ECT180高精度涂層測厚儀

1 概述

本儀器是一種便攜式測量?jì)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實(shí)驗室，也可用于工程現場(chǎng)。通過(guò)使用不同的測頭，還可滿(mǎn)足多種測量的需要。本儀器能廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護專(zhuān)業(yè)的儀器。

本儀器符合以下標準：

GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量  磁性方法

GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量  渦流方法

JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量?jì)x

JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》

JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》

特點(diǎn)：

? 采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；

? 可使用10種測頭(F400、F1、F1/90°、F5、F10、N400、N1、N1/90°、CN02、N10)；

? 具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；

? 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；

? 設有五個(gè)統計量：平均值（MEAN）、值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV）；

? 可采用單點(diǎn)校準和兩點(diǎn)校準兩種方法對儀器進(jìn)行校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差進(jìn)行修正；

? 具有存貯功能：可存貯495個(gè)測量值；

? 具有刪除功能：對測量中出現的單個(gè)可疑數據進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進(jìn)行新的測量；

? 可設置限界：對限界外的測量值能自動(dòng)報警；

? 具有電源欠壓指示功能；

? 操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；

? 具有錯誤提示功能，通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯誤提示；

? 設有兩種關(guān)機方式：手動(dòng)關(guān)機方式和自動(dòng)關(guān)機方式；

●?主機可通過(guò)安裝軟件與電腦連接。連接后可通過(guò)電腦操作完成數據下載，儲存，打印等功能，快捷方便。

1.1 測量原理

本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無(wú)損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

a) 磁性法(F型測頭)

      當測頭與覆蓋層接觸時(shí)，測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測量其變化可導出覆蓋層的厚度。

b) 渦流法(N型測頭)

   利用高頻交變電流在線(xiàn)圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當測頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對測頭中的線(xiàn)圈產(chǎn)生反饋作用，通過(guò)測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。

圖1-1  磁性法基本工作原理          圖1-2  渦流法基本工作原理

1.2 配置清單

名  稱(chēng)	數  量	備注
主機	1臺	標準配置
F1測頭	1只
標準片	5片
基體	1塊
產(chǎn)品包裝箱	1個(gè)
使用說(shuō)明書(shū)	1本
其他用途的測頭		可選件

儀器視圖

1.2.1 測頭視圖及名稱(chēng)

1. 定位套      2. V型口    3. 加載套      4. 連線(xiàn)          5. 插頭          6. 鎖母

1.2.2 主機視圖及各部分名稱(chēng)

1. 儀器主機  2.顯示屏  3. 鍵盤(pán)  4. 測頭插座  5. 儀器測頭

1.2.3 屏幕顯示

1.數據顯示  2測量方式  3. 測頭類(lèi)型指標

4.存儲記錄計數指示  5. 測量單位6. 電池電量指示.

1.3 技術(shù)參數

1.3.1 測量范圍及測量誤差（見(jiàn)附錄1）

1.3.2 使用環(huán)境

溫度：-10℃~40℃

濕度：20%～90%RH

無(wú)強磁場(chǎng)環(huán)境

1.3.3 電源

2×1.5V  AA (5號)

1.3.4 外型尺寸和重量

外型尺寸：1250mm×67 mm×31 mm

重量：約400g

2 儀器的使用

使用本儀器前，請務(wù)必仔細閱讀第3章(校準)和第4章(影響測量精度的因素)

