東莞貝克檢測設備有限公司
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更新時(shí)間:2025-04-03 10:57:08瀏覽次數:20次
聯(lián)系我時(shí),請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)ProductDescription一、特點(diǎn):1.平衡調溫控制系統(BTHC),以P.I.D.方式控制SSR,使工作室內保持一定的壓力
一、特點(diǎn):
1. 平衡調溫控制系統(BTHC),以P.I.D.方式控制SSR,使工作室內保持一定的壓
力,并采用智能型數字溫度調節儀進(jìn)行溫度的顯示與控制設定,故能長(cháng)期穩定
使用.
2. 全新*的造型設計,外觀(guān)高質(zhì)感水平,系統提取日本、西德技術(shù)之精華
設計制造.
3. 采用全毛細管,自動(dòng)負載容量調整系統技術(shù),較膨脹伐系統更穩定可靠,使高低
溫自由轉換、設置、顯示更加精確,升降溫速度快速、平穩、均勻,為使用者
節約寶貴時(shí)間.
二、參數性能:
1. 溫度范圍: -70~+150℃/-50~+150℃/-40~+150℃/-20~+150℃/0~+150℃
2. 控制穩定度 : ±0.5℃
3. 分布均勻度 :±1.5℃
4. 正常升溫時(shí)間 : +20℃~+150℃小于40分鐘非線(xiàn)性空載。
5. 正常降溫時(shí)間: +20~—40℃小于60分鐘.非線(xiàn)性空載.
6. 溫度波動(dòng)度: ±0.5℃.
7. 溫度均勻度: ±1.5℃.
8. 氣壓范圍:常壓(1.01325×105 Pa)~0.5kPa
u 壓力偏差:當常壓~壓力≥40kPa時(shí),誤差 ≤±2.0kPa;
u 當 2kPa≤壓力<40kPa時(shí),誤差≤±5%;
u 當壓力≤2kPa~0.5kPa時(shí),誤差 ≤±0.1kPa;
u 降壓速率: 常壓~0.5KPa ≤45min(常溫、箱內干燥)
u 壓力恢復速率: ≤10kpa/min;
9. 測時(shí)間設置:0~99.59 Hr.
三、機箱結構
1. 圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業(yè)安全容器標準, 可防止試驗
中結露滴水設計;
2. 圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,精密設計,氣密性良好;
3. 自動(dòng)門(mén)禁,圓型門(mén)自動(dòng)溫度與壓力檢知安全門(mén)禁鎖定控制,安全門(mén)把設
計,箱內有大于常壓時(shí)測試們會(huì )被反壓保護;
4. 型packing,箱內壓力愈小時(shí),packing會(huì )有反壓會(huì )使其與箱體更緊密結
合,與傳統擠壓式不同,可延長(cháng)packing壽命;
5. 實(shí)驗開(kāi)始前之真空動(dòng)作可將原來(lái)箱內之空氣抽出并吸入過(guò)濾蕊過(guò)濾之新空氣
(partical<1micorn)。以確保箱內之純凈度;
6. 臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)安全保護,異常原因與故障指示燈顯示。
7. 箱體材質(zhì):
1) 外箱材質(zhì): SUS304高級不銹鋼板或一級冷軋板粉體烤漆.(電腦白色)
2) 內箱材質(zhì): SUS304高級不銹鋼板.
3) 保溫材質(zhì): 高密度聚氨酯.
四、高海拔氣壓試驗箱選型及工作尺寸:
BK-CTH-80Y W寬40XH高50XD深40cm
BK-CTH-120Y W寬50XH高60XD深40cm
BK-CTH-150Y W寬50XH高60XD深50cm
BK-CTH-225Y W寬60XH高75XD深50cm
BK-CTH-306Y W寬60XH高85XD深60cm
BK-CTH-408Y W寬60XH高85XD深80cm
BK-CTH-800Y W寬100XH高100XD深80cm
BK-CTH-1000Y W寬100XH高100XD深100cm
五、控制器系統:
1. 采用韓國進(jìn)口彩色型5.7寸或10.4寸微電腦液晶顯示觸控式屏幕直接按
鍵型,中英文表示可程控器。
2. 微電腦 P.I.D 自動(dòng)演算控制溫度.
3. 采用指針顯示正負壓表.
4. 全自動(dòng)過(guò)程控制,操作簡(jiǎn)單.
六、安全保護裝置:
1.工作室超溫保護裝置.
2.加熱器短路、過(guò)載.
3.壓縮機過(guò)流過(guò)熱保護裝置.
4.漏電短路器保護開(kāi)關(guān).
5.鼓風(fēng)電機過(guò)載過(guò)流
6.壓縮機壓力保護裝置
七、高海拔氣壓試驗箱執行與滿(mǎn)足標準:
1. GB/T10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件.
2. GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術(shù)條件.
3. GB/ T 2421-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 總則》.
4. GB/ T 2423.21- 1991《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗M:低氣壓試驗
方法》 .
5. GB/ T 2423.25- 1992《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Z/AM:低溫/低
氣壓綜合試驗方法》 .
6. GB/ T 2423.26- 1992《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Z/BM:高溫/低
氣壓綜合試驗方法》 .
7. GB/2423.34-86.MIL-STD883(方法1004.2)高低溫組合循環(huán)試驗.
8. GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序.
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