CT150涂層測厚儀

1 概述

本儀器是磁性、渦流一體的便攜式涂層測厚儀，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實(shí)驗室，也可用于工程現場(chǎng)。本儀器能廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域，是材料保護專(zhuān)業(yè)的儀器。

本儀器符合以下標準：

GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法

GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法

JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量?jì)x

JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》

JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》

儀器特點(diǎn)：

? 采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。

? 具有兩種工作方式：存儲模式和正常模式。

? 具有兩種種測量模式：高精度測量模式可對多次測量取平均，并對可疑數據進(jìn)行自動(dòng)過(guò)濾，可確保測量值更加準確、穩定；快速測量模式可實(shí)現實(shí)時(shí)掃描功能。

? 具有溫度補償功能：的實(shí)時(shí)溫度補償技術(shù)可自動(dòng)對環(huán)境溫度及測頭溫度改變引起的測量誤差進(jìn)行補償，使測量更準確。

? 設有五個(gè)統計量：平均值（MEAN）、值（MAX）、最小值（MIN）測試次數（NO.）、標準偏差（S.DEV）。

? 可采用零點(diǎn)校準、單點(diǎn)校準或兩點(diǎn)校準法對儀器進(jìn)行校準,并可用基本校準和溫度系數校準法對測頭的系統誤差進(jìn)行修正。

? 具有存儲功能：最多可存儲500個(gè)測量值。

? 具有刪除功能：對測量中出現的單個(gè)可疑數據進(jìn)行刪除，也可刪除存儲區內的所有數據，以便進(jìn)行新的測量。

? 可設置限界：對限界外的測量值自動(dòng)報警。

? 具有電源電量指示功能。

? 設有三種關(guān)機方式：手動(dòng)關(guān)機方式、超時(shí)自動(dòng)關(guān)機方式以及低電量自動(dòng)關(guān)機方式，并可設置超時(shí)自動(dòng)關(guān)機等待時(shí)間，自動(dòng)關(guān)機時(shí)伴有背光閃爍及蜂鳴提示。

1.1 測量原理

本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無(wú)損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、陽(yáng)極氧化膜等)。

a) 磁性法(F型測頭)

當測頭與覆蓋層接觸時(shí)，測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測量其變化可導出覆蓋層的厚度。

b) 渦流法(N型測頭)

利用高頻交變電流在線(xiàn)圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當測頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對測頭中的線(xiàn)圈產(chǎn)生反饋作用，通過(guò)測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。

1.2 儀器簡(jiǎn)介

	開(kāi)關(guān)/背光
	文件/統計
	刪除鍵
	菜單鍵
	校準鍵
	確認鍵
	向上移動(dòng)鍵
	向下移動(dòng)鍵
	測頭切換鍵

    

圖 4 液晶顯示示意圖  

1.3 技術(shù)參數

1.3.1 測量范圍及測量誤差（見(jiàn)附表2）

1.3.2 使用環(huán)境

? 溫度：0℃～40℃

? 濕度：20%RH～90%RH

? 無(wú)強磁場(chǎng)環(huán)境

1.3.3 電源

? 三節7號堿性電池（1.5V）

1.3.4 外型尺寸和重量

? 外形尺寸：155mm×68mm×27mm

? 重量：約230g

2 儀器的使用

使用本儀器前，請務(wù)必仔細閱讀第3章(儀器的校準)和第4章(影響測量精度的因素)。

2.1 測頭的安裝與拆卸

2.1.1 測頭的安裝

儀器使用前，應將測頭正確插入儀器上方的測頭插槽內。

本款儀器采用音頻插頭對外部干擾信號的屏蔽效果更好插拔更加方便。

2.1.2 測頭的拆卸

儀器使用完畢后，應將測頭拆下妥善保存。

2.2 基本測量步驟

a) 準備好待測試件（參見(jiàn)第4章）。

b) 將測頭置于開(kāi)放空間，按下鍵，開(kāi)機。

c) 檢查電池電量指示，若電池電量過(guò)低，應立即更換電池。

d) 檢查測頭類(lèi)型，若屏幕下方的測頭類(lèi)型指示標志與實(shí)際測頭類(lèi)型不符。

e) 是否需要校準儀器，如果需要，選擇適當的校準方法進(jìn)行（參見(jiàn)第3章）。

f) 關(guān)機：長(cháng)按下鍵，立即關(guān)機；在無(wú)任何操作的情況下，大約2～3分鐘后儀器自動(dòng)關(guān)機，自動(dòng)關(guān)機等待時(shí)間可進(jìn)行設置，詳見(jiàn)2.4.2功能設置步驟。

