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    射線(xiàn)檢測之底片暗室處理要點(diǎn)

    閱讀:15發(fā)布時(shí)間:2025-2-10

          射線(xiàn)檢測之底片暗室處理要點(diǎn)


    在深水海洋石油平臺鋼結構中,中厚板的雙面焊T型以及中厚板K型和單邊V型坡口焊接接頭容易出現根部的未焊透、未融合、裂紋等垂直于檢測面的危害性面狀缺陷。用單一斜探頭不易發(fā)現此類(lèi)缺陷,容易漏檢,尤其是用角度較小的探頭檢測時(shí)。由于串列式超聲波檢測對垂直性面狀缺陷檢測效果好,對深水海洋石油平臺鋼結構中厚板的雙面焊T型焊接接頭進(jìn)行了串列式超聲檢測,結果表明,該方法可作為常規超聲檢測的一種輔助型檢測方法,下面我們通過(guò)實(shí)例來(lái)給大家詳細說(shuō)明一下。


    圖片4

    在某海工項目中,用常規的超聲檢測工藝,對50mm厚的環(huán)板結構T型焊縫進(jìn)行超聲檢測。使用型號為5Z8×12A70的斜探頭進(jìn)行檢測,前沿為13mm,發(fā)現深度h=24.5mm,水平S=55mm處有一個(gè)很高的疑似缺陷的回波,其檢測原理示意如下圖所示:

     

    為了更好的驗證此缺陷我們用45°,60°角度分別進(jìn)行檢測,未發(fā)現反射回波。而70°探頭也僅能發(fā)現局部缺陷反射回波,分析得出,熔合線(xiàn)處未熔合缺陷面積比較大,屬于大型面狀缺陷,且垂直于檢測面,用45°和60°探頭產(chǎn)生的波束與缺陷的夾角相對較小,單斜探頭接收到的反射回波能量較小,而70°探頭與缺陷平面的夾角相對較大,同時(shí)未熔合缺陷不可能都是面狀規則的,且探頭有一定的擴散角,在缺陷局部呈現出較高的反射回波信號。

    對于這種情況我們可以選擇串列式超聲檢測,它是將兩個(gè)探頭一前一后,以串列基準線(xiàn)等間隔地移動(dòng)掃查,兩探頭以相同的方向放置在焊縫一側的表面上,一個(gè)探頭發(fā)射超聲波,另一個(gè)探頭接收超聲波。串列式超聲檢測原理示意如下圖所示 當發(fā)現垂直于檢測面的缺陷時(shí),超聲波經(jīng)缺陷反射至底面,再由底面反射至接收探頭,從而接收到缺陷反射信號。

    串列式掃查存在上下檢測“盲區",看下面的圖,當兩探頭B1和B2緊靠在一起時(shí),由于探頭前沿僅能發(fā)現根部以上的垂直型缺陷,不能檢測到根部缺陷。當兩探頭反方向等距離移動(dòng)時(shí),直至A1探頭到達焊縫余高,探頭將不能繼續移動(dòng),只能掃查到工件表面以下的垂直性面狀缺陷。采用橫波入射,入射角在30°或60°附近時(shí),端角反射率蕞低。因此,串列式掃查通常采用2個(gè)45°,頻率相同,且探頭的聲速偏離角不大于2°的單斜探頭。

     

    關(guān)于設備的調校,時(shí)基線(xiàn)掃描比例應按單斜探頭的方法調節,蕞大探測比例應大于1倍跨距聲程。靈敏度調節以直徑為6mm的平底孔作為基準反射體,靈敏度調節方法具體參見(jiàn)標準GB/T29712-2013《焊縫無(wú)損檢測 超聲檢測 驗收等級》。


    圖片3

    缺陷位置的確定,看串列式掃查的缺陷定位原理示意圖。采用串列式掃查時(shí),位于焊縫中任何深度缺陷的反射波均在示波屏同一位置顯示,這時(shí)缺陷水平距離和深度分別如下面兩公式:

    l=T?K-L/2   H=T-L/(2K)

    式中:

    l為水平距離;

    H為深度;

    T為工件厚度;

    K為探頭K值(折射角度的正切值);

    L為兩探頭入射點(diǎn)間的距離。

     

    串列式掃查的缺陷定位原理示意圖

     圖片2

    簡(jiǎn)易串列式掃查工裝夾具外觀(guān)

    我們來(lái)驗證上面的缺陷情況,用兩個(gè)5Z10×10A45 型號斜探頭和一塊厚50.8mm的試塊,模擬現場(chǎng)厚度為50mm的環(huán)板根部未熔合垂直性面狀缺陷的串列式超聲檢測,其檢測原理示意如下圖所示。

     

    顯示有較高的缺陷回波,且波形清晰穩定,通過(guò)現場(chǎng)返修,驗證了該缺陷為熔合線(xiàn)處的未熔合缺陷。

    由此可知,雖然串列式超聲檢測有檢測盲區,且工裝夾具操作不便,但其能有效發(fā)現垂直性面狀缺陷,解決了單斜探頭對該類(lèi)缺陷檢出率低的問(wèn)題,可作為常規超聲檢測的輔助檢測方法。尤其對中厚板T型焊接接頭以及中厚板K型和單邊V坡口熔合線(xiàn)附近的缺陷采用串列式掃查配合單斜探頭的超聲檢測,可有效地提高缺陷檢出率,提高海洋石油工程鋼結構的品質(zhì)。

    射線(xiàn)檢測之底片暗室處理要點(diǎn)

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