冷熱沖擊試驗箱報價(jià) 返回列表頁(yè)

（一）、箱體構造：

2.1.1. 內箱材料：采用1.2mm厚SUS304#不銹鋼經(jīng)過(guò)高精度數控設備切割加工后彎折成型，接縫處采用氬弧焊接打磨拋光處理，精美大方。

2.1.2. 外箱材料：采用1.2mm厚冷軋鋼板經(jīng)過(guò)高精度數控設備切割加工后彎折成型，接縫處采用氬弧焊接打磨拋光處理后高溫噴粉烤漆處理表面，有效防止生銹，外觀(guān)烤漆處理。

2.1.3. 保溫材料：采用耐高溫玻璃纖維棉+聚氨酯硬質(zhì)發(fā)泡膠制作而成混合保溫層，保溫效果明顯。

2.1.4. 斷熱層：高溫區與低溫區間采用加厚保溫層斷熱，吊籃移動(dòng)孔連接板采用環(huán)氧樹(shù)脂板斷熱。

模塊芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗箱是一種專(zhuān)門(mén)設計用于測試電子模塊、芯片及其組件在溫度變化和冷熱沖擊環(huán)境下的可靠性和耐久性的實(shí)驗設備。隨著(zhù)電子產(chǎn)品向更高性能、更小體積發(fā)展，電子模塊和芯片在各種工作條件下的可靠性變得尤為重要，因此需要進(jìn)行冷熱循環(huán)沖擊試驗，以確保其在實(shí)際應用中能穩定工作。

試驗箱的主要功能和特點(diǎn)：

1. 模擬冷熱沖擊環(huán)境：

• 試驗箱通過(guò)精確的溫度控制和變化速率，模擬芯片和電子模塊在實(shí)際使用過(guò)程中可能遇到的溫差沖擊。這包括從高溫到低溫的快速轉換（冷熱循環(huán)沖擊）以及溫度的急劇波動(dòng)。

• 試驗過(guò)程可以模擬芯片在電子設備或系統中的實(shí)際工作環(huán)境，如啟動(dòng)時(shí)的低溫環(huán)境或高溫環(huán)境下的運作。

2. 溫度范圍和變化速率：

• 芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗箱通常具備較寬的溫度控制范圍，常見(jiàn)范圍為**-40°C至+150°C**，設備可以達到**-70°C至+180°C**，能夠滿(mǎn)足各種芯片和模塊的測試需求。

• 溫度變化速率通常在5°C/min至20°C/min之間，測試過(guò)程中溫度的快速變化模擬實(shí)際應用中可能出現的環(huán)境變化。

3. 冷熱循環(huán)功能：

• 該試驗箱可進(jìn)行冷熱循環(huán)試驗，通過(guò)周期性地變化溫度，模擬設備在真實(shí)環(huán)境中的反復冷熱交替變化。冷熱循環(huán)的次數和周期可以根據測試需求進(jìn)行調整，通常為數十到幾百個(gè)循環(huán)。

• 每個(gè)循環(huán)包括高溫階段、低溫階段以及冷卻/加熱過(guò)程，模擬從一個(gè)溫度到另一個(gè)溫度的環(huán)境變化。

4. 精確的溫控與均勻性：

• 高精度的溫度控制系統是試驗箱的一大特點(diǎn)，通常要求溫度波動(dòng)在±0.5°C以?xún)?/strong>，確保試驗條件的穩定性和可重復性。

• 試驗箱內部的溫度均勻性非常重要，確保溫度在整個(gè)測試空間內均勻分布，避免局部溫差影響測試結果。

5. 濕度控制（可選）：

• 部分試驗箱可能配有濕度控制系統，用于模擬潮濕環(huán)境下的測試條件，特別適用于芯片或模塊在潮濕環(huán)境中的穩定性測試。濕度范圍通常為20%RH至98%RH。