說(shuō)明:

1) 應盡量使用與待測試件相同材料的基體進(jìn)行零點(diǎn)校準。

2) 在高精度測量模式關(guān)閉時(shí)，如果測頭沒(méi)有快速垂直地接觸被測物體，則可能得到一個(gè)不可靠的測量結果，因此在這種情況下建議使用連續測量方式，待測頭固定牢靠后再讀數。

3) 如果在測量過(guò)程中測頭放置不穩，則可能得到一個(gè)不可靠的測量結果。

4) 保存多個(gè)測量值后，在測試界面下實(shí)時(shí)顯示五個(gè)統計量，即：平均值（X）、標準偏差（）、測量次數（N.）、測量值（↑）、最小測量值（↓）。

2.3 各項功能及操作方法

本小節詳細地介紹了本機的各種功能及其操作方法。

2.3.1 測頭選擇（自動(dòng)?F?N）

可通過(guò)以下步驟進(jìn)行測頭選擇：

a) 在主界面儀器會(huì )自動(dòng)識別探頭類(lèi)型出現“F"、或“N"標簽。

測頭類(lèi)型將在屏幕上方的測頭類(lèi)型指示區顯示，“F"對應F型測頭，“N"對應N型測頭，自動(dòng)識別模式下如果沒(méi)有插入測頭，該顯示區不顯示任何標志。

在某些測量環(huán)境下外界磁場(chǎng)干擾較大，儀器自動(dòng)識別功能可能無(wú)法正確識別測頭類(lèi)型，可直接按鍵選擇“F"或“N"模式測頭類(lèi)型。

2.3.2 測量模式設置

為了提高測量精度、和穩定性，該儀器提供了高精度測量模式、快速測量模式兩種工作模式。

在主界面中下按鍵可進(jìn)行高精度測量模式與快速測量模式的切換，當屏幕右下方顯示高精度測量指示標志“P"時(shí)表示已進(jìn)入高精度測量模式，當該標志消失后或出現“Q"表示已退出高精度測量模式。"P"表示Precise Mode即高精度，Q表示Quick Mode即快速模式。

快速測量模式下，可配合“連續測量"實(shí)現實(shí)時(shí)掃描測量結果進(jìn)行記錄，并在查看統計界面中進(jìn)行數據分析。

高精度測量模式下，儀器內部將對多次測量的結果進(jìn)行篩選、平均，對偏差較大的可疑數據進(jìn)行自動(dòng)過(guò)濾，確保測量結果更加準確和穩定。該模式下讀數時(shí)間變長(cháng)約2~3秒。

可通過(guò)以下參數對高精度測量模式進(jìn)行設置：

? 設置測量精度：設置高精度模式下的精度標準分為高中低三檔，精度越高，測量速度越慢。

2.3.3 測量方式（單次測量?連續測量）

可使用下列兩種測量方式之一進(jìn)行測量：

? 單次測量：測頭每接觸被測件1次，隨著(zhù)一聲?shū)Q響，顯示一個(gè)測量結果。

? 連續測量：不提起測頭連續測量，在高精度模式開(kāi)啟時(shí)每次鳴響后重新顯示一個(gè)測量結果，在高精度模式關(guān)閉時(shí)實(shí)時(shí)顯示測量結果且只有個(gè)測量結果伴隨鳴響。

兩種方式的轉換方法詳見(jiàn)2.4.1系統設置步驟。

2.3.4 存儲方式

可使用下列兩種工作方式之一進(jìn)行測量：

? 存儲方式：用于存儲用戶(hù)的測量數據，當系統設置內的存儲模式為打開(kāi)狀態(tài)時(shí)測量界面出現存儲標志，每次測量數據會(huì )被記錄并被統計。