2.1 基本測量步驟

a) 準備好待測試件（參見(jiàn)第4章）；

b) 將測頭插頭插入主機的測頭插座中，旋緊鎖母；

c) 將測頭置于開(kāi)放空間，按一下“"鍵，開(kāi)機；

d) 儀器自檢顯示所裝測頭類(lèi)型，界面如下：

e) 檢查電池電壓；如電池電壓過(guò)低，儀器將自動(dòng)關(guān)機。

說(shuō)明1：當電池符號滿(mǎn)格顯示，表示電池電壓正常；空格顯示，表示電池電壓已低落，應立即更換電池；

說(shuō)明2：長(cháng)期不用時(shí)應將電電池卸除。

自檢后正常情況下，顯示上次關(guān)機前的測量值；如下圖：

視窗	顯示內容	表示含義	備注
Type 測頭類(lèi)型	NON-FERROUS	N型測頭
	FERROUS	F型測
Sys 工作方式	D	直接測量方式
	APPL 01	成組測量方式1
	APPL 02	成組測量方式2
	APPL 03	成組測量方式3
	APPL 04	成組測量方式4
	APPL 05	成組測量方式5
Num 存貯單元	1-99	正在存儲的單元數	共5組

f) 是否需要校準儀器，如果需要，選擇適當的校準方法進(jìn)行（參見(jiàn)第4章）；

g) 測量

迅速將測頭與測試面垂直地接觸并輕壓測頭定位套，隨著(zhù)一聲?shū)Q響，屏幕顯示測量值，提起測頭可進(jìn)行下次測量；

g)  關(guān)機

在無(wú)任何操作的情況下，大約1~2min后儀器自動(dòng)關(guān)機。按一下“"鍵，立即關(guān)機。

說(shuō)明: 1. 如果在測量中測頭放置不穩，顯示一個(gè)明顯的可疑值，按 CLEAR 鍵可刪除

該值；

2.2 各項功能及操作方法

菜單明細表組織圖

Data Statistic 數據統計值	Total:	統計樣本的總數
	Mean	平均值
	Max	值
	Min	最小值
	Sdev	標準偏差
Measuring Mode 測量方式	Single	單次測量
	Continue	連續測量
Working Mode 工作方式	DIRECT	直接測量方式
	APPL 1	成組測量方式1
	APPL 2	成組測量方式2
	APPL 3	成組測量方式3
	APPL 4	成組測量方式4
	APPL 5	成組測量方式5
Measuring Unit 測量單位制式	μm	公制單位
	mils	英制單位
Delete Files 刪除文件	APPL 1	刪除成組測量文件1
	APPL 2	刪除成組測量文件2
	APPL 3	刪除成組測量文件3
	APPL 4	刪除成組測量文件4
	APPL 5	刪除成組測量文件5
ViewData File 查看數據記錄內容	APPL 1	查看相應成組方式下 的記錄數據
	APPL 2
	APPL 3
	APPL 4
	APPL 5
About Software 軟件信息	Version	儀器軟件版本號
	Code	儀器出廠(chǎng)代碼
	SN	儀器出廠(chǎng)序列號

2.2.1 測量方式（單次測量連續測量）

? 單次測量──測頭每接觸被測件1次，隨著(zhù)一聲?shū)Q響，顯示一個(gè)測量結果；

? 連續測量──不提起測頭動(dòng)態(tài)測量，測量過(guò)程中不伴鳴響，屏幕閃顯測量結果；

? 兩種方式的轉換方法是：開(kāi)機狀態(tài)下，按“ENTER"鍵后，屏顯菜單，選擇按“"“ "鍵將反顯項目選中在“Measuring Mode"后再按“ENTER"鍵，進(jìn)入測量方式設置界面，按“"“ "鍵進(jìn)行測量方式的選擇，Single（單次測量）； Continue（連續測量），選擇后按“ESC"鍵依次退回到主顯示界面，開(kāi)始進(jìn)入新的測量方式進(jìn)行測量。

2.2.2 工作方式（直接方式成組方式）

? 直接（DIRECT）方式 ── 此方式用于隨意性測量，測量值暫存在內存單元（共有99個(gè)存貯單元），當存滿(mǎn)99個(gè)存貯單元時(shí)，新的測量值將替掉舊的測量值，也就是說(shuō)總是的99個(gè)測量值參與統計計算。

