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| 顆粒粒度測量技術(shù)的重大發(fā)展 |
天文學(xué)上高靈敏度和高分辨率的成像要求使CCDs得到了最初的發(fā)展。使用麥克公司以CCD為基礎的檢測器，Saturn DigiSizer激光粒度儀在分析過(guò)程中可獲得樣品的光散射圖樣Saturn DigiSizer CCD獲得的高清晰度數字化散射圖樣，包含了形成散射圖案的粒度分布所需的信息。
美國麥克儀器公司的Saturn DigiSizer激光粒度儀應用了CCD以后，就可以不需要使用光學(xué)校準機械微調裝置。該儀器通過(guò)重新測繪CCD陣列而自動(dòng)對齊這樣分配給每個(gè)元素的散射角是確切的，相對于中心不超過(guò)0.005度，而不是散射光束。Saturn DigiSizer激光粒度儀的CCD陣列對散射角的每五度都有超過(guò)130萬(wàn)個(gè)檢測信號。由此產(chǎn)生的高分辨率可檢測散射圖樣的細微差別，因此就能檢測到粒徑分布的細微差別。這些顆粒粒徑上的細微差別顯示了生產(chǎn)過(guò)程的差別，有助研究者支持或駁斥理論的研究，或解釋自然過(guò)程。簡(jiǎn)言之，更高的分辨率意味著(zhù)能更好的判斷樣品的差異。
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| 高分辨率、準確性、重現性的分析結果 顆粒粒度測量技術(shù)在過(guò)去的幾十年里得到了長(cháng)足的發(fā)展，其中一個(gè)最重要的貢獻，是在這一領(lǐng)域中應用了激光技術(shù)，同時(shí)也運用了現代光電探測器和數字電腦處理技術(shù)。一段時(shí)間以來(lái)，激光散射技術(shù)的進(jìn)展使分析速度更快，但是往往由于檢測器的不足，使所獲得的測量數據受到很大的限制。 美國麥克儀器公司認識到需要有更好的檢測能力的檢測器，所以針對性地研發(fā)出了采用激光二極管和一個(gè)現代化的電荷耦合器件（CCD）檢測器相結合的激光散射儀器。
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