廣州司晨?jì)x器設備有限公司
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更新時(shí)間：2025-04-03 09:58:04瀏覽次數：16次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能將高級的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結合，利用成熟的Gemini電子光學(xué)元件
將高級的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節省大量的時(shí)間：設置成像與分析步驟，提高效率。
Sigma 300 性?xún)r(jià)比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器，可快速方便地實(shí)現基礎分析。任何時(shí)間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。
利用探測術(shù)為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。
利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。
利用新一代的二次探測器，獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng )新的 C2D 和可變壓力探測器，在低真空環(huán)境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。
4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶(hù)環(huán)境中，從快速成像和節省培訓，首先對樣品進(jìn)行導航，然后設置成像條件。
首先，先對樣品進(jìn)行導航，然后設置成像條件。
接下來(lái)對樣品感興趣的區域進(jìn)行優(yōu)化并自動(dòng)采集圖像。最后使用工作流程的步，將結果可視化。
將掃描電子顯微鏡與基本分析相結合：Sigma 的背散射幾何探測器大大提升了分析性能，特別是對電子束敏感的樣品。
在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數據。
獲益于 8.5 mm 短的分析工作距離和 35° 夾角，獲取完整且無(wú)陰影的分析結果。
Gemini 鏡頭的設計結合考慮了電場(chǎng)與磁場(chǎng)對光學(xué)性能的影響，并將場(chǎng)對樣品的影響降至更低。這使得即使對磁性樣品成像也能獲得出色的效果。
Gemini in-lens 的探測確保了信號探測的效率，通過(guò)二次檢測(SE)和背散射(BSE)元件同時(shí)減少成像時(shí)間。
Gemini 電子束加速器技術(shù)確保了小的探測器尺寸和高的信噪比。
如果單采用 SEM 成像技術(shù)無(wú)法全面了解部件或樣品，研究人員就需要在 SEM 中采用能譜儀（EDS）來(lái)進(jìn)行顯微分析。通過(guò)針對低電壓應用而優(yōu)化的能譜解決方案，您可以獲得元素化學(xué)成分的空間分布信息。得益于：
優(yōu)化了常規的顯微分析應用，并且由于氮化硅窗口優(yōu)秀的透過(guò)率，可以探測輕元素的低能X射線(xiàn)。
工作流程引導的圖形用戶(hù)界面極大地改善了易用性，以及多用戶(hù)環(huán)境中的重復性。
完整的服務(wù)和系統支持，由蔡司工程師為您的安裝、預防性維護及保修提供一站式服務(wù)。
在您的數據中加入拉曼光譜及成像結果，獲得材料更豐富的表征信息。通過(guò)擴展蔡司 Sigma 300，使其具備共聚焦拉曼成像功能，您能夠獲得樣品中無(wú)二的化學(xué)指紋信息，從而指認其成分。
識別分子和晶體結構信息
可進(jìn)行 3D 分析，在需要時(shí)可關(guān)聯(lián) SEM 圖像、拉曼面掃描成像和 EDS 數據。
集成 RISE 讓您體驗由的 SEM 和拉曼系統帶來(lái)的優(yōu)勢。
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