6. 自動(dòng)化控制與數據記錄：

• 芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗箱通常配有自動(dòng)化控制系統，可以通過(guò)觸摸屏、PC或遠程控制系統進(jìn)行操作，設置溫度、時(shí)間、循環(huán)次數等參數。

• 設備還支持數據記錄和實(shí)時(shí)監控，能夠自動(dòng)記錄每個(gè)測試周期的溫度、濕度變化、測試時(shí)間等信息，為后續分析和報告提供支持。

7. 安全保護設計：

• 為了保證試驗過(guò)程的安全性，試驗箱通常配備有過(guò)溫保護、防止設備損壞的功能。例如，在設備溫度超過(guò)設定范圍或出現故障時(shí)，會(huì )自動(dòng)啟動(dòng)保護機制，避免對芯片或模塊造成損壞。

8. 多樣化的測試空間：

• 試驗箱內部空間大小可以根據不同測試需求進(jìn)行定制，適用于各種尺寸的芯片和電子模塊。不同的內部架構設計可以容納多個(gè)模塊芯片同時(shí)進(jìn)行測試，或者單個(gè)芯片的精密測試。

應用領(lǐng)域：

1. 電子元器件與芯片制造：

• 該試驗箱常用于電子元器件、芯片以及其他電子模塊的可靠性驗證，測試其在溫度變化中的穩定性。芯片和模塊在面對不同的溫差沖擊時(shí)，可能會(huì )由于熱膨脹和熱收縮導致焊點(diǎn)松動(dòng)、線(xiàn)路斷裂或內部結構損壞，因此需要通過(guò)冷熱循環(huán)沖擊試驗來(lái)驗證其耐溫性和可靠性。

2. 汽車(chē)電子：

• 車(chē)載電子系統中的芯片和模塊（如發(fā)動(dòng)機控制單元、車(chē)載計算機、傳感器模塊等）需要應對汽車(chē)在溫度變化下的工作環(huán)境。冷熱循環(huán)沖擊試驗幫助確保這些電子設備在高溫、低溫及快速溫度變化下能夠正常工作。

3. 通訊行業(yè)：

• 在通信設備（如基站、手機、衛星通訊設備等）中，芯片和電子模塊需要承受長(cháng)時(shí)間的溫差變化，因此通過(guò)冷熱循環(huán)沖擊試驗來(lái)驗證其性能和可靠性非常重要。

4. 消費電子：

• 智能手機、平板電腦、筆記本電腦等消費類(lèi)電子產(chǎn)品中的芯片和模塊需要保證在環(huán)境下穩定運行。冷熱循環(huán)沖擊試驗可以有效評估其在冷熱交替環(huán)境中的工作能力，確保產(chǎn)品質(zhì)量。

5. 航空航天：

• 在航空航天領(lǐng)域，芯片和電子模塊需要在廣泛的溫度范圍內可靠工作。冷熱循環(huán)沖擊試驗可以模擬高空飛行過(guò)程中設備所遇到的溫差，確保電子設備能在航天環(huán)境中正常工作。

6. 軍事裝備：

• JUN用電子設備，如雷達、導航系統、傳感器等，常常暴露在的溫度和快速變化的溫差下。通過(guò)冷熱循環(huán)沖擊試驗，可以確保這些設備在苛刻環(huán)境中不失效。

總結：

模塊芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗箱是用于測試電子模塊和芯片在溫度條件下的可靠性和穩定性的專(zhuān)業(yè)設備。它通過(guò)模擬芯片和電子模塊在真實(shí)工作環(huán)境中的溫度變化（冷熱沖擊），幫助評估其在溫差、熱膨脹、熱收縮等條件下的長(cháng)期穩定性和工作性能。該設備廣泛應用于電子產(chǎn)品制造、汽車(chē)電子、通訊、消費電子、航空航天及軍事等領(lǐng)域，確保電子元件在各種環(huán)境下的高可靠性和穩定性。