TriStarII3020杜瓦瓶哪家好 返回列表頁(yè)

適配TriStarII3020表面與孔隙分析儀玻璃杜瓦瓶儀器簡(jiǎn)介：

TriStarII3020新一代全自動(dòng)比表面積和孔隙度分析儀,可同時(shí)進(jìn)行三個(gè)樣品的分析從而提高分析效率，提供全吸附、脫附曲線(xiàn)、BET及Langmuir比表面、平均孔尺寸和單點(diǎn)總孔體積、BJH中孔、大孔體積、面積分布、總孔體積、deBoert-plot數據處理微孔體積和表面積，厚度公式、αs-plot和f-ratio法、MP法。

歧管和三個(gè)樣品分析站分別配有獨立的傳感器，可以同時(shí)的測量三個(gè)樣品，PO管同樣擁有獨立的壓力傳感器。

軟件配備自檢系統，方便用戶(hù)自行檢測儀器

選配的分子渦輪泵以及10mmHg可以將儀器升級到微孔單元。

技術(shù)參數：

1.比表面測量范圍為氮氣吸附0.01m2/g 至無(wú)上限，氪氣吸附0.0001m2/g 至無(wú)上限

2.孔徑分析范圍：3.5 ?！?000 埃，

3.測量5 點(diǎn)BET 比表面僅需20 分鐘。

4.重復性?xún)?yōu)于1％。

5.真正的三站同時(shí)測量。每個(gè)分析站均有獨立的高精度壓力傳感器。

6.新的軟件字幕，以太網(wǎng)口連接主機和電腦的通訊數據線(xiàn)，內置電子檢測點(diǎn)和強大的儀器自診斷功能.

7.可升級至微孔單元，選配的分子渦輪泵和10mmHg高精度壓力傳感器

8.多種樣品制備系統可選。

適配TriStarII3020表面與孔隙分析儀玻璃杜瓦瓶儀器主要特點(diǎn)：

分析方法包括

全吸附、脫附曲線(xiàn)（吸附脫附曲線(xiàn)都做到1000 個(gè)測量點(diǎn)）

單點(diǎn)或多點(diǎn)BET 比表面積

Langmuir 比表面

平均孔尺寸和單點(diǎn)總孔體積

BJH 吸附/脫附曲線(xiàn)，中孔、大孔信息

（體積、面積分布）

Harkins Jura 厚度層公式

Halsey 厚度層公式

中孔和大孔體積、面積對孔徑分布

NLDFT 非定域密度函數理論

總孔體積Validation reports

專(zhuān)為企業(yè)服務(wù)的SPC（Statistical Process Control 統計過(guò)程控制）報告。

Dollimore-Heal adsorption and desorption

Kruk-Jaroniec-Sayari correction

de Boer t-plot（數據處理微孔體積和表面積，厚度公式）

αs－plot f-ratio

MP 法，Harkins Jura 厚度層公式，Halsey 厚度層公式，

Kruk-Jaroniec-Sayari correction