長(cháng)沙百斯特檢測技術(shù)有限公司
員1.png)
長(cháng)沙百斯特檢測技術(shù)有限公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號CSK-IA 試塊
品 牌
廠(chǎng)商性質(zhì)其他
所 在 地長(cháng)沙市
紡織服裝機械網(wǎng)采購部電話(huà)：0571-88918531
QQ:2568841715
聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間：2025-02-12 15:38:16瀏覽次數：30次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)CSK-IA試塊是我國承壓設備無(wú)損檢測標準NB/T47013中規定的標準試塊，其結構尺寸如圖所示
CSK-IA試塊是我國承壓設備無(wú)損檢測標準NB/T47013中規定的標準試塊，其結構尺寸如圖所示。
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進(jìn)而來(lái)的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長(cháng)度;2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線(xiàn)的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性和動(dòng)態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;7利 用50、44和40mm 三個(gè)臺階孔測定斜探頭分 辨力。
CSK-IA 試塊是我國承壓設備無(wú)損檢測標準 NB/T47013 中 規定的標準試塊。
CSK-IA 試塊使用說(shuō)明及測試方法
水平線(xiàn)性(時(shí)基線(xiàn)性)的檢驗
水平線(xiàn)性又稱(chēng)時(shí)基線(xiàn)性，或掃描線(xiàn)性。是指輸入到超聲檢測儀中的不 同回波的時(shí)間間隔與超聲檢測儀顯示屏時(shí)基線(xiàn)上回波的間隔成正比關(guān)系的 程度。水平線(xiàn)性影響缺陷位置確定的準確度。水平線(xiàn)性的測試可利用任何 表面光滑、厚度適當，并具有兩個(gè)相互平行的大平面的試塊，用縱波直探 頭獲得多次回波，并將規定次數的兩個(gè)回波調整到與兩端的規定刻度線(xiàn)對 齊，之后，觀(guān)察其他的反射回波位置與水平刻度線(xiàn)相重合的情況。其測試 步驟如下:
(1)將直探頭置于 CSK-IA 試塊上，對準 25mm 厚的大平底面， 如圖 a 所示
(2)調整微調、水平或脈沖移位等旋鈕，使示波屏上出現五次底波 B1 到 B5，且使 B1 對準 2.0，B5 對準 10.0，如圖 b 所示
(3)觀(guān)察和記錄 B2、B3、B4 與水平刻度值 4.0、6.0、8.0 的偏差 值 a2、a3、a4。
(4)計算水平誤差:公式
式中，amax——a2，a3，a4 中者 b——示波屏水平滿(mǎn)刻度值
縱波探測范圍和掃描速度的調整
在利用縱波探傷時(shí)，可以利用試塊的已知厚度來(lái)調整探測范圍和掃描 速度，此過(guò)程我往往和檢驗時(shí)基線(xiàn)性同步進(jìn)行。當探測范圍在 250mm 以 內時(shí)，可將探頭置于 25mm 厚的大平底上，使四次底部回波位于刻度四， 十次底部回撥位于刻度十，則刻度十就代表實(shí)際探測聲程為 250mm。當探測聲程范圍大于 250mm 時(shí)，可將探頭置于如圖的 B 或 C 處，使各次底 波位于相應的刻度處，此時(shí)起始零點(diǎn)亦同時(shí)得到修正。
調整橫波掃描速度和探測范圍
由于縱波的聲程 91mm 相當于橫波聲程 50mm，因此可以利用試塊 上 91mm 來(lái)調整橫波的檢測范圍和掃描速度。例如橫波 1:1，先用直探頭 對準 91 底面，是 B1、B2 分別對準 50、100，然后換上橫波探頭并對準 R100 圓弧面，找到回波，并調至 100 即可。
測定儀器與直探頭遠場(chǎng)分辨力
