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金屬元素標準片X射線(xiàn)熒光測厚儀標準樣品專(zhuān)業(yè)用于X射線(xiàn)測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標準化校準及建立測試檔案。
金屬元素標準片X射線(xiàn)熒光測厚儀標準樣品專(zhuān)業(yè)用于X射線(xiàn)測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線(xiàn)法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線(xiàn)的能量強度及相應鍍層厚度的對應關(guān)系，來(lái)得到標準曲線(xiàn)。以此標準曲線(xiàn)來(lái)測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來(lái)檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
膜厚標準片采用了磁性測厚法：是一種超小型丈量?jì)x，它能快速，無(wú)損傷，切確地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的噴涂。電鍍層厚度的丈量?？善毡橛糜谥圃鞓I(yè)，金屬加工業(yè)，化工業(yè)，商檢等檢測領(lǐng)域。出格適用于工程現場(chǎng)丈量。
膜厚標準片采用磁感應原理時(shí)，利用從測頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著(zhù)線(xiàn)圈的測頭放在被測樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應電動(dòng)勢的大小，儀器將該信號放大后來(lái)指示覆層厚度。近年來(lái)的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術(shù)，利用磁阻來(lái)調制測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個(gè)數量級）。
金屬元素標準片X射線(xiàn)熒光測厚儀標準樣品采用二次熒光法：它的原理是物資經(jīng)X射線(xiàn)或粒子射線(xiàn)照射后，由于吸收過(guò)剩的能量而釀成不穩定的狀態(tài)。從不穩定狀態(tài)要回到穩定狀態(tài)，此物資必需將過(guò)剩的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線(xiàn)鍍層厚度丈量?jì)x或成份分析儀的原理就是丈量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。
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