? 成組方式（APPL）── 此方式便于用戶(hù)分批記錄所測試的數據，一組最多存99個(gè)數值，總共五組，可存495個(gè)數值。每組當存滿(mǎn)99個(gè)數值時(shí)，屏幕的"num"將顯示“99" ，此時(shí)，仍可進(jìn)行測量，但是測量值只顯示不存儲，也不參與統計計算。需要時(shí)，可刪除該組數據，再進(jìn)行新的測量 。

         每組內設有一個(gè)校準值，即該組下各個(gè)數據都是基于這個(gè)校準值測得的。每組內可設限界，即可對該組中的測量結果進(jìn)行超限標識和報警。成組方式下，每個(gè)測量值都自動(dòng)進(jìn)入統計程序參與統計計算。因為成組方式下，可以存貯幾套基于不同校準值的測量數據，因此該方式特別適合于現場(chǎng)測量。  

注意：所有測量值都將自動(dòng)輸入統計（程序不適用于F1/90℃和N1/90℃測頭）。

? 兩種方式的轉換方法是：

儀器開(kāi)機后，自動(dòng)進(jìn)入直接工作方式，工作方式區顯示“D"。按“ENTER"鍵，然后再按“"“ "鍵，將反顯項目選中在“Working Mode"后再按“ENTER"鍵，進(jìn)入工作方式設置界面，按“"“ "鍵進(jìn)行工作方式的選擇，選擇后按“ESC"鍵依次退回到主顯示界面。儀器進(jìn)入成組方式，“sys"工作方式區顯示“APPL 01"；“APPL 02"…“APPL 05"；

2.2.3 單位制式轉換（公制英制）

公制和英制的轉換方法是：開(kāi)機狀態(tài)下，按“ENTER"鍵后，屏顯菜單，選擇按“"“ "鍵將反顯項目選中在“Measuring Unit"后再按“ENTER"鍵，進(jìn)入單位制式設置界面，按“"“ "鍵進(jìn)行測量方式的選擇，μm（公制）； mils（英制），選擇后按“ESC"鍵依次退回到主顯示界面，開(kāi)始進(jìn)入新的測量方式

2.2.4 統計計算

本儀器對測量值自動(dòng)進(jìn)行統計處理，它需要至少三個(gè)測量值來(lái)產(chǎn)生5個(gè)統計值：平均值（MEAN）、標準偏差（S.DEV）、測試次數（No.）、測試值（MAX）、最小測試值（MIN）。

a) 參加統計計算的測量值

⊙ 在直接方式下所有測量值（包括關(guān)機前的測量值）均參加統計計算。

注意：當存滿(mǎn)99個(gè)存貯單元時(shí)，新的測量值將替代舊的測量值。存貯區內保存的99個(gè)測量值。

⊙ 在成組方式下，參加統計計算的測量值于本組內的數據。

注意：每組當存滿(mǎn)99個(gè)數值時(shí)，盡管測量能繼續，但不能修改統計值。需要時(shí)，可清除內存單元，再進(jìn)行新的測量；

b) 顯示統計值

按“ENTER"鍵，操作“"“ "鍵將反顯項目選中在“Data Statistic"后再按“ENTER"鍵， 5個(gè)統計值將全部顯示。

2.2.5 存貯

成組方式下測量值自動(dòng)存入內存單元，一組最多存99個(gè)數值，總共五組，可存495個(gè)數值。

2.2.6 刪除

⊙ 刪除當前測量值

無(wú)論在直接方式或成組方式下，只要在測量值顯示狀態(tài)，按一下“CLEAR"鍵，隨著(zhù)一聲?shū)Q響，當前測量值已被刪除。

⊙ 刪除直接方式下的所有測量值、統計值、兩點(diǎn)校準值

在直接方式測量值顯示狀態(tài)下，按二次 “CLEAR" 鍵，隨著(zhù)一聲長(cháng)鳴響，直接方式下的所有測量值、統計值、兩點(diǎn)校準值已被刪除。