? 存儲方式：此方式便于用戶(hù)分批記錄所測試的數據，測量結果將被自動(dòng)保存并參與統計計算，每組最多存100個(gè)數值，總共五組，可存500個(gè)數值。每組當存滿(mǎn)100個(gè)數值時(shí)，屏幕將顯示“存儲器滿(mǎn)"，此時(shí)仍可進(jìn)行測量，但是測量值會(huì )只保存最后100個(gè)數據會(huì )更新單的數據會(huì )丟失。

兩種方式的轉換方法：

a) 在主界面下按鍵進(jìn)入主菜單。

b) 按鍵切換至系統設置中的存儲模式，按鍵選擇打開(kāi)主界面會(huì )出現存儲標志。

2.3.5 設置當前文件

可通過(guò)如下方法設置當前存儲數據的文件：

a) 在主界面下按鍵循環(huán)選擇文件Batch1~Batch5直至選中“對應文件夾。

說(shuō)明：按鍵為切換文件夾，長(cháng)按則進(jìn)入數據的查看統計頁(yè)面。

2.3.6 查看/刪除測量數據

2.3.6.1 查看測量數據

可通過(guò)如下步驟查看或刪除已保存的測試數據：

a) 在主界面長(cháng)按按鍵進(jìn)入數據查看界面。

b) 按或鍵翻看每個(gè)測量數據，并可通過(guò)鍵刪除某個(gè)測量數據。

c) 按鍵返回。

2.3.6.2 刪除測量數據

如2.42步驟a~b所述進(jìn)入功能設置界面，按或鍵選擇“刪除文件"或“刪除所有數據"，再按鍵進(jìn)入刪除確認界面，確定刪除按鍵，取消刪除按鍵?！皠h除文件"只是把當前文件里的數據刪除，而“刪除所有數據"是把五組數據全部刪除。

在查看統計界面下按鍵會(huì )刪除選中數據，在主界面和統計界面長(cháng)按 鍵會(huì )刪除整個(gè)文件，在主界面下按刪除鍵會(huì )依次刪除測量最近的數據。

2.3.7 系統時(shí)間設置

設置了系統時(shí)間可以對儀器自身時(shí)間進(jìn)行修正。

a) 參數設置方法詳見(jiàn)2.4.2功能設置步驟進(jìn)入系統時(shí)間設置。按鍵選擇時(shí)間選項日期時(shí)間，然后按或鍵更改該項設置。

2.3.8 待機時(shí)間設置

設置了待機時(shí)間后，當儀器閑置時(shí)間達到待機時(shí)間后將會(huì )出現屏幕背光閃爍并伴隨蜂鳴提示，屏幕背光閃爍6次后儀器自動(dòng)關(guān)機。屏幕背光閃爍過(guò)程中，按任意按鍵或進(jìn)行測量，儀器將退出自動(dòng)關(guān)機狀態(tài)。

2.3.9 關(guān)于測量和誤差的說(shuō)明

? 如果已經(jīng)進(jìn)行了適當的校準，所有的測量值將保持在一定的誤差范圍內(見(jiàn)表2)。

? 根據統計學(xué)的觀(guān)點(diǎn)，一次讀數是不可靠的。因此任何顯示的測量值都是多次“看不見(jiàn)"的測量的平均值。這些測量是在幾分之一秒的時(shí)間內由測頭和儀器完成的。

? 為使測量更加精確，可利用統計程序在一個(gè)點(diǎn)多次測量，對誤差較大的測量值可在測量后立即刪除。

? 使用高精度測量模式時(shí)，儀器內部將對多次測量的結果進(jìn)行篩選、平均，對偏差較大的可疑數據進(jìn)行自動(dòng)過(guò)濾，確保測量數據更加準確和穩定。

最后覆層的厚度為： CH = M+S+δ

其中:

