鉑悅儀器（上海）有限公司
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鉑悅儀器（上海）有限公司
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產(chǎn)品型號薄膜厚度
品 牌
廠(chǎng)商性質(zhì)其他
所 在 地上海市
紡織服裝機械網(wǎng)采購部電話(huà)：0571-88918531
QQ:2568841715
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更新時(shí)間：2024-10-30 14:00:38瀏覽次數：139次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)產(chǎn)品描述：薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距離，而實(shí)際上，薄膜的表面是不平整，不連續的，且薄膜內部存在著(zhù)針孔、微裂紋、纖維絲、雜質(zhì)、晶格缺陷和表面吸附分子等。
通常情況下，薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距離，而實(shí)際上，薄膜的表面是不平整，不連續的，且薄膜內部存在著(zhù)針孔、微裂紋、纖維絲、雜質(zhì)、晶格缺陷和表面吸附分子等。因此薄膜的厚度大至可以分成三類(lèi)：形狀厚度，質(zhì)量厚度，物性厚度。形狀厚度指的是基片表面和薄膜表面的距離；質(zhì)量厚度指的是薄膜的質(zhì)量除以薄膜的面積得的厚度，也可以是單位面積所具有的質(zhì)量（g/cm2）；物性厚度指的是根據薄膜材料的物理性質(zhì)的測量，通過(guò)一定的對應關(guān)系計算而得到的厚度。
探針式輪廓儀系統Dektak XTL產(chǎn)品特性
一、Bruker公司的雙攝像頭控制系統
1.通過(guò)點(diǎn)擊實(shí)時(shí)視頻更快鎖定到關(guān)注點(diǎn)
2.通過(guò)選擇實(shí)時(shí)視頻中的兩個(gè)點(diǎn)快速定位樣品（自動(dòng)旋轉使連線(xiàn)水平）
3.通過(guò)在實(shí)時(shí)視頻中點(diǎn)擊掃描起始和結束位置簡(jiǎn)化測量設置（教學(xué)）
二、自動(dòng)化設置和操作
1.借助300毫米的自動(dòng)化編碼XY工作臺以及360度旋轉能力，編程控制無(wú)限制測量位置。
2.利用帶圖形識別功能的Vision64位產(chǎn)品軟件減少使用中的定位偏差
3.將自定義用戶(hù)提示以及其它元數據編入您的方案中，并存儲到數據庫內
三、方便的分析和數據采集
1.快速分析儀支持大部分常用分析方法，可輕松實(shí)現分析程序自動(dòng)化
2.通過(guò)臺階檢測功能將分析集中于復雜樣品上感興趣的特征
3.通過(guò)賦予每個(gè)測量點(diǎn)名稱(chēng)并自動(dòng)記錄到數據庫來(lái)簡(jiǎn)化數據分析
4.Dektak在大樣品制造業(yè)中的傳奇性能
業(yè)界自動(dòng)分析軟件
新增軟件功能使Dektak XTL成為市面上易使用的探針式輪廓儀。系統使用的Vision64軟件,與Bruker公司的光學(xué)輪廓儀兼容。Vision64軟件可以進(jìn)行樣品任何位置測量、3D繪圖以及借助數百個(gè)內置分析工具實(shí)現的高度定制表征方法。也可以使用Vision Microform軟件來(lái)測量曲率半徑等形狀。
探針式檢測技術(shù)
圖形識別功能可以盡量減少操作員誤差并測量位置精度。在同一軟件包內，以直觀(guān)流程進(jìn)行數據采集和2D、3D分析。每個(gè)系統都帶有Vision軟件許可證，可在裝有Windows7操作系統的個(gè)人電腦上安裝，用戶(hù)可在電腦桌面上創(chuàng )建數據分析和報告。
Dektak XTL擁有超過(guò)40年的探針經(jīng)驗和軟件定制生產(chǎn)經(jīng)驗，符合現在和未來(lái)的嚴格的行業(yè)發(fā)展藍圖。
探針式輪廓儀系統Dektak XTL應用
一、晶片應用： 二、大型基板應用：
沉積薄膜（金屬、有機物）的臺階高度 印刷電路板（凸起、臺階高度）
抗蝕劑（軟膜材料）的臺階高度 窗口涂層
蝕刻速率測定 晶片掩模
化學(xué)機械拋光（腐蝕，凹陷，彎曲） 晶片卡盤(pán)涂料
拋光板
三、玻璃基板及顯示器應用： 四、柔性電子器件薄膜：
AMOLED 有機光電探測器
液晶屏研發(fā)的臺階步級高度測量 印于薄膜和玻璃上的有機薄膜
觸控面板薄膜厚度測量 觸摸屏銅跡線(xiàn)
太陽(yáng)能涂層薄膜測量
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