⊙ 刪除某組中的所有測量值、統計值、校準值、界限值

  按“ENTER"鍵，操作“"“ "鍵將反顯項目選中在“Delete Files"后再按“ENTER"鍵，進(jìn)入刪除界面，操作“"“ "鍵選擇組號后按“CLEAR"鍵，隨著(zhù)一聲長(cháng)鳴響，該組下的所有測量值、統計值、校準值、界限值已被刪除。

2.2.7 設置限界

a) 按“LIMITS"鍵，顯示以前設置的上限，然后用、 鍵設定新的上限值。

b) 再按“LIMITS"鍵，顯示以前設置的下限，然后通過(guò)、鍵設定新的上限值，

提示: 1. 限界僅在成組方式下有效；

2. 限界以外的測試結果由蜂鳴聲報警；

3. 限界以外的測試結果與其它測試結果一起被存貯并進(jìn)行統計計算。

4. 上限與下限的接近程度是有限的。在上限值為200μm以上時(shí)，上、下限最小接近程度為上限的3%，在上限值為200μm以下時(shí)，上、下限最小接近程度為5μm。

2.2.8 操作一覽表

表3-1                            操作一覽表

鍵   名	功    能	備   注
ZERO	零點(diǎn)校準	3.3.1
LIMIT	設置限界	2.2.7
CLEAR	刪除測試值、統計值、限界、校準值	2.2.6
	數字調節
	開(kāi)、關(guān)機	2.1
+	用于進(jìn)入基本校準狀態(tài)	3.4

*備注欄內給出的標號為本使用說(shuō)明書(shū)中講解本功能的章節。

2.2.9 關(guān)于測量和誤差的說(shuō)明

  ⊙ 如果已經(jīng)進(jìn)行了適當的校準，所有的測量值將保持在一定的誤差范圍內(見(jiàn)附錄1)；

  ⊙ 根據統計學(xué)的觀(guān)點(diǎn)，一次讀數是不可靠的。因此任何由儀器顯示的測量值都是五次"看不見(jiàn)"的測量的平均值。這五次測量是在幾分之一秒的時(shí)間內由測頭和儀器完成的；

  ⊙ 為使測量更加精確，可利用統計程序在一個(gè)點(diǎn)多次測量，粗大誤差用CLEAR刪除，最后覆層的厚度為：

            CH = M+S+δ

     其中:  CH：覆層厚度

            M：多次測量的平均值

            S：標準方差

δ：儀器允許誤差

3 儀器的校準

為使測量準確，應在測量場(chǎng)所對儀器進(jìn)行校準。

3.1 校準標準片（包括箔和基體）

已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片。簡(jiǎn)稱(chēng)標準片。

a) 校準箔

對于磁性方法，“箔"是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對于渦流方法，通常采用塑料箔?！安?有利于曲面上的校準，而且比用有覆蓋層的標準片更合適。

b) 有覆蓋層的標準片

采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結合的覆蓋層作為標準片。對于磁性方法，覆蓋層是非磁性的。對于渦流方法，覆蓋層是非導電的。

3.2 基體

a) 對于磁性方法，標準片基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與待測試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實(shí)標準片的適用性，可用標準片的基體金屬與待測試件基體金屬上所測得的讀數進(jìn)行比較。

b) 如果待測試件的金屬基體厚度沒(méi)有超過(guò)表一中所規定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進(jìn)行校準：

1) 在與待測試件的金屬基體厚度相同的金屬標準片上校準；

2) 用一足夠厚度的，電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標準片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無(wú)間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。

c) 如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準，則有覆蓋層的標準片的曲率或置于校準箔下的基體金屬的曲率，應與試樣的曲率相同。

3.3 校準方法

本儀器有三種測量中使用校準方法: 零點(diǎn)校準、二點(diǎn)校準、在噴沙表面上校準。二點(diǎn)校準法又分一試片法和二試片法。還有一種針對測頭的基本校準。本儀器的校準方法是非常簡(jiǎn)單的。

