4發(fā)布時(shí)間：2024-10-1

XRF快速檢測儀采用的是一種相對分析技術(shù)，這意味著(zhù)為了獲得結果，需要將未知樣品中收集的數據與儀器上的標樣數據相比較，并將其與已經(jīng)建立的物理公式相聯(lián)系。雖然此種技術(shù)有較高的接受度，用戶(hù)也接受過(guò)正確使用的培訓，但有些情況會(huì )影響結果并引起誤差。

1.樣品未聚焦

這是XRF快速檢測儀測量零件的關(guān)鍵步驟。聚焦使X射線(xiàn)管、零件和探測器間保持固定的距離。X射線(xiàn)強度會(huì )隨著(zhù)距離的增加而衰減，因此X射線(xiàn)管和探測器與樣品間的距離太遠會(huì )導致測量結果偏薄。而X射線(xiàn)管和探測器與樣品間的距離太近會(huì )導致測量結果偏厚。對于多層鍍層，此種情況更甚，因為距離數據被在計算中錯誤使用。

2.零件放置方向不正確

對于平直零件，旋轉角度不是問(wèn)題，因為XRF信號不受影響。但是對于彎曲零件非常重要的是，將零件的軸與X射線(xiàn)管和探測器的軸向保持一致。

這使零件對齊更容易且數據再現性更好，這可以方便X射線(xiàn)束照射在凸形零件頂部或凹形零件底部，而不是側壁上。與聚焦的情況類(lèi)似，錯位測量也會(huì )改變X射線(xiàn)管樣品-探測器間的距離。在情況下，零件未對齊可能會(huì )使所有XRF信號無(wú)法到達探測器。

3.基材變化

基于鍍層和基底中的材料，基底中的元素會(huì )影響鍍層的XRF特性。以上是的事實(shí)，因此，使用與待測量的零件相似的材料以創(chuàng )建校準程序可獲得更好效果。如果零件的基底材料與校準標樣所使用的基底不同，結果可能會(huì )有誤差。

例如在青銅（CuSn）基底上鍍鎳（Ni）和金（Au）的零件。青銅基底中的錫（Sn）幾乎可以起到輔助X射線(xiàn)源的作用，使鍍層產(chǎn)生更多X射線(xiàn)熒光信號。如果使用純銅（Cu）基底進(jìn)行校準，則錫（Sn）的二次熒光作用未被正確計入計算模型中，從而導致鎳和金的結果不正確。

4.測量結果超出校準范圍

鍍層厚度或成分與強度（XRF響應）之間的關(guān)系在小范圍內是線(xiàn)性關(guān)系，但在較大范圍內可能是曲線(xiàn)關(guān)系。因此，校準曲線(xiàn)被優(yōu)化，在有限的厚度和成分范圍內工作，而不是覆蓋整個(gè)分析范圍。

該優(yōu)化范圍由回歸設置及創(chuàng )建校準曲線(xiàn)時(shí)使用的標樣決定。用戶(hù)可與XRF快速檢測儀制造商合作，了解校準曲線(xiàn)范圍，如果測量結果超出該范圍，則在用戶(hù)的軟件中設置警告。

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