CH 覆層厚度 M 多次測量的平均值

S 標準偏差 δ 儀器允許誤差

2.4 系統設置與功能設置

儀器的其它參數可以通過(guò)系統設置或功能設置修改。通過(guò)系統設置可以設置語(yǔ)言、單位、精度、測量模式、報警模式、蜂鳴器和存儲模式。通過(guò)功能設置可以實(shí)現恢復默認設置、刪除所有數據、設置對比度、設置待機時(shí)間、設置系統時(shí)間 以及版本信息等。

2.4.1 系統設置步驟

b) 在主界面中按鍵進(jìn)入主菜單界面。

c) 按或鍵選中“系統設置"菜單項，然后按鍵進(jìn)入系統設置界面。

d) 按或鍵選擇項目，然后按鍵更改該項設置。

e) 設置完成，按鍵返回。

2.4.2 功能設置步驟

a) 在主界面中按鍵進(jìn)入主菜單界面。

b) 按或鍵選中“功能設置"菜單項，然后按鍵進(jìn)入功能設置界面。

c) 按或鍵選擇項目，然后按鍵進(jìn)入該項設置。

d) 按或鍵進(jìn)行參數設置，然后按鍵進(jìn)行確認，并按鍵退出。

2.5 在噴砂表面上測量

噴砂表面的特性導致了測量值大大失真，其覆層厚度大致可用以面方法確定：

a) 使用3.3.2中的兩點(diǎn)校準或使用3.3.1的零點(diǎn)校準方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面上進(jìn)行校準。

b) 在未涂覆的經(jīng)過(guò)同樣噴砂處理的表面進(jìn)行多次測量，得到平均值Mo。

c) 在已涂覆的表面上進(jìn)行多次測量，得到平均值Mm。

d) （Mm—Mo）±S 即是覆蓋層厚度。

   其中S（標準偏差）是SMm和SMo中較大的一個(gè)。

3 儀器的校準

為使測量準確，應在測量場(chǎng)所對儀器進(jìn)行校準。

3.1 校準標準片（包括箔和基體）

已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片，簡(jiǎn)稱(chēng)標準片。

a) 校準箔

對于磁性方法，“箔"是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對于渦流方法，通常采用塑料箔?！安?有利于曲面上的校準，而且比用有覆蓋層的標準片更合適。

b) 有覆蓋層的標準片

采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結合的覆蓋層作為標準片。對于磁性方法，覆蓋層是非磁性的。對于渦流方法，覆蓋層是非導電的。

3.2 基體

a) 對于磁性方法，標準片基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與待測試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

為了證實(shí)標準片的適用性，可用標準片的基體金屬與待測試件基體金屬上所測得的讀數進(jìn)行比較。

b) 如果待測試件的金屬基體厚度沒(méi)有超過(guò)表2中所規定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進(jìn)行校準：

i. 在與待測試件的金屬基體厚度相同的金屬標準片上校準。

ii. 用一足夠厚度的，電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標準片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無(wú)間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。

c) 如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準，則有覆蓋層的標準片的曲率或置于校準箔下的基體金屬的曲率，應與試樣的曲率相同。

3.3 校準方法

本儀器提供兩種測量中使用的校準方法：零點(diǎn)校準和兩點(diǎn)校準；以及兩種針對測頭的校準方法：基本校準和溫度系數校準。

3.3.1 零點(diǎn)校準

在不同基體上進(jìn)行測量時(shí)必須重新進(jìn)行零點(diǎn)校準，當校準使用的基體與待測試件基體性質(zhì)偏差較大時(shí)，測量值將會(huì )產(chǎn)生偏差?？墒褂靡韵聝煞N方法之一進(jìn)行零點(diǎn)校準：

1 在基體上校準

a) 在基體上進(jìn)行一次測量，屏幕顯示＜××μm＞。

b) 在提起測頭之前按鍵，屏顯，校準完成。

重復上述a、b 步驟可獲得更為精確的校準結果，提高測量精度。

2 在標準片上校準（單點(diǎn)校準）

a) 未用探頭測量之前在主界面中按鍵進(jìn)入“零點(diǎn)校準"模式。

b) 在標準片上進(jìn)行一次測量，屏幕顯示＜×××μm＞。

c) 測頭抬起后按或鍵修正讀數，使其達到目標值。

d) 按鍵確認，校準完成；或按鍵取消校準；或按鍵清除保存的校準結果。

重復上述a~d步驟可獲得更為精確的校準結果，提高測量精度。

使用標準片進(jìn)行零點(diǎn)校準后，測量與標準片厚度近似的厚度時(shí)將得到更高的測量精度。

使用標準片進(jìn)行零點(diǎn)校準時(shí)，標準片厚度小于200um，標準片厚度過(guò)大會(huì )導致測量厚度較小的試件時(shí)測量精度降低。