3.3.1 零點(diǎn)校準

適用于除CN02外的所有的測頭。

a) 在基體上進(jìn)行一次測量，屏幕顯示＜×.×m＞。

b) 按ZERO鍵，屏顯。校準已完成，可以開(kāi)始測量了。

c) 重復上述a、b步驟可獲得更為精確的零點(diǎn)，高測量精度。零點(diǎn)校準完成后就可進(jìn)行測量了。

3.3.2 二點(diǎn)校準

3.3.2.1 一試片法

適用于除CN02外的所有測頭。這一校準法適用于高精度測量及小工件、淬火鋼、合金鋼。

a) 先校零點(diǎn)（如上述）。

b) 在厚度大致等于預計的待測覆蓋層厚度的標準片上進(jìn)行一次測量，屏幕顯示＜×××m＞。

c) 用  鍵修正讀數，使其達到標準值。校準已完成，可以開(kāi)始測量了。

注意: 1. 即使顯示結果與標準片值相符，按 鍵也是的。

例如按一次一次。這一點(diǎn)適用于所有校準方法。

2. 如欲較準確地進(jìn)行二點(diǎn)校準，可重復b、c過(guò)程，以提高校準的精度，

減少偶然誤差。

3. 用F5 和 F10 測頭，測量金屬鍍層時(shí)，應使用兩點(diǎn)校準法校準。

3.3.2.2 二試片法

       適用于除CN02外的所有測頭。兩個(gè)標準片厚度至少相差三倍。待測覆蓋層厚度應該在兩個(gè)校準值之間。這種方法尤其適用于粗糙的噴沙表面和高精度測量。

a) 先校零值。

b) 在較薄的標準片上進(jìn)行一次測量，用 鍵修正讀數，使其達到標準值。

c) 緊接著(zhù)在厚的一個(gè)樣片上進(jìn)行一次測量，用 鍵修正讀數，使其達到標準

值。校準已完成，可以開(kāi)始測量了。

3.3.2.3 在噴沙表面上校準

噴沙表面的特性導致了測量值大大偏離真值，其覆蓋層厚度大致可用下面的方法確定。

方法一：

a) 儀器要用3.3.1或3.3.2.1的方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面校準好。

b) 在未涂覆的經(jīng)過(guò)同樣噴沙處理的表面測量10次左右，得到平均值Mo。

c) 然后，在已涂覆的表面上測量10次得到平均值Mm。

d) （Mm—Mo）±S即是覆蓋層厚度。

其中S（標準偏差）是SMm和SMo中較大的一個(gè)。

方法二：

a) 用直接方式下的單次測量法測量。

b) 先用兩試片法校準儀器。

c) 在試樣上測量5～10次。按STATS鍵，統計值中的平均值即是覆層厚度。

3.3.2.4 銅上鍍鉻層的校準方法

適用于N400、N1和N1/90°測頭，并使用特殊的校準標準片。

    ⊙必須使用一試片法。

    ⊙使用標有“銅上鍍鉻" (CHROME ON COPPER) 字樣的特殊標準片。

3.3.2.5 CN02測頭的校準方法

CN02是一種平展的測頭，僅適用于測量平滑表面的銅板或銅箔的厚度。

a) 開(kāi)機后，將CN02測頭平穩地放在隨機配帶的5.0mm銅塊上，按ZERO鍵，屏幕顯示“OO"；

b) 在標準片上進(jìn)行一次測量；

c) 用 鍵修正讀數，使其達到標準值。校準已完成，可以開(kāi)始測量。

d) 測量雙面覆銅板需用雙面敷銅標準片校準。

說(shuō)明：在溫度變化極大的情況下，如冬季或盛夏在室外操作時(shí)，應在與待測箔厚度接近的標準片上進(jìn)行校準。校準時(shí)的環(huán)境溫度應與使用時(shí)的環(huán)境溫度一致。

