產(chǎn)品特點(diǎn)
Signal 單波長(cháng)
X熒光硅含量分析儀
- 采用MWD XRF 單波長(cháng)色散X熒光技術(shù),超低背景
- 檢測下限(LOD)可達0.65 ppm @ 600 s
- 簡(jiǎn)易樣品制備及儀器操作過(guò)程,檢測速度快
- 無(wú)需樣品損耗或轉化,無(wú)需消耗氣體及高溫操作
- 超低維護量,較少的校準頻率
- 體積小巧,可放置于任何實(shí)驗室,即插即用
- 分析器內無(wú)運動(dòng)部件
工作原理
由低功率X射線(xiàn)管發(fā)射出的多波長(cháng)X熒光,經(jīng)個(gè)雙曲面彎晶光學(xué)元件捕獲聚焦,并將具有合適波長(cháng)可以激發(fā)硅元素K層電子的單色X射線(xiàn)照射在裝入樣品盒中的被測樣品上形成小光斑。單色初級束流激發(fā)樣品并發(fā)射次級特性熒光X射線(xiàn),通過(guò)第二個(gè)雙曲面彎晶光學(xué)元件僅收集由硅元素激發(fā)出的波長(cháng)為0.713 nm的Kα X射線(xiàn)熒光,并被一合適的探測器測量,然后用校準方程將其轉換成被測樣品中的硅含量。
符合標準
ASTM D7757-17單波長(cháng)色散x射線(xiàn)熒光光譜法測定汽油及其相關(guān)產(chǎn)品中硅的標準試驗方法
NB/SH/T 0993-2019 汽油及相關(guān)產(chǎn)品中硅含量的測定單波長(cháng)色散X 射線(xiàn)熒光光譜法