(1)抑制旋鈕調至“0"，探頭置于如圖所示位置，左右移動(dòng)探頭， 使顯示屏上出現 85、91、100 三個(gè)反射回波 A、B、C 如圖所示，則波峰 和波谷的分貝差 20Lg(a/b) 表示分辨力。
(2)NB/T47013-2015 中規定，直探頭遠場(chǎng)分辨力大于等于 20dB。
測定儀器與斜探頭的分辨力
(1)探頭置于如圖所示位置，對準 50mm、44mm、40mm 階梯孔， 使示波屏上出現三個(gè)反射波。
(2)平行移動(dòng)探頭并調節儀器，使 50mm、44mm 回波等高，如圖所示， 其波峰和波谷分別為 h1、h2，其分辨力為
X = 20Lgh1/h2(dB)
NB/T47013-2015 中規定，斜探頭的遠場(chǎng)分辨力大于等于 12 分貝。
測定斜探頭入射點(diǎn)
將探頭置于圖示位置，向 R100mm 的圓弧發(fā)射超聲波，前后移動(dòng)探頭， 直到 R100mm 圓弧面反射波達到點(diǎn)，此時(shí)與 CSK-1A 試塊側面標 線(xiàn)中心點(diǎn)“0"相對應的探頭契塊那一點(diǎn)即為探頭入射點(diǎn)。
測定斜探頭K值
根據探頭折射角的大小，將探頭置于試塊的不同位置進(jìn)行測量，如圖所示。波形圖同于入射點(diǎn)波形圖。
測量時(shí)，探頭應放正使波束中心線(xiàn)與試塊側面平行，前后移動(dòng)探頭， 找到 50mm 孔或 1.5mm 孔的反射波。此時(shí)，聲束中心線(xiàn)必然與入射 點(diǎn)和圓心之間的連線(xiàn)相重合，即聲束中心線(xiàn)垂直于孔表面。這時(shí)，試塊上 與入射點(diǎn)相應的角度線(xiàn)所標的值即為該斜探頭的 K 值。
垂直線(xiàn)性的檢驗
將探傷儀的抑制和補償旋鈕置于“0"或“關(guān)"用直探頭放置在圖中 A 或 B 位置。并保證探頭與試塊之間有良好的聲耦合。
調整衰減器使試塊底波高度為熒光屏的滿(mǎn)刻度，此時(shí)必須有 30 分貝的 衰減量。然后每衰減 2 分貝用百分率讀出反射波高度，直到 26 分貝，在 判斷 30 分貝時(shí)反射波是否存在，將結果記錄表中。評定垂直線(xiàn)性時(shí)，以反 射波高度的理想波高為基準，以測試值與基準值的正偏差(+d)及最 大負偏差(-d)之和來(lái)判定垂直線(xiàn)性。
D=[|+d|+|-d|]×%
盲區的估計
盲區是指最小的探測距離，測試方法是:將直探頭置于探頭位置圖中 D、 E 位置，測量 50mm 圓孔反射波。從而可以估計出盲區小于等于 5mm 或 大于等于 10mm，或者介于兩者之間。
穿透能力估計
將直探頭置于探頭位置圖中 F 位置，將儀器個(gè)靈敏度旋鈕均置于， 測試試塊中有機玻璃塊反射波次數和次反射波高度。以此來(lái)估計最 大穿透力，借以比較探傷儀器及探頭組合性能隨時(shí)間變化的情況。
探測靈敏度的調整
根據 AVG 原理，在探頭探傷時(shí)可把 R100mm 圓弧面視為大平底反射， 以此來(lái)調整探測靈敏度。直探頭探傷時(shí)可把厚度為 25/100mm 的幾個(gè)側面 視為大平底處理，以此來(lái)調整靈敏度。另外，也可以根據探傷要求，儀測 量 1.5mm 橫通孔反射波來(lái)確定靈敏度。
測定斜探頭聲束軸線(xiàn)偏離
在 CSK-IA 試塊上厚 25mm 的平面上，使聲束指向棱邊，對于 K 值小于等于 1 的探頭，聲束經(jīng)底面反射指向上棱角;K 值大于 1 的聲束指 向下棱角，前后左右擺動(dòng)探頭，使所測棱邊端角回波幅度，固定探頭 不動(dòng)，然后用量角器或適當的方法測量斜探頭幾何中心聲束軸線(xiàn)與棱邊法 線(xiàn)的夾角(例如測量探頭斜面與試塊端面垂直線(xiàn)的夾角)，即為聲束軸線(xiàn) 偏斜角。應當注意:斜探頭的聲束擴散角較大時(shí)，可能影響到回波的 探測，以致可能產(chǎn)生較大的測量誤差。
您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
卸扣式DYNA-LINK無(wú)線(xiàn)拉力計cpa-50000kg
AXL-W3 面議
高精度DYNA LINK無(wú)線(xiàn)測力計cap-3000kg
cap-3000kg 面議紡織服裝機械網(wǎng) 設計制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