注意:

1. 出現下列情況，必需重新校準。

? 校準時(shí)，輸入了一個(gè)錯誤值

? 操作錯誤

? 更換了測頭

2. 在直接方式下，如果輸入了錯誤的校準值，應緊接著(zhù)做一次測量，隨后再做一次校準，即可獲取新值消除錯誤值；

3.  每一組單元中，只能有一個(gè)校準值。

4. 零點(diǎn)校準和二點(diǎn)校準都可以重復多次，以獲得更為精確的校準值，提高測量精度但此過(guò)程中一旦有過(guò)一次測量，則校準過(guò)程便告結束。

3.3.3 修改組FX中的校準值

刪除組單元中的所有數據和校準值之后才能重新校準。否則將出現E20錯誤代碼和鳴響報警。更換測頭后，必須用此方法！

3.4 基本校準的修正

   在下述情況下，改變基本校準是有必要的:

   ____測頭頂端被磨損。

   ____新?lián)Q的測頭。

   ____特殊的用途。

   在測量中，如果誤差明顯地超出給定范圍，則應對測頭的特性重新進(jìn)行校準稱(chēng)為基本校準。通過(guò)輸入 6個(gè)校準值(1個(gè)零和5個(gè)厚度值)，可重新校準測頭。

a) 在儀器關(guān)閉的狀態(tài)下按住   鍵再按鍵，直到一聲長(cháng)鳴，即進(jìn)入基本校準狀態(tài)；

b) 先校零值?？蛇B續重復進(jìn)行多次，以獲得一個(gè)多次校準的平均值，這樣做可以提高校準的準確性；

c) 使用標準片，按厚度增加的順序，一個(gè)厚度上可做多次。每個(gè)厚度應至少是上一個(gè)厚度的1.6 倍以上，理想的情況是2倍。例如: 50、100、200、400、800μm。值應該接近但低于測頭的測量范圍；

注意: 每個(gè)厚度應至少是上一個(gè)厚度的1.6 倍以上，否則視為基本校準失敗。

d) 在輸入 6個(gè)校準值以后，測量一下零點(diǎn)，儀器自動(dòng)關(guān)閉，新的校準值已存入儀器。當再次開(kāi)機時(shí)，儀器將按新的校準值工作。

4 影響測量精度的因素

4.1 影響因素相關(guān)表

表4-1                     影響因素相關(guān)表

測量方法 影響因素	磁性方法	渦流方法
基體金屬磁性質(zhì)	▲
基體金屬電性質(zhì)		▲
基體金屬厚度	▲	▲
邊緣效應	▲	▲
曲率	▲	▲
試樣的變形	▲	▲
表面粗糙度	▲	▲
磁場(chǎng)	▲
附著(zhù)物質(zhì)	▲	▲
測頭壓力	▲	▲
測頭取向	▲	▲

▲ ------  表示有影響

4.2 影響因素的有關(guān)說(shuō)明

a) 基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準。

b) 基體金屬電性質(zhì)

       基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準。

c) 基體金屬厚度

       每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。

d) 邊緣效應

       本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的。

e) 曲率

       試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著(zhù)曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

f) 試件的變形

測頭會(huì )使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。

g) 表面粗糙度

       基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì )引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬沒(méi)有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。

g) 磁場(chǎng)

周?chē)鞣N電氣設備所產(chǎn)生的強磁場(chǎng)，會(huì )嚴重地干擾磁性法測厚工作。

h) 附著(zhù)物質(zhì)

