1、高溫貯存
電子元器件的失效大多數是由于體內和表面的各種物理化學(xué)變化所引起，它們與溫度有密切的關(guān)系。溫度升高以后，化學(xué)反應速度大大加快，失效過(guò)程也得到加速。使得有缺陷的元器件能及時(shí)暴露，予以剔除。
高溫篩選在半導體器件上被廣泛采用，它能有效地剔除具有表面沽污、鍵合不良、氧化層有缺陷等失效機理的器件。通常在結溫下貯存24~168小時(shí)。
高溫篩選簡(jiǎn)單易行，費用不大，在許多元器件上都可以施行。通過(guò)高溫貯存以后還可以使元器件的參數性能穩定下來(lái)，減少使用中的參數漂移。各種元器件的熱應力和篩選時(shí)間要適當選擇，以免產(chǎn)生新的失效機理。
2.功率電老煉
篩選時(shí)，在熱電應力的共同作用下，能很好地暴露元器件體內和表面的多種潛在缺陷，它是可靠性篩選的一個(gè)重要項目。
各種電子元器件通常在額定功率條件下老煉幾小時(shí)至168小時(shí)，有些產(chǎn)品，如集成電路，不能隨便改變條件，但可以采用高溫工作方式來(lái)提高工作結溫，達到高應力狀態(tài)，各種元器件的電應力要適當選擇，可以等于或稍高于額定條件，但不能引人新的失效機理。
功率老煉需要專(zhuān)門(mén)的試驗設備，其費用較高，故篩選時(shí)間不宜過(guò)長(cháng)。民用產(chǎn)品通常為幾個(gè)小時(shí)，高可靠產(chǎn)品可選擇100、168小時(shí)，宇航級元器件可以選擇240小時(shí)甚至更長(cháng)的周期。
3.溫度循環(huán)
電子產(chǎn)品在使用過(guò)程中會(huì )遇到不同的環(huán)境溫度條件，在熱脹冷縮的應力作用下，熱匹配性能差的元器件就容易失效。溫度循環(huán)篩選利用了高溫和低溫間的熱脹冷縮應力，能有效的剔除有熱性能缺陷的產(chǎn)品。元器件常用的篩選條件是–55~+125℃，循環(huán)5~10次。
4.元器件篩選的必要性
電子元器件的固有可靠性取決于產(chǎn)品的可靠性設計，在產(chǎn)品的制造過(guò)程中，由于人為因素或原材料、工藝條件、設備條件的波動(dòng)，最終的成品不可能全部達到預期的固有可靠性。
在每一批成品中，總有一部分產(chǎn)品存在一些潛在的缺陷和弱點(diǎn)，這些潛在的缺陷和弱點(diǎn)，在一定的應力條件下表現為早期失效。具有早期失效的元器件的平均壽命比正常產(chǎn)品要短得多。
電子設備能否可靠地工作的基礎是電子元器件能否可靠地工作。如果將早期失效的元器件裝上整機、設備，就會(huì )使得整機、設備的早期失效故障率大幅度增加，其可靠性不能滿(mǎn)足要求，而且還要付出極大的代價(jià)來(lái)維修。
因此，應該在電子元器件裝上整機、設備之前，就要設法把具有早期失效的元器件盡可能地加以排除，為此就要對元器件進(jìn)行篩選。根據國內外的篩選工作經(jīng)驗，通過(guò)有效的篩選可以使元器件的總使用失效率下降1-2個(gè)數量級，因此不管是產(chǎn)品還是民用產(chǎn)品，篩選都是保證可靠性的重要手段。
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