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    涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100

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    涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100

    詳細介紹

    涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100

    型號

    1100

    2100

    3100

    4100

    MINITEST 存儲的數據量
    應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)

    1

    1

    10

    99

    每個(gè)應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動(dòng)統計,可設寬容度極限值)

    -

    1

    10

    99

    可用各自的日期和時(shí)間標識特性的組數

    -

    1

    500

    500

    數據總量

    1

    10000

    10000

    10000

    MINITEST統計計算功能
    讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar

    -

    讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

    -

    -

    組統計值六種x,s,n,max,min,kvar

    -

    -

    組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

    -

    -

    存儲顯示每一個(gè)應用行下的所有組內數據

    -

    -

    -

    分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值

    -

    -

    顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間

    -

    其他功能
    透過(guò)涂層進(jìn)行校準(CTC)

    -

    在粗糙表面上作平均零校準

    利用計算機進(jìn)行基礎校準

    補償一個(gè)常數(Offset)

    -

    -

    外設的讀值傳輸存儲功能

    -

    保護并鎖定校準設置

    更換電池是存儲數值

    設置極限值

    -

    -

    公英制轉換

    連續測量模式快速測量,通過(guò)模擬柱識別zui大zui小值

    -

    -

    連續測量模式中測量穩定后顯示讀數

    -

    -

    浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數據傳送

    組內單值延遲顯示

    -

    連續測量模式中顯示zui小值


    可選探頭參數
    所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
    F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
    N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
    FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

    探頭

    量程

    低端
    分辨率

    誤差

    zui小曲率
    半徑(凸/凹)

    zui小測量
    區域直徑

    zui小基
    體厚度

    探頭尺寸




    F05

    0-500μm

    0.1μm

    ±(1%±0.7μm)

    1/5mm

    3mm

    0.2mm

    φ15x62mm

    F1.6

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    5mm

    0.5mm

    φ15x62mm

    F1.6/90

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    平面/6mm

    5mm

    0.5mm

    φ8x170mm

    F3

    0-3000μm

    0.2μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    5mm

    0.5mm

    φ15x62mm

    F10

    0-10mm

    5μm

    ±(1%±10μm)

    5/16mm

    20mm

    1mm

    φ25x46mm

    F20

    0-20mm

    10μm

    ±(1%±10μm)

    10/30mm

    40mm

    2mm

    φ40x66mm

    F50

    0-50mm

    10μm

    ±(3%±50μm)

    50/200mm

    300mm

    2mm

    φ45x70mm


    FN1.6

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    5mm

    F0.5mm
    N50μm

    φ15x62mm

    FN1.6P

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    平面

    30mm

    F0.5mm
    N50μm

    φ21x89mm

    FN2

    0-2000μm

    0.2μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    5mm

    F0.5mm
    N50μm

    φ15x62mm




    N02

    0-200μm

    0.1μm

    ±(1%±0.5μm)

    1/10mm

    2mm

    50μm

    φ16x70mm

    N.08Cr

    0-80μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    2.5mm

    2mm

    100μm

    φ15x62mm

    N1.6

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    1.5/10mm

    2mm

    50μm

    φ15x62mm

    N1.6/90

    0-1600μm

    0.1μm

    ±(1%±1μm)

    平面/10mm

    5mm

    50μm

    φ13x170mm

    N10

    0-10mm

    10μm

    ±(1%±25μm)

    25/100mm

    50mm

    50μm

    φ60x50mm

    N20

    0-20mm

    10μm

    ±(1%±50μm)

    25/100mm

    70mm

    50μm

    φ65x75mm

    N100

    0-100mm

    100μm

    ±(1%±0.3mm)

    100mm/平面

    200mm

    50μm

    φ126x155mm

    CN02

    10-200μm

    0.2μm

    ±(1%±1μm)

    平面

    7mm

    無(wú)限制

    φ17x80mm

    注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
    N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
    CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。


    探頭圖示

    FN1.6探頭德國EPK FN1.6
    0~1600μm,φ5mm
    兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
    量程低端分辨率很高(0.1μm)
     
    FN1.6P探頭德國EPK FN1.6P
    0~1600μm,φ30mm
    兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度

     
    FN05探頭德國EPK F05
    0~500μm,φ3mm
    磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
    量程低端分辨宰很高(0.1μm)
     
    FN05探頭德國EPK F1.6
    0~1600μm,φ5mm
    磁性測頭
    量程低端分辨率很高(0.1μm)
     
    FN3探頭德國EPK F3
    0~3000μm,φ5mm
    磁性測頭
    可用于較厚的覆層
     
    FN1.6/90探頭德國EPK F1.6/90
    0~1600μm,φ5mm
    90度磁性測頭
    尤其適合于在管內壁測量
    量程低端分辨率很高(0.1μm)
     
    FN10探頭德國EPK F10
    0~10mm,φ20mm
    適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

     
    FN20探頭德國EPK F20
    0~20mm,φ40mm
    適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等 
     
    FN50探頭德國EPK F50
    0~50mm,φ300mm
    適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
     
    N02探頭德國EPK N02
    0~200μm,φ2mm
    非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
    量程低端分辨率很高(0.1μm)
     
    N08cr探頭德國EPK N0.8Cr
    0~80μm,φ2mm
    適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
     
    N1.6探頭德國EPK N1.6
    0~1600μm,φ2mm
    非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
    量程低端分辨率很高(0.1μm)
     
    N1.6/90探頭德國EPK N1.6/90
    0~1600μm,φ5mm
    磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
    尤其適合在管內壁測量
    量程低端分辨率很高(0.1μm)
     
    N10探頭德國EPK N10
    0~10mm,φ50mm
    非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
     
    N20探頭德國EPK N20
    0~20mm,φ70mm
    非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
     
    N100探頭德國EPK N100
    0~100mm,200mm
    非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
    CN02探頭德國EPK CN02
    10~200μm,φ7mm
    用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板


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