       本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著(zhù)物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

i) 測頭壓力

       測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì )影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。

j) 測頭的取向

       測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。

4.3 使用儀器時(shí)應當遵守的規定

a) 基體金屬特性

       對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

b) 基體金屬厚度

       檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，可采用3.3)中的某種方法進(jìn)行校準。

c) 邊緣效應

       不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進(jìn)行測量。

d) 曲率

不應在試件的彎曲表面上測量。

e) 讀數次數

       通常由于儀器的每次讀數并不相同，因此必須在每一測量面積內取幾個(gè)讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進(jìn)行多次測量，表面粗造時(shí)更應如此。

f) 表面清潔度

       測量前，應清除表面上的任何附著(zhù)物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

5 保養與維修

5.1 環(huán)境要求

嚴格避免碰撞、重塵、潮濕、強磁場(chǎng)、油污等。

5.2 更換電池

本儀器在使用中，當電池電壓過(guò)低時(shí)，即屏幕上的電池標志顯示為空，應盡快給儀器更換電池。更換電池時(shí)應特別注意電池安裝的正負極性的方向。

5.3 故障排除

   下面的錯誤信息表告訴您如何去識別和排除故障：

表5-1                            錯誤信息表

錯誤代號	錯誤代號的含意	原因及解決辦法
E02	測頭或儀器損壞	修理測頭或儀器
E03	測頭或儀器損壞	修理測頭或儀器
E04	測量值發(fā)生大的波動(dòng)(例如在軟覆蓋層上測量時(shí))；磁場(chǎng)影響	在軟質(zhì)覆蓋層上測量時(shí)，應采用輔助裝置進(jìn)行測量；遠離強磁場(chǎng)環(huán)境
E05	開(kāi)機時(shí)測頭離金屬基體太近	測頭遠離金屬基體
E08	測頭或儀器損壞	修理測頭或儀器
E11	測頭型號與本組原有數據對應的測頭型號不符	更換合適的測頭 另選一個(gè)未使用的組單元 刪除后重新校準
E15	零值偏差太大，不能校零	選擇合適的基體或修理儀器
E20	這個(gè)組單元中已有校準值	另選一個(gè)未使用的分組單元                            或刪除后重新校準

如果未顯示錯誤代碼而工作不正常，例如：

a) 儀器不能自動(dòng)關(guān)機；

b) 不能測量；

c) 鍵不工作；

d) 測量值反復無(wú)常。

出現這類(lèi)故障時(shí)， 當用戶(hù)通過(guò)上述方法仍不能排除故障時(shí)，請用戶(hù)不要拆機自修。填妥保修卡后，請將儀器交我公司維修部門(mén)，執行保修條例。

如果能將出現錯誤的情況簡(jiǎn)單描述一下，一同寄出，我們將會(huì )非常感謝您。

6 用戶(hù)須知

一、 用戶(hù)購買(mǎi)本公司產(chǎn)品后，請認真填寫(xiě)《保修登記卡》并請加蓋用戶(hù)單位公章。請將（一）聯(lián)和購機發(fā)票復印件寄回本公司用戶(hù)服務(wù)部，也可購機時(shí)委托售機單位代寄。（二）聯(lián)寄（留）當地分公司維修站辦理登記手續。無(wú)維修站地區請用戶(hù)將（一）、（二）聯(lián)寄回本公司用戶(hù)服務(wù)部。手續不全時(shí)，只能維修不予保修。

二、本公司產(chǎn)品從用戶(hù)購置之日起，一年內出現質(zhì)量故障（非保修件除外），請憑“保修卡"（用戶(hù)留存聯(lián)）或購機發(fā)票復印件與本公司各地的分公司維修站聯(lián)系，維修產(chǎn)品、更換或退貨。保修期內，不能出示保修卡或購機發(fā)票復印件，本公司按出廠(chǎng)日期計算保修期，期限為一年。

三、超過(guò)保修期的本公司產(chǎn)品出現故障，各地維修站負責售后服務(wù)、維修產(chǎn)品，按本公司規定核收維修費。

四、公司定型產(chǎn)品外的“特殊配置"（異型傳感器，專(zhuān)用軟件等），按有關(guān)標準收取費用。

五、凡因用戶(hù)自行拆裝本公司產(chǎn)品、因運輸、保管不當或未按“產(chǎn)品使用說(shuō)明書(shū)"正確操作造成產(chǎn)品損壞，以及私自涂改保修卡，無(wú)購貨憑證，本公司均不能予以保修。

