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    SN/XX單鍍層錫SN厚標樣Calmetrics標準片

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    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    單鍍層錫SN厚標樣Calmetrics標準片又名膜厚儀校準片,專(zhuān)業(yè)用于X射線(xiàn)測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線(xiàn)法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據熒光X-射線(xiàn)的能量強度及相應鍍層厚度的對應關(guān)系,來(lái)得到標準曲線(xiàn)。之后以此標準曲線(xiàn)來(lái)測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。

    詳細介紹

    單鍍層錫SN厚標樣Calmetrics標準片Calmetrics是美國原廠(chǎng)制作標準片的專(zhuān)業(yè)認證公司,其專(zhuān)門(mén)為儀器大廠(chǎng)如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測)Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標準樣品。美國Calmetrics公司專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)X射線(xiàn)熒光鍍層薄膜標準件及元素含量標準件,提供對標準件的校準服務(wù),公司通過(guò)ISO/IEC17025認證。公司提供所有證書(shū)符合NIST (National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術(shù)研究院)標準或ANSI (American National Standards Institute美國國家標準學(xué)會(huì ))標準。其生產(chǎn)的標準片質(zhì)量精良,精度高、穩定性好。 測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專(zhuān)業(yè)用于X射線(xiàn)測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線(xiàn)法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據熒光X-射線(xiàn)的能量強度及相應鍍層厚度的對應關(guān)系,來(lái)得到標準曲線(xiàn)。之后以此標準曲線(xiàn)來(lái)測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來(lái)檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。標準片分單層標準片、雙層標準片、多層標準片,其中單層標準片又可分為單元素標準片、單元素薄片鍍在底材上、純元素底材標準片、合金薄片、合金鍍在底材上等,各種規格搭配,可根據客戶(hù)個(gè)性化需要定制。所有標準片都附有NIST認證證書(shū)我們可以根據客戶(hù)不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠(chǎng)定做合格的標準片,并附有標準片厚度值證書(shū).
    Calmetrics鍍層標準片適用于各種品牌的X射線(xiàn)測厚儀(涂鍍層厚度測試儀) 應用:適用于Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本電測)、Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠(chǎng)牌X-ray測厚儀(膜厚計)。

    單鍍層錫SN厚標樣Calmetrics標準片

    Calmetrics是美國原廠(chǎng)制作標準片的專(zhuān)業(yè)認證公司,其專(zhuān)門(mén)為儀器大廠(chǎng)如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測)Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標準樣品。美國Calmetrics公司專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)X射線(xiàn)熒光鍍層薄膜標準件及元素含量標準件,提供對標準件的校準服務(wù),公司通過(guò)ISO/IEC17025認證。公司提供所有證書(shū)符合NIST (National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術(shù)研究院)標準或ANSI (American National Standards Institute美國國家標準學(xué)會(huì ))標準。其生產(chǎn)的標準片質(zhì)量精良,精度高、穩定性好。 測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專(zhuān)業(yè)用于X射線(xiàn)測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線(xiàn)法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據熒光X-射線(xiàn)的能量強度及相應鍍層厚度的對應關(guān)系,來(lái)得到標準曲線(xiàn)。之后以此標準曲線(xiàn)來(lái)測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來(lái)檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。標準片分單層標準片、雙層標準片、多層標準片,其中單層標準片又可分為單元素標準片、單元素薄片鍍在底材上、純元素底材標準片、合金薄片、合金鍍在底材上等,各種規格搭配,可根據客戶(hù)個(gè)性化需要定制。所有標準片都附有NIST認證證書(shū)我們可以根據客戶(hù)不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠(chǎng)定做合格的標準片,并附有標準片厚度值證書(shū).
    Calmetrics鍍層標準片適用于各種品牌的X射線(xiàn)測厚儀(涂鍍層厚度測試儀) 應用:適用于Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本電測)、Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠(chǎng)牌X-ray測厚儀(膜厚計)。

    Calmetrics是美國原廠(chǎng)制作標準片的專(zhuān)業(yè)認證公司,其專(zhuān)門(mén)為儀器大廠(chǎng)如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測)Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標準樣品。美國Calmetrics公司專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)X射線(xiàn)熒光鍍層薄膜標準件及元素含量標準件,提供對標準件的校準服務(wù),公司通過(guò)ISO/IEC17025認證。公司提供所有證書(shū)符合NIST (National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術(shù)研究院)標準或ANSI (American National Standards Institute美國國家標準學(xué)會(huì ))標準。其生產(chǎn)的標準片質(zhì)量精良,精度高、穩定性好。 測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專(zhuān)業(yè)用于X射線(xiàn)測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線(xiàn)法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據熒光X-射線(xiàn)的能量強度及相應鍍層厚度的對應關(guān)系,來(lái)得到標準曲線(xiàn)。之后以此標準曲線(xiàn)來(lái)測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來(lái)檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。標準片分單層標準片、雙層標準片、多層標準片,其中單層標準片又可分為單元素標準片、單元素薄片鍍在底材上、純元素底材標準片、合金薄片、合金鍍在底材上等,各種規格搭配,可根據客戶(hù)個(gè)性化需要定制。所有標準片都附有NIST認證證書(shū)我們可以根據客戶(hù)不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠(chǎng)定做合格的標準片,并附有標準片厚度值證書(shū).
    Calmetrics鍍層標準片適用于各種品牌的X射線(xiàn)測厚儀(涂鍍層厚度測試儀) 應用:適用于Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本電測)、Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠(chǎng)牌X-ray測厚儀(膜厚計)。




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