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    無(wú)錫市森乾機械量?jì)x有限公司


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    白光干涉儀AE-100M

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    更新時(shí)間:2025-05-07 13:25:35瀏覽次數:1次

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    聯(lián)系人:高女士

    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    白光干涉儀:應用領(lǐng)域包含:玻璃鏡片、鍍膜表面、晶圓、光碟/影碟、精密微機電元件、平面液晶顯示器、高密度線(xiàn)路印刷電路板、IC封裝、材料分析與微表面研究等。

    詳細介紹

    白光干涉儀AE-100M產(chǎn)品用途:
    結合光學(xué)顯微鏡與白光干涉功能的掃描式白光干涉顯微鏡,結合顯微物鏡與干涉儀、不需要復雜光調整程序,兼顧體積小、納米分辨率、易學(xué)易用等優(yōu)點(diǎn),可提供垂直掃描高度達400um的微三維測量,適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測。應用領(lǐng)域包含:玻璃鏡片、鍍膜表面、晶圓、光碟/影碟、精密微機電元件、平面液晶顯示器、高密度線(xiàn)路印刷電路板、IC封裝、材料分析與微表面研究等。

    產(chǎn)品特點(diǎn):
    ● 納米深度3D檢測
    ● 高速、無(wú)接觸量
    ● 表面形狀、粗糙度分析
    ● 非透明、透明材質(zhì)皆適用
    ● 非電子束、非雷射的安全量測
    ● 低維護成本

    專(zhuān)業(yè)級的3D圖形處理與分析軟體(Post Topo):
    ● 提供多功能又具友好界面的3D圖形處理與分析
    ● 提供自動(dòng)表面平整化處理功能
    ● 提供高階標準片的軟件自校功能
    ● 深度、高度分析功能提供線(xiàn)性分析與區域分析等兩種方式
    ● 線(xiàn)性分析方式提供直接追溯ISO定義的表面粗糙度(Roughness)與起伏度
    ● (waviness)的測量分析??商峁┒噙_17種的ISO量測參數與4種額外量測數據(Wafer)
    ● 區域分析方式提供圖形分析與統計分析
    ● 具有平滑化、銳化與數字過(guò)濾波等多種二維快速利葉轉換(FFT)處理功能
    ● 量測分析結果以BMP等多種圖形檔案格式輸出或是Excel文本文件格式輸出

    高速精密的干涉解析軟件(ImgScan):
    ● 系統硬件搭配ImgScan前處理軟件自動(dòng)解析白光干涉條紋
    ● 垂直高度可達0.1nm
    ● 高速的分析算法則,讓你不在苦候測量結果
    ● 垂直掃描范圍的設定輕松又容易
    ● 有10X、20X、50X倍率的物鏡可供選擇
    ● 平臺X、Y、Z位置數字式顯示,使檢測目標尋找快速又便利
    ● 具有手動(dòng)/自動(dòng)光強度調整功能以取得較佳的干涉條紋對比
    ● 具有高精度的PVSI與高速VSI掃描測量模式供選擇
    ● 具有解析算法則可處理半透明物體的3D形貌
    ● 具有自動(dòng)補點(diǎn)功能
    ● 可自行設定掃描方向

    白光干涉儀AE-100M技術(shù)規格參數: 

    型號AE-100M
    移動(dòng)臺(mm)平臺尺寸100*100 ,行程13*13
    物鏡放大倍率10X20X50X
    觀(guān)察與量測范圍(mm)0.43*0.320.21*0.160.088*0.066
    光學(xué)分辨力(μm)0.920.690.5
    收光角度(Degrees)172333
    工作距離7.44.73.4
    傳感器分辨率640*480像素
    機臺重量(kg)/載重kg20kg/小于1kg
    Z軸移動(dòng)范圍45mm , 手動(dòng)細調;可訂制150mm
    Z軸位置數字顯示器分辨力1μm
    傾斜調整平臺雙軸/手動(dòng)調整
    高度測量
    測量范圍100(μm)(400μm ,選配)
    量測分辨力0.1nm
    重復精度≤ 0.1% (量測高度:>10μm)
    ≤10nm(量測高度1μm 10μm)
    ≤ 5nm(量測高度:<1μm>
    量測控制自動(dòng)
    掃描速度(μm/s)12
    光源
    光源類(lèi)型儀器用鹵素(冷)光源
    平均使用壽命1000小時(shí)100W 500小時(shí)(150W)
    光強度調整自動(dòng)/手動(dòng)
    數據處理與顯示用計算機
    處理運算屏幕雙核心以上CPU
    影像與數據顯示屏幕21" 雙晶屏幕
    操作系統Win7
    電源與環(huán)境要求AC100 --240 V 50-60Hz
    環(huán)境振動(dòng)VC-C等級以上
    測量分析軟件
    量測軟件ImgScanImgScan測量軟件:具VSI/ PVSI/PSI 測量模式(PSI量測模式需另選配PSI模塊搭配)
    分析軟件PosTopoISO 粗燥度/階高分析,快速傳利葉轉換和濾波,多樣的2D和3D
    觀(guān)測視角圖,外形/面積/體積分析,圖像縮放、標準影像文件格式轉換
    報表輸出,程序教導測量等。

     


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