7 附表

附表1                    技術(shù)參數表

測頭型號		F400		F1		F1/90	F5		F10
工作原理		磁    感    應
測量范圍(m)		0～400		0～1250				0～5000	0～10000
低限分辨力(m)		0.1		0.1				1	10
示值 誤差	一點(diǎn)校準(m)	±(3%H+1)						±(3%H+5)	±(3%H+10)
	二點(diǎn)校準(m)	±((1～3)%H+0.7)		±((1～3)%H+1)				±((1～3)%H+5)	±((1～3)%H+10)
測 試 條 件	最小曲率半徑(mm)	凸	1	1.5	平直			5	10
	最小面積的直徑(mm)	3		7	7			20	40
	基體臨界厚度(mm)	0.2		0.5	0.5			1	2

測頭型號		N400			N1	N1/90°	CN02		N10
工作原理		渦    流
測量范圍(m)		0～400		0～1250				10～200	0～10000
低限分辨力(m)		0.1		0.1				1	10
示 值 誤差	一點(diǎn)校準(m)	±(3%H+0.7)		±(3%H+1.5)				±(3%H+1)	±(3%H+25)
	二點(diǎn)校準(m)	±[(1～3%H+0.7)		±[(1～3)%H+1.5]				___	±((1～3)%H+25)
測 試 條 件	最小曲率半徑(mm)	凸	1.5	3		平直		僅為平直	25
	最小面積的直徑(mm)	4		5		5		7	50
	基體臨界厚度(mm)	0.3		0.3		0.3		無(wú)限制	50m鋁箔

注：H——標稱(chēng)值

附表2                    測頭選用參考表  

覆蓋層    基體		有機材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、 塑料和陽(yáng)極化處理等)
		覆蓋層厚度不超過(guò)100m	覆蓋層厚度超過(guò)100m
如鐵、鋼等磁性金屬	被測面積的直徑 大于30mm	F400型測頭  0～400m F1型測頭    0～1250m	F1型測頭    0～1250m F5型測頭    0～5mm F10型測頭   0～10mm
	被測面積的直徑 小于30mm	F400型測頭  0～400m	F1型測頭    0～1250m F400型測頭  0～400m
如銅  、鋁 、黃銅 、鋅 、 錫 等 有色金屬	被測面積的直徑 大于10mm	N400型測頭  0～400m	N400型測頭  0～400m N10型測頭   0～10mm
	被測面積的直徑 小于10mm	N400型測頭  0～400m	N1型測頭    0～1250m N400型測頭  0～400m

測頭選用參考表(續表)

覆蓋層         基體		非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
		覆蓋層厚度不超過(guò)100m	覆蓋層厚度超過(guò)100m
如 鐵、鋼等磁性金屬	被測面積的直徑 大于30mm	F400型測頭  0～400m	F400型測頭  0～400m F1型測頭    0～1250m     F5型測頭    0～5mm F10型測頭   0～10mmm
	被測面積的直徑 小于30mm	F400型測頭  0～400m F1型測頭    0～1250m	F400型測頭  0～400m F1型測頭    0～1250m
如銅 、鋁 、黃銅 、鋅 、 錫 等 有色金屬	被測面積的直徑 大于10mm	僅用于銅上鍍鉻 N400型測頭  0～40m	--------
	被測面積的直徑 小于10mm	--------	--------
塑料、印刷線(xiàn)路非金屬基體	被測面積大	CN200型測頭10～200m	CN200型測頭10～200m

杰出的高技術(shù)產(chǎn)品

令人放心的質(zhì)量

讓您滿(mǎn)意的服務(wù)