國產(chǎn)掃描探針顯微鏡價(jià)格 返回列表頁(yè)

HR-AFM多功能掃描探針顯微鏡是一款專(zhuān)業(yè)級的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀(guān)測樣品微區三維形貌和多相結構；同時(shí)可對樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究，數值測定與分析。

國內生產(chǎn)的HR-AFM原子力顯微鏡

標準工作模式：輕敲模式(Vibration mode)，接觸模式 (Contact mode)，相位成像模式 (Phase imaging)，橫向力模式 (LFM)，力曲線(xiàn)測試（Force Curve），納米操控 （Nanomanipulation），納米刻蝕 （Nanolithography），力矩陣模式 （Force Mapping），摩擦力測試 （Friction Mode）

可選工作模式：導電原子力顯微鏡 （C-AFM），磁力顯微鏡（MFM），靜電力顯微鏡（EFM）,掃描電勢顯微鏡（SKPM）。

多功能掃描探針顯微鏡具有軟件自動(dòng)進(jìn)針功能。通過(guò)軟件控制Z方向馬達實(shí)現探針自動(dòng)進(jìn)針

X,Y,Z三軸分離的掃描器。

掃描范圍 100×100×17μm

Z軸分辨率0.035nm

樣品臺尺寸：25mm*25mm*18mm

操作軟件：使用Laview環(huán)境語(yǔ)言控制，免費提供操作軟件，并提供維護及升級

提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數據分析系統

頂視系統光學(xué)分辨率≤2微米

視場(chǎng)范圍從2mm*2mm到300um*300um可調，放大倍率從45倍到400倍機械可調

側視系統，提供可視化下針，可以通過(guò)電腦精確觀(guān)察控制下針過(guò)程，防止撞針