蘇州實(shí)譜儀器有限公司
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
將全反射技術(shù)應用到X射線(xiàn)熒光分析中所開(kāi)發(fā)的多導毛細管技術(shù),輕松應對超小測量點(diǎn)薄涂層和極薄涂層的測量分析,在柔性電路板、芯片封裝環(huán)節、晶圓微區以及微小尺寸電感電阻的鍍層厚度和成分自動(dòng)測試分析中盡顯優(yōu)勢主要利用X射線(xiàn)全反射原理,從X射線(xiàn)管激發(fā)出來(lái)的X射線(xiàn)束在毛細玻璃管的內壁以全反射的方式進(jìn)行傳輸,利用毛細玻璃管的彎曲來(lái)改變X射線(xiàn)的傳輸方向,從而實(shí)現X射線(xiàn)匯聚,同時(shí)將X射線(xiàn)的強度增加2~3個(gè)數量級。
普通X射線(xiàn)鍍層測厚儀結構:
多導毛細管X射線(xiàn)鍍層測厚儀光路結構:
測量精度更高:新開(kāi)發(fā)的的光學(xué)器件和的多導毛細管技術(shù)可對超微小區域及納米級薄層高精度測量
超微小樣品檢測:精確測試最小測量點(diǎn)直徑可達10µm,測量微點(diǎn)技術(shù)的者
測量效率高:高靈敏度、高解析度X熒光檢測系統搭配多導毛細管技術(shù),測量時(shí)間更短,能夠實(shí)現普通機型幾倍的檢測量
適配性強:適用于各類(lèi)樣品尺寸的產(chǎn)品線(xiàn),如600*600mm大型印刷電路板
操作體驗佳:高精細樣品觀(guān)察圖像,微區小至納米級別的分辨率,實(shí)現更快速便捷的測試
自動(dòng)、智能:搭載可編程全自動(dòng)位移平臺,無(wú)人值守、自動(dòng)檢測樣品同時(shí)搭載影像識別功能,自動(dòng)判定測試位置
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