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    行業(yè)產(chǎn)品

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    鉑悅儀器(上海)有限公司


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    超輕元素微區X射線(xiàn)熒光成像光譜儀

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    產(chǎn)品型號M4 TORNADO PLUS

    品       牌

    廠(chǎng)商性質(zhì)其他

    所  在  地上海市

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    更新時(shí)間:2024-10-30 14:16:42瀏覽次數:94次

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    經(jīng)營(yíng)模式:其他

    商鋪產(chǎn)品:72條

    所在地區:上海上海市

    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    產(chǎn)品描述:M4 TORNADOPLUS能夠檢測出C(6)-Am(95)間元素的微區X射線(xiàn)熒光成像光譜儀。

    詳細介紹

    M4 TORNADOPLUS - 微區X射線(xiàn)熒光成像的新紀元

    M4 TORNADOPLUS能夠檢測出C(6)-Am(95)間元素的微區X射線(xiàn)熒光成像光譜儀。

    作為微區X射線(xiàn)熒光成像光譜儀M4TORNADO系列的新產(chǎn)品,M4 TORNADOPLUS又增添了功能,例如創(chuàng )新性的孔徑管理系統,高通量脈沖處理器以及快速靈活更換的樣品臺。

    更輕、更快、更深

    M4 TORNADOPLUS采用超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器(SDD)實(shí)現對輕元素碳的檢測,高通量脈沖可以大程度提升采樣速度,BRUKER孔徑管理系統(AMS)可以獲取大景深,對表面不平整樣品分析具有優(yōu)勢。

    超輕元素檢測

    M4 TORNADOPLUS能夠檢測分析輕質(zhì)元素碳的微區X射線(xiàn)熒光成像光譜儀,具備兩個(gè)具有超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器和一個(gè)優(yōu)化的Rh靶X射線(xiàn)光管。

    與普通微區X射線(xiàn)熒光成像光譜儀不同,M4 TORNADOPLUS在不影響較高能量范圍內元素靈敏度的前提下,還可以檢測原子數小于11的元素(Z<11),例如氟(F)、氧(O)、氮(N)和碳(C)。

    隨著(zhù)功能性的增強,M4 TORNADOPLUS應用也正在開(kāi)發(fā)和拓展中,例如地質(zhì)學(xué)、礦物學(xué)、生物學(xué)、聚合物研究或半導體行業(yè)等方向。

    應用實(shí)例-螢石和方解石的區分

    螢石(CaF2)和方解石(CaCO3)都是以鈣為主要成分的礦物。它們的區別在于分別存在輕質(zhì)元素氟(F),氧(O),碳(C);由于普通微區X射線(xiàn)熒光成像光譜儀檢測不到Z<11(Na)的元素,無(wú)法區分這兩種礦物,所以螢石和方解石的光譜圖上都只會(huì )顯示Ca元素譜線(xiàn)。

    利用超輕元素探測器,M4 TORNADOPLUS可以檢測氟(F)、氧(O)和碳(C),從而鑒別這兩種礦物。

    圖:鑒別螢石與方解石 

    左:方解石(紅)和螢石(藍)的元素分布圖;圖像尺寸:20×12mm2;掃描分辨率:800×460pixels             

    右:螢石(藍)和方解石(紅)的輕質(zhì)元素光譜圖。

    應用實(shí)例-電路板

    由于A(yíng)MS的場(chǎng)深度深,如圖所示電路板的X射線(xiàn)圖像獲得更多的細節。此外,由于激發(fā)X射線(xiàn)光子的入口和出口角度減小,光束能量依賴(lài)性變得不那么明顯。

    圖:具備AMS與不具備AMS的電路板元素分布圖

    左圖: 標準多導毛細管聚焦在電路板上,元件的高點(diǎn)失焦,顯得模糊。

    右圖: AMS系統加載下圖像顯示高景深,組件聚焦在更大的景深范圍內。


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