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    北京八零時(shí)代科技發(fā)展有限公司


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    FISCHERSCOPE XDAL X射線(xiàn)熒光測試儀

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    產(chǎn)品型號FISCHERSCOPE XDAL X射線(xiàn)熒光測試儀

    品       牌

    廠(chǎng)商性質(zhì)其他

    所  在  地北京市

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    更新時(shí)間：2025-03-11 10:24:14瀏覽次數：18次

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    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    介紹FISCHERSCOPEXDALX射線(xiàn)熒光測試儀

    詳細介紹

    介紹
    FISCHERSCOPE XDAL X射線(xiàn)熒光測試儀，帶有可編程的 X/Y平臺和Z軸，可自動(dòng)測量鍍層厚度和分析材料組分
    FISCHERSCOPE XDAL X射線(xiàn)熒光測試儀特點(diǎn)
    配備了半導體探測器，由于有更好的信噪比，能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測量
    使用微聚焦管可以測量較小的測量點(diǎn)，但因為其信號量較低，不適合測量十分細小的結構  
    底部C型開(kāi)槽的大容量測量艙
    有彈出功能的快速、可編程XY平臺
    FISCHERSCOPE XDAL X射線(xiàn)熒光測試儀典型應用領(lǐng)域
    鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）
    來(lái)料檢驗，生產(chǎn)監控
    研究和開(kāi)發(fā)
    電子工業(yè)
    接插件和觸點(diǎn)
    黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
    可以測量數納米薄的鍍層，如印刷線(xiàn)路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
    痕量元素分析
    在有“高可靠性"要求的應用中確定鉛（Pb）含量
    硬質(zhì)鍍層分析  

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