當無(wú)法找到與待測試件基體相同或近似的校準基體時(shí)，可使用標準片校準法在已知厚度的試件上進(jìn)行零點(diǎn)校準。

3.3.2 基本校準

當出現以下問(wèn)題導致測量曲線(xiàn)偏離時(shí)需要重新進(jìn)行基本校準：

a) 更換測頭

b) 測頭頂端被磨損

c) 測頭修理后

d) 特殊用途

基本操作方法如下：

a) 開(kāi)機時(shí)一直按住鍵，直到進(jìn)入基本校準模式。

b) 通過(guò)鍵選擇測頭類(lèi)型，屏幕右上方顯示標志“F"時(shí)表示將對F型磁性測頭進(jìn)行基本校準，屏幕右上方顯示標志“N"時(shí)表示將對N型非磁性測頭進(jìn)行基本校準。

c) 校準無(wú)窮遠（INFINITY）：插入測頭，使測頭遠離基體，待屏幕的讀數穩定后按鍵確認。

d) 校準零點(diǎn)（ZERO）：將測頭緊貼基體，待屏幕的讀數穩定后按鍵確認。

e) 使用標準片，按厚度增加的順序依次校準5~10個(gè)厚度校準點(diǎn)：

i. 通過(guò)或鍵調節屏幕上方顯示的厚度值，使其與校準試片厚度相同。

ii. 測量校準試片，待屏幕顯示的讀數穩定后按鍵確認。

f) 待測量部校準點(diǎn)后，屏幕上會(huì )依次顯示各個(gè)校準點(diǎn)的信息，并在屏幕下方顯示“PASS"或“FAIL"標志表示校準成功或失敗，待校準信息全部顯示后，可按鍵進(jìn)入主界面，或按鍵將本次校準結果存為默認設置，存為默認設置后使用恢復默認功能時(shí)將自動(dòng)讀取本次的校準信息。

注意：

     校準厚度必須從小到大逐漸變化，當校準厚度或校準值異常時(shí)校準

    失敗，屏幕下方顯示“FAIL"標志，儀器仍然保留之前的校準結果

3.4 影響因素的有關(guān)說(shuō)明

a) 基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準。

b) 基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準。

c) 基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)表2。

d) 邊緣效應

本儀器對試件表面形狀的陡變敏感，在靠近試件邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的。

e) 曲率

試件的曲率對測量有影響，這種影響總是隨著(zhù)曲率半徑的減少明顯地增大，因此在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

f) 試件的變形

測頭會(huì )使軟覆蓋層試件變形，在這些試件上無(wú)法測出可靠的數據。

g) 表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì )引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體試件上取幾個(gè)位置對儀器進(jìn)行零點(diǎn)校準或用對基體金屬沒(méi)有腐蝕的溶液除去覆蓋層后，再對儀器進(jìn)行零點(diǎn)校準。

h) 磁場(chǎng)

周?chē)鞣N電氣設備所產(chǎn)生的強磁場(chǎng)，會(huì )嚴重地干擾磁性法測厚工作。

i) 附著(zhù)物質(zhì)

本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感，因此必須清除附著(zhù)物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

j) 測頭壓力

測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì )影響測量的讀數，因此要保持壓力恒定。

k) 測頭的取向

測頭的放置方式對測量有影響，測量中應當使測頭與試樣表面保持垂直。

3.5 使用儀器時(shí)應當遵守的規定

a) 基體金屬特性

對于磁性方法，校準基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法，校準基體金屬的電性質(zhì)，應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

b) 基體金屬厚度

檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準。

c) 邊緣效應

不應在緊靠試件的突變處進(jìn)行測量，如邊緣、洞和內轉角等處。

d) 曲率

不應在試件的彎曲表面上測量。

e) 讀數次數

通常由于儀器的每次讀數并不相同，因此必須在每一測量面積內取幾個(gè)讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進(jìn)行多次測量，表面粗造時(shí)更應如此。

f) 表面清潔度

測量前應清除表面上的任何附著(zhù)物質(zhì)，如塵土、腐蝕物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

4 保養與維修

4.1 環(huán)境要求

嚴格避免碰撞、重塵、潮濕、強磁場(chǎng)、油污等。

4.2 更換電池

當儀器電量過(guò)低時(shí)，應及時(shí)更換電池，方法如下：

1) 按鍵關(guān)機，打開(kāi)電池倉蓋取出電池；

2) 把有電的7號堿性電池并放入電池倉內（注意電池極性），蓋好電池倉蓋。

儀器長(cháng)時(shí)間不使用時(shí)應將電池取出，以避免電池漏液腐蝕儀器。

附 表

表1 影響測量精度的因素（▲表示有影響）

影響因素       測量方法	磁性方法	渦流方法
基體金屬磁性質(zhì)	▲
基體金屬電性質(zhì)		▲
基體金屬厚度	▲	▲
邊緣效應	▲	▲
曲率	▲	▲
試樣的變形	▲	▲
表面粗糙度	▲	▲
磁場(chǎng)	▲
附著(zhù)物質(zhì)	▲	▲
測頭壓力	▲	▲
測頭取向	▲	▲

                  表2 技術(shù)參數表（H為厚度標稱(chēng)值）

測頭類(lèi)型		F	N
工作原理		磁感應	渦流
測量范圍(μm)		0～1500	0～1500 銅上鍍鉻 0~40
低限分辨力(μm)		0.1	0.1
示值	零點(diǎn)校準(μm)	±(3%H+1)	±(3%H+1)
	兩點(diǎn)校準(μm)	±[(1～3)%H+1]	±[(1～3)%H+1]
測試條件	最小曲率半徑(mm)	凸1.5	凸3
	最小面積的直徑(mm)	Φ7	Φ5
	基體臨界厚度(mm)	0.5	0.3

表3 測頭選用參考表

覆蓋層 基體	有機材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等)	非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
如鐵、鋼等磁性金屬	F 型測頭 測量范圍：0～1500μm	F 型測頭 測量范圍：0～1500μm
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬	N 型測頭 測量范圍：0～1500μm	N 型測頭 （僅用于銅上鍍鉻） 測量范圍：0～40μm

用 戶(hù) 須 知

1、 用戶(hù)購買(mǎi)本公司產(chǎn)品后，請認真填寫(xiě)《保修登記卡》并請加蓋用戶(hù)單位公章。請將《保修登記卡》和購機發(fā)票復印件寄回本公司用戶(hù)服務(wù)部，也可購機時(shí)委托售機單位代寄。手續不全時(shí)，只能維修不予保修。

2、 本公司產(chǎn)品從用戶(hù)購置之日起，一年內出現質(zhì)量故障（非保修件除外），請憑“保修卡"或購機發(fā)票復印件與本公司各地的分公司維修站聯(lián)系，維修產(chǎn)品、更換或退貨。保修期內，不能出示保修卡或購機發(fā)票復印件，本公司按出廠(chǎng)日期計算保修期，期限為一年。

3、 超過(guò)保修期的本公司產(chǎn)品出現故障，各地維修站負責售后服務(wù)、維修產(chǎn)品，按本公司規定核收維修費。

4、 公司定型產(chǎn)品外的“特殊配置"（異型測頭，專(zhuān)用軟件等），按有關(guān)標準收取費用。

5、 凡因用戶(hù)自行拆裝本公司產(chǎn)品、因運輸、保管不當或未按“產(chǎn)品使用說(shuō)明書(shū)"正確操作造成產(chǎn)品損壞，以及私自涂改保修卡，無(wú)購貨憑證，本公司